胎兒中樞神經系統畸形的遺傳學診斷現狀

黃紅倩,蘇家蓀,覃再隆

作者單位:530023 廣西 南寧,廣西壯族自治區婦幼保健院,廣西兒童醫院,廣西婦產醫院,廣西出生缺陷預防控制研究所,遺傳代謝中心實驗室;廣西生殖健康與出生缺陷防治重點實驗室;廣西遺傳性疾病精準診治重點實驗室

胎兒中樞神經系統(central nervous system,CNS)畸形是由各種因素(如遺傳、環境、藥物等)作用于胚胎,使胚胎在發育過程中出現的中樞神經系統畸形,是導致出生缺陷的一個重要原因。CNS畸形發生率僅次于先天性心臟病,在我國胎兒先天性畸形種類中位于第二,約占全部畸形的20%～25%[1],在活產兒中的發病率為0.14%～0.16%[2]。

CNS畸形可分為顱腦神經系統畸形和腦發育異常。顱腦神經系統畸形包括:脊柱裂、腦積水、無腦畸形、露腦畸形等;腦發育異常包括:全前腦、腦發育不良、Dandy-Walker綜合征、胼胝體發育不全等[3]。產前超聲檢測為胎兒CNS畸形的首選檢查方法,通常在孕早期(≥11周)對胎兒顱腦神經系統畸形進行篩查[4],利用三維和四維超聲可預測胎兒神經功能發育情況[5],磁共振分辨率高,能大幅提高胎兒CNS畸形的診斷率[6-7]。但胎兒CNS畸形的致病機制復雜,環境因素及遺傳因素相關性約占40%[8],遺傳變異是重要因素之一。因此,CNS畸形胎兒的遺傳學研究有助于臨床診斷并指導妊娠結局。目前,國內外對于CNS畸形胎兒的遺傳學診斷,從細胞水平逐漸發展到分子水平。本文對各檢測技術現狀進行綜述,分析各技術手段在胎兒CNS畸形遺傳學病因診斷中的應用價值。

1 胎兒CNS畸形的遺傳學檢查

1.1 CNS畸形的染色體核型分析

染色體變異是導致CNS畸形的重要因素。……