物理光學法在天線問題上的應用探析

趙澤林

摘要：本文通過使用文獻資料法和經驗研究法，以物理光學法的概念綜述作為切入點，從天線罩分析以及天線口面分塊中物理光學法的有效應用展開了深入的研究和分析，以便為今后天線問題中物理光學法的有效應用及范圍拓寬提供相應的借鑒和參考。

關鍵詞：物理光學法;天線問題;應用

1、物理光學法概述

波的傳播和散射在高頻場內存在局部特征的情形下，可以通過給定一個觀察點領域內部的場，并非對整個初始表面的場部分，而是取決于這個表面存在的一個有限部分。而波的傳播和散射從初始表面這個部分到觀察點之間進行的能量傳輸，則是在傳播軌跡附近存在的一個有限體積空間進行的，同時這一軌跡也是幾何光學的射線路徑。故此，平面波的基本特征就是高頻場屬性值局部較低的一個重要表現。而一般情況下，存在于局部場內的波前則被人們視為和射線路徑垂直的平面，場的振幅可以在一個波長量級距離上隨著逐漸的變化而被忽略，高頻場中所存在的高頻波自身出現的實際散失和傳播問題，可以借助幾何光學的分析方式來實現。這里所提及到的幾何光學法就是將均勻媒介中光的直線傳播定律和不同媒介中界面的光線反射和折射定律作為基礎，并且將光視為光能量傳播方向上的幾何線，故此也被人們稱之為射線和光線。通過使用幾何運算的數學方式，對光線的基本傳播規律進行有效的分析，這就是人們經常所說的幾何基本定律。但是這種方式只適用于光的抽象客觀表現研究，并沒有涉及到光線的本質，一般情況下只是在波動光學波長為零情況下的一種近似。而物理光學法則是以幾何光學方法作為基礎而誕生的，是一種能夠將入射電磁場作為基礎來有效計算表面電磁流的一種高頻方式，適合使用在散射結構內部的曲率比入射波長數值相對較高的情況下。

2、天線問題中物理光學法的應用探析

2.1應用在天線罩分析中

物理光學法可以用于研究天線帶有天線罩情況下的輻射特性，并能夠將天線輻射場作為基礎來計算天線罩表面的等效電磁流，隨后將這一計算結果作為出發點更好的計算出遠區場。在實際的應用過程中，主要采用的是口面積分結合表面積分的方式，有效的將天線附近的近區輻射場和遠區輻射場進行計算。而在當前計算機技術快速發展的時代背景下，這一計算化中所需要的計算量問題已經不再是制約這一方法有效應用的因素，這一方式本身具備著較為清晰的物理意義，且操作較為簡便，這一計算方式的使用可以針對任何口面形狀、口面分布的天線口面進行有效的分析，本身具有更為強烈的實用性。在使用物理光學法針對有天線罩的天線進行分析的時候，需要將天線罩內表面上的天線輻射場具體數值進行計算，并且天線罩處于天線的近場區域及其天線輻射場的實際計算公式需要采用進場輻射公式。同時在這個環節中，近場需要將天線坐標系轉化為天線罩坐標系，隨后根據天線罩罩壁的實際傳輸系數，將天線罩外表面上的傳輸場進行有效的計算，將其表面所存在的等效電流以及等效磁流數值進行精準的計算。在此之后，需要在天線罩的外表面上進行表面積分的計算，并將存在天線罩情況下的天線遠區方向圖進行有效的繪制。此后，需要針對天線有罩和無罩情況下的遠區方向圖進行合理的對比，隨后便可以得到在一定掃瞄角狀態下的天線罩瞄準誤差。在得出天線罩的實際瞄準誤差數值之后，通過和掃描角數值進行相比處理，并可得到瞄準誤差斜率。天線發射場在經過天線罩之后的輻射場，是和整個天線罩的結構外形有著較大的關聯。故此，在天線發射場經過天線罩之后的傳輸功率以及單層介質平板中的透射率存在著一定程度的差異，在這種情況下，就可以通過使用物理光學法，將存在天線罩時候的天線遠區場峰值和無罩情況下的遠場峰值數值之比的模數值平方稱為天線發射場通過天線罩的功率傳輸結果。

2.2應用在天線口面分塊中

圖1展示了天線口面的剖分示意圖，在具體的口面剖分過程中需要遵循如下的幾項原則：沿著xa，ya方向從負半軸出發，按照λ/ 4整個天線口面分塊劃分成為正方形分塊。對天線口面分塊之后的每一塊進行面積分計算就是天線口面積分，其中各個場點的電場強度也就是全部分塊在該點所產生的強度數值的總和。對于邊緣區并不呈現正方形的區域來說，仍舊需要對其中的部分區域按照正方形進行積分，其中的部分區域則需要進行舍棄。在舍棄的環節中需要遵循的基本原則是最終分塊邊緣區中心點如果在圓內或邊緣上就算作一個正方形，則需要對其進行面積分，如若中心點在圓外的情況下，則需要對這一區域進行舍棄。通過這種有效增減的方式，可以在有效滿足各種工程精度需要的前提下，有效的開展天線口面處理分析。通過使用物理光學法，可以將天線縱塊的中心點坐標、天線分開的坐標上下線以及天線罩內表面每塊的中心點坐標進行有效的求解。通過使用積分函數方式可以將天線輻射到天線罩內表面上任意分塊的入射場進行有效的求解。其中最為常用的方式是辛撲生積分法，可以很好地將被積函數、積分的上下限和精度數值代入公式之后求解出天線分塊場內的每一點入射場。

3、總結

物理光學法的實際優點就是程序編寫較為簡易，可以更好的展示天線方向圖的具體狀況。本文通過分析物理光學法在天線罩分析以及天線口面分析中的具體應用得出，該種方式能夠有效地得出較為精準的計算結果。物理光學法在天線問題解決過程中占據十分重要的地位，因為天線罩壁自身的幾何外形或者是厚度數值不均勻會導致天線罩出現瞄準誤差，可以通過使用補償方法來有效提高天線罩系統的電磁性能。

參考文獻

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（四川輕化工大學?643002）