糖調節受損患者周圍神經病變的電生理特點及相關因素分析

高路燕，韓倩，蔡增靜，孟慶冕，王洪新

[天津醫科大學第四中心臨床學院（天津市第四中心醫院）神經病學中心，天津 300140]

糖尿病是一種常見的多發的慢性疾病，發病率高，并發癥多，尤其周圍神經病變一旦出現臨床癥狀，將嚴重影響患者生活質量。有研究提出，周圍神經病變不僅出現在糖尿病階段，在糖尿病前期即糖調節受損（impaired glucose regulation, IGR）階段已經存在[1]，早期的診斷及干預，對避免進入不可逆階段有很重要的臨床意義。IGR 階段是否存在周圍神經病變，究竟病變是脫髓鞘為主還是軸索損傷為主，大纖維為主還是小纖維為主，仍存在很大爭議。本課題通過神經電生理檢測觀察IGR 周圍神經病變的特點，并探討其影響因素?，F報道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選取2016年8月—2018年8月天津市第四中心醫院收治的54例IGR 患者作為研究組，另選取同期在該院體檢中心體檢的50例健康志愿者作為對照組。研究組：男性29例，女性25例；年齡38 ～68 歲，平均（48.3±5.6）歲。對照組：男性28例，女性22例；年齡36 ～65 歲，平均（47.6±5.2）歲。兩組年齡和性別比較，差異無統計學意義（P＞0.05）。納入標準： ①符合IGR 診斷標準[1]，診斷標準參照1999年WHO定義，包括空腹血糖調節受損（IFG）：空腹血糖（FBG）6.1 ～6.9mmol/L，2h 餐后血糖（2hPG）≤7.8 mmol/L； 以及糖耐量受損（IGT）：75g 口服葡萄糖耐量試驗（OGTT）2h 血糖7.8 ～11.1mmol/L。②自愿參加本次研究的患者。排除標準：①嗜酒、藥物、結締組織疾病等其他疾病導致的周圍神經病變患者；②隨訪期間不能耐受及退出者。

1.2 方法

采用美國尼高力公司生產的Nicolet EDX 肌電圖儀檢測患者的神經傳導速度，室溫22 ～25℃，對其正中神經……