功能磁共振成像技術在創傷性腦損傷診斷中的應用

伍建林

(大連大學附屬中山醫院 放射科，遼寧 大連 116001)

專家述評 doi:10.11724/jdmu.2016.06.01

功能磁共振成像技術在創傷性腦損傷診斷中的應用

伍建林

(大連大學附屬中山醫院 放射科，遼寧 大連 116001)

隨著社會現代化發展和自然災害的增多，創傷性腦損傷(TBI)發生率呈逐年上升趨勢，而CT和普通MRI檢查常表現為臨床癥狀重與影像學表現輕或陰性等非匹配現象，從而發生誤診和誤治等問題。目前，彌散張量成像(DTI)、磁敏感加權成像(SWI)、靜息態功能磁共振成像(rs-fMRI)、氫質子磁共振波譜(1H-MRS)等功能磁共振成像(fMRI)技術已較成熟地應用于大多數腦疾病診斷中，fMRI可更加敏感、早期和準確地評估與診斷TBI，這將在臨床的精準診斷、有效治療與改善預后等方面發揮重要作用。

創傷性腦損傷；彌漫性軸索損傷；彌散張量成像；磁敏感加權成像；靜息態；磁共振波譜

隨著自然災害與人為事故的頻發，每年大約100/10萬人發生創傷性腦損傷(traumatic brain injury, TBI)，其中70%以上為輕度腦損傷(mild traumatic brain injury, mTBI)[1-2]。美國康復醫學會、腦損傷委員會和輕度腦外傷研究組制定mTBI的診斷標準為:腦外傷后短暫失去意識<30 min；暫時性神經認知功能缺損，對受傷前后短時間內發生事件的失憶和/或暫時性定向障礙<24 h；事故發生時精神狀態變化(眩暈感、無方向感、精神迷亂等)；30 min后格拉斯格昏迷指數(glasgowcoma scale，GCS)為13～15分[1-3]。彌漫性軸索損傷(diffuse axonal injury, DAI)是TBI中特殊類型，死亡率和傷殘率更高，約半數TBI患者CT和常規MRI檢查表現正常，呈臨床癥狀重而影像表現輕或陰性的非匹配現象,常常存在假陰性，導致不能及時有效評估病情和給予及時治療，從而延誤治療最佳時機，造成遠期后遺癥[2-3]。近年來，彌散張量成像(DTI)、磁敏感加權成像(SWI)、靜息態功能磁共振成像(rs-fMRI)、氫質子磁共振波譜(1H-MRS)等功能磁共振成像(functional magnetic resonance imaging, fMRI)技術在常規MR成像基礎上迅速發展并逐漸成熟，對TBI診斷表現出更高的敏感性和準確性，且避免了CT射線輻射問題，為臨床上早期和精準診斷與治療該類患者提供了嶄新的理念和技術方法。

1 TBI病理學及演變

人腦遭受外傷后，剪切力作用于腦實質內微血管導致點狀出血，作用于軸索導致其腫脹、斷裂；傷后12 h至數天可見軸索回縮球形成；部分軸索腫脹可于傷后2～3周消失，最終形成Wallerian變性[4-6]。彌漫性TBI較局限性危害更大，其中最具代表性者為DAI，常累及胼胝體、腦干、皮層下白質及基底節區等長纖維束豐富區，發生率>40%～50%[4]。此外，原發性顱腦創傷后數小時至數周可出現繼發性損傷，包括腦水腫、缺血缺氧性腦損傷、腦功能網絡連接異常及腦組織代謝異常等。