胡慧君 趙寶升 盛立志 鄢秋榮
1)(中國科學院西安光學精密機械研究所瞬態(tài)光學與光子技術(shù)國家重點實驗室,西安 710119)
2)(中國科學院研究生院,北京 100049)
基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng)研究
胡慧君趙寶升1)盛立志1)2)鄢秋榮1)2)
1)(中國科學院西安光學精密機械研究所瞬態(tài)光學與光子技術(shù)國家重點實驗室,西安 710119)
2)(中國科學院研究生院,北京 100049)
(2010年6月29日收到;2010年7月15日收到修改稿)
為進行X射線脈沖星導航的關(guān)鍵技術(shù)研究,搭建了基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng).地面模擬系統(tǒng)由模擬X射線脈沖源、基于微通道板的高靈敏X射線光子探測器、電荷靈敏前放和主放電路、時間測量單元、X射線脈沖輪廓構(gòu)造及X射線脈沖到達時間測量系統(tǒng)組成.該模擬系統(tǒng)可在地面模擬X射線脈沖星導航的星源的強度、周期及脈沖輪廓,實現(xiàn)對X射線脈沖星單光子到達時間的記錄,構(gòu)造X射線脈沖星脈沖輪廓,計算X射線脈沖到達時間.描述了基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng)的組成和工作原理,報道了基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng)的初步結(jié)果.
X射線脈沖星導航,微通道板光子探測器,脈沖輪廓
PACS:97.60.Gb,07.85.-m,07.05.Fb
1982年毫秒脈沖星PSRB1937+21的發(fā)現(xiàn),證明毫秒脈沖星自轉(zhuǎn)頻率非常穩(wěn)定,其頻率穩(wěn)定性足以和現(xiàn)代原子鐘相媲美,可作為一種天體鐘[1],為空間飛行提供導航信標.基于X射線脈沖星的自主導航方法是一種新型航天器自主導航技術(shù),該技術(shù)通過探測深空脈沖星的X射線脈沖進行精確的位置計算,實現(xiàn)航天器高精度自主導航和運行管理,不需要地面站的支持.2003年Sheikh等[2]初步論證了基于X射線脈沖星的航天器自主高精度軌道確定的可行性,掀起了X射線脈沖星導航研究的熱潮,2004年美國國防部國防高級研究計劃局(DARPA)啟動了“基于X射線源的自主導航定位”研究計劃.X射線脈沖星導航的關(guān)鍵技術(shù)之一是研制具有單光子分辨能力的X射線光子計數(shù)探測器.目前已知的X射線探測器有正比計數(shù)器、微通道板(MCP)、電荷耦合器件(CCD)及量熱計型X射線探測器.決定X射線脈沖星導航精度的因素是脈沖到達時間的測量誤差,而MCP相比于其他類型的探測器響應時間快,可達納秒量級,時間分辨率高,可達幾十皮秒量級,完全滿足X射線脈沖星導航系統(tǒng)的時間分辨需求.另外,對于在軌運行的探測器,使用壽命是值得考慮的一個重要因素.正比計數(shù)器由于真空中漏氣,CCD易被地球周圍的粒子流損壞,量熱計受所能攜帶的制冷劑的數(shù)量的限制,有效使用壽命受限,而MCP可避免這些不利因素,有效使用壽命較長[3].再則,MCP探測器技術(shù)相對成熟、信噪比高、探測靈敏度高、背景噪聲低、速度快、動態(tài)范圍寬.因此,選用MCP探測器搭建了X射線脈沖星導航地面模擬系統(tǒng),用以研究X射線脈沖星導航的關(guān)鍵技術(shù),如X射線探測器的標定、脈沖相位的測量、脈沖到達時間(TOA)的確定及導航算法的驗證等.
本文詳細介紹了基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng)的組成和工作原理,報道了該模擬系統(tǒng)的初步實驗結(jié)果,對影響脈沖輪廓信噪比的因素進行了分析.
基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng)的組成如圖1所示.圖1(a)為系統(tǒng)原理圖,圖1(b)為實物圖,主要由X射線脈沖輻射源、X射線光子計數(shù)探測器、電子讀出系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理四部分組成.

圖1 基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng) (a)原理圖,(b)地面模擬系統(tǒng)實物圖
模擬X射線脈沖源主要由X射線球管、斬波器及相應的低壓、高壓電源組成.X射線球陰極接負高壓,陽極接地.燈絲附近裝有控制柵,使燈絲發(fā)出的熱電子在電場的作用下聚焦轟擊靶面.當燈絲通電加熱至高溫時,大量的熱電子產(chǎn)生,在極間高壓作用下高速轟擊靶面使其動能部分轉(zhuǎn)變?yōu)檩椛淠埽訶射線的形式釋放.在X射線球管出口放置斬波器,在一定轉(zhuǎn)速下將連續(xù)光調(diào)制成一定頻率的周期性脈沖光.X射線球管產(chǎn)生能譜為1—10 keV的X射線,基本覆蓋了X射線脈沖星輻射的能譜范圍,斬波器將連續(xù)的X射線輻射調(diào)制為周期為1.5—300 ms脈沖輻射.

圖2 基于MCP的光子計數(shù)探測器 (a)示意圖,(b)實物圖

圖3 軟X射線透過率曲線 (a)25 μm聚酰亞胺對軟X射線透過率曲線,(b)1 μm聚酰亞胺對軟X射線透過率曲線,(c)50 nm Al膜對軟X射線透過率曲線
圖2為基于MCP的光子計數(shù)探測器示意圖和基于MCP的光子計數(shù)探測器實物圖.基于MCP的X射線光子計數(shù)探測器由輸入窗、光電陰極、MCP和位敏陽極組成.由于X射線脈沖星輻射能譜集中在1—10 keV的軟X射線波段,常用的石英玻璃窗、鋁窗對軟X射線的透過率很低,為保證探測器的靈敏度滿足探測要求,必須選擇合適的輸入窗材料.文獻[4]報道了聚酰亞胺材料對1—10 keV的軟 X射線的透過率很高,且能有效地吸收1 keV以下的射線.目前選用了25 μm的聚酰亞胺材料作為輸入窗,其透過率如圖3(a)所示[5].由圖3(a)可以看出,25 μm的聚酰亞胺對1—2 keV的X射線透過率不到0.3,而脈沖星的X射線輻射在1—2 keV范圍最強.為提高1—2 keV能譜范圍X射線的透過率,下一步考慮制作1 μm左右的聚酰亞胺輸入窗,其透過率如圖 3(b)所示[5],在1—2 keV透過率為0.5—0.9之間.但是1 μm的聚酰亞胺在200 eV附近透過率較大,接近0.4.為能有效屏蔽掉這部分射線,可在聚酰亞胺上蒸鍍50 nm的Al膜,如圖3(c)所示[5],其透過率在200 eV處接近0.X射線脈沖星導航的關(guān)鍵技術(shù)之一就是獲取高信噪比的X射線脈沖輪廓,以提高脈沖TOA的精度,這就要求探測器系統(tǒng)提供高信噪比輸出信號,對于基于MCP的X射線光子計數(shù)探測器,提高信噪比的關(guān)鍵技術(shù)之一就是高量子效率的光電陰極研制.采用CsI作為軟X射線的光電陰極,文獻[6]對CsI光電陰極與 Au光電陰極在軟X射線波段的量子效率進行了比較,在2—10 keV波段,Au光電陰極的量子效率在0.02—0.08之間,而平板 CsI光電陰極的量子效率大于1,在1—2之間,更利于提高信噪比,因此采用CsI作為軟 X射線光子計數(shù)探測器的光電陰極. MCP是一種大面陣的高空間分辨的電子倍增探測器,并具備非常高的時間分辨率.三塊“Z”型堆疊的MCP可提供106—107的電子增益,因此 MCP適于極微弱的X射線脈沖星脈沖輻射的探測.微通道板作為電子倍增系統(tǒng),其渡越時間約1 ns,渡越時間彌散約15 ps,響應時間非常短,時間分辨率非常高,滿足X射線脈沖星導航光子計數(shù)探測器對時間響應和時間分辨率的要求.位敏陽極作為MCP輸出的二次倍增電子的接收電極,可同時獲取入射光子的二維位置信息和時間信息,不僅可以測量X射線脈沖的TOA,還可以同時獲取 X射線脈沖源的影像信息.
電子讀出系統(tǒng)由電荷靈敏前放與成形主放、峰值定時與保持電路和基于FPGA(field programmable gate array)的時間測量單元組成.從陽極輸出的信號是單個光電子脈沖,脈沖前沿約為4 μs,而后沿卻很慢,且幅值很小,約十幾個毫伏,這種信號不適合后續(xù)處理,需要通過電荷靈敏前放將電荷信號轉(zhuǎn)化為電壓信號[7].電荷靈敏放大器的基本原理如圖4所示,其中A為集成運算放大器,Cf是反饋電容,Rf是反饋電阻,C為耦合電容,RD是探測器偏置電阻.假設(shè)從陽極輸出的電荷量為 QD,根據(jù)電路知識可知,輸出脈沖的幅值Vout為[8]

經(jīng)過電荷靈敏前放轉(zhuǎn)換得到的電壓信號,其前沿仍然很陡,且為消除電荷靈敏前放的脈沖堆積效應,仍需要采用極零相消和成形放大電路,對電荷靈敏前放輸出信號做進一步處理,使其為準高斯波形,便于后續(xù)采樣和處理.如圖5所示為位敏陽極輸出的原始信號和經(jīng)過電荷靈敏前放及成形主放處理后的信號波形圖.

圖4 電荷靈敏前放原理圖

圖5 原始信號及經(jīng)前放和成形主放處理后的波形圖 (a)陽極輸出原始信號波形圖,(b)經(jīng)前放和成形主放處理后的波形圖
圖6為峰值定時與保持電路的原理框圖.高速比較器1作為鑒別器,用以去除低于閾值的噪聲信號.高速比較器2,采樣保持芯片和單穩(wěn)態(tài)芯片完成峰值定時和保持功能,在輸入信號未到達峰值前,采樣保持芯片的輸出與輸入信號僅僅存在一個時間延遲,其輸出被饋入高速比較器2與輸入信號作比較,其功能與恒比定時器一致,只是這里的比例為1,定時點對應于輸入信號的峰值而已.當輸入信號到達峰值時,高速比較器2輸出的定時信號經(jīng)單穩(wěn)態(tài)芯片整形為一寬度為4 μs的脈沖信號,供后續(xù)的時間測量單元使用,同時單穩(wěn)態(tài)芯片輸出的控制信號1使采樣保持芯片的輸出保持峰值,控制信號2通過泄放電路來控制保持時間,供后續(xù)的位置解碼單元使用.圖7為峰值定時與保持電路的輸出信號波形圖.圖7(a)為輸入信號,圖7(b)為峰值保持信號,在輸入信號未到達峰值時與輸入信號一致,輸入信號到達峰值時,將峰值保持4 μs.圖7(c)為峰值定時信號,在輸入信號的峰值時刻輸出寬度為4 μs的脈沖信號,其上升沿與輸入信號的峰值時刻一致.基于FPGA的時間測量單元記錄每個峰值定時信號相對采集起點的時間,采集結(jié)束后轉(zhuǎn)化為X射線光子的絕對TOA.

圖6 峰值定時與保持電路原理框圖

圖7 峰值定時與保持電路的輸出信號波形圖 (a)輸入信號,(b)峰值保持信號,(c)峰值定時信號

圖8 單光子輻射原始波形圖
數(shù)據(jù)處理單元主要完成X射線脈沖輪廓的構(gòu)造及脈沖TOA的計算.由于X射線脈沖星的X射線脈沖輻射非常微弱,短時間內(nèi)無法獲取X射線脈沖輪廓,為了得到X射線脈沖輪廓,必須進行長時間的采集.將足夠長時間采集得到的 X射線光子TOA數(shù)據(jù)按照脈沖周期分成M份,每一周期又均分成N份,每一份稱為一個Bin,一個Bin實際對應一個特定的相位,每個Bin內(nèi)可能有光子,也可能沒有光子,最后把M個周期中所有的Bin按照等相位原則疊加到一個周期中,統(tǒng)計疊加后每個 Bin中的光子數(shù),就得到了 X射線脈沖輪廓[9].當然對實際的X射線脈沖星,在構(gòu)造脈沖輪廓時還需要考慮達到時間轉(zhuǎn)換[10]及脈沖周期隨時間演化的影響[11].把測量得到的X射線脈沖輪廓與已知的X射線脈沖輪廓預測模型相比較就可計算出X射線脈沖 TOA[12,13].
實驗中,將X射線脈沖源調(diào)制周期為150 ms,主峰與次峰間隔為1/4周期,X射線源強度通過改變X射線發(fā)生器的控制電壓、電流及X射線源至探測器的距離來改變,通過示波器觀察光電脈沖信號,將其調(diào)至單光電子脈沖狀態(tài),如圖8所示.單光子脈沖信號經(jīng)過電子讀出系統(tǒng)記錄每個單光子電脈沖信號TOA,最后通過X射線脈沖輪廓的構(gòu)造原理重現(xiàn)X射線脈沖輪廓.實驗分析了影響累積脈沖輪廓信噪比的三個因素.
圖9為不同累積時間獲取的累積脈沖輪廓圖,讀出系統(tǒng)的采樣間隔為0.2 ms,Bin的大小為1 ms.可以看出隨著累積時間的增長,累積脈沖輪廓的波形趨于光滑,主次峰強度逐漸可以區(qū)分,噪聲的影響逐漸削弱,信噪比逐漸提高.X射線脈沖信號非常微弱,呈現(xiàn)單光子狀態(tài),單個光子的到達時間是隨機事件,由于X射線脈沖信號具有周期性,大量的光子到達時間的統(tǒng)計分布是確定的,即特定相位占有光子的概率是確定的,但是噪聲光子的到達時間不滿足這樣的統(tǒng)計規(guī)律,因此只要經(jīng)過足夠長時間的積分,信號得以加強,噪聲相對得以抑制,就能獲取高信噪比累積脈沖輪廓.決定X射線脈沖星導航精度的關(guān)鍵技術(shù)之一就是脈沖到達時間的測量精度,而脈沖到達時間測量精度決定于累積脈沖輪廓的信噪比,如下所示[14]:其中Fx為X射線光子流量,A為探測器面積,Pf為脈沖信號輻射相對脈沖星總輻射的比值,Bx為X射線背景輻射流量,tobs為觀測時間長度,d為占空周期,可以表示為脈沖寬度W與脈沖周期P之比,即d=W/P,Npul為脈沖星輻射脈沖部分光子數(shù),Nnon-pul為占空周期d內(nèi)脈沖星輻射非脈沖部分的光子數(shù),NB為占空周期d內(nèi)背景輻射的光子數(shù).由(2),(3)式可知導航定位測距誤差反比于累積脈沖輪廓的信噪比,而由(4)式可知累積脈沖輪廓的信噪比與累積時間成正比,為滿足特定的導航精度必須有足夠長的累積時間,但是累積時間也不能過長,累積時間過長會影響導航的實時性,因此累積時間的選取必須在精度和實時性間折中考慮.


圖9 不同積分時間的累積脈沖輪廓圖 (a)累積時間15 s,(b)累積時間150 s,(c)累積時間450 s
圖10為不同 Bin大小的累積脈沖輪廓圖,采樣間隔均為0.2 ms,累積時間均為450 s.三圖相比較,圖10(a)中脈沖輪廓波形毛刺現(xiàn)象嚴重,波形曲線不光滑,信噪比低;圖10(c)雖然波形相對比較光滑,但是卻丟失了脈沖輪廓的部分細節(jié)信息;圖10(b)累積脈沖輪廓的效果較好.由此可見,在構(gòu)造X射線脈沖輪廓時,Bin存在一個最佳值,如果Bin太小,一個 Bin內(nèi)信號光子的數(shù)目相對減小,噪聲光子的影響相對增強,信噪比下降,如果Bin太大,獲得的數(shù)據(jù)點就會減少,脈沖輪廓的細節(jié)就會丟失.

圖10 不同Bin大小時的累積脈沖輪廓圖 (a)Bin大小為0.5 ms,(b)Bin大小為2 ms,(c)Bin大小為5 ms
圖11為將電子讀出系統(tǒng)的時間分辨設(shè)置為不同值時獲取的累積脈沖輪廓圖,積分時間均為450 s.可以看到隨著讀出系統(tǒng)時間間隔的增大,累積脈沖輪廓的信噪比下降,主峰高度依次為 450, 180,98,次峰高度依次為350,120,68.電子讀出系統(tǒng)時間間隔增大,就會丟失部分光子信息,使整個探測系統(tǒng)的探測效率降低,進而降低累積脈沖輪廓的信噪比.因此,X射線脈沖光子計數(shù)探測系統(tǒng)必須具有足夠高的時間分辨能力,以提高系統(tǒng)的探測效率.

圖11 不同采樣間隔時的累積脈沖輪廓圖 (a)采樣間隔為0.6 ms,(b)采樣間隔為1 ms
搭建了基于X射線脈沖星導航的地面模擬系統(tǒng),實現(xiàn)了X射線脈沖星輻射源的模擬,X射線單光子計數(shù)探測,完成了X射線脈沖輪廓的構(gòu)造,依據(jù)TOA算法可實現(xiàn)X射線脈沖到達時間的測量.分析了影響累積脈沖輪廓信噪比的三個因素:累積時間、Bin的大小及采樣間隔.為滿足特定導航精度要求,必須選擇合適的累積時間及Bin的大小,減小采樣間隔以提高系統(tǒng)對單光子事件探測效率.該系統(tǒng)對于開展X射線脈沖星導航核心技術(shù)攻關(guān)和相關(guān)理論研究具有重要意義.下一步將對X射線探測器的靈敏度進行標定,降低探測系統(tǒng)的噪聲,提高探測器的靈敏度,改進電子讀出系統(tǒng)方案,提高時間分辨率.
感謝中國科學院國家授時中心的陳鼎、楊廷高、蔡紅兵,中國科學院西安光學精密機械研究所光電子學研究室賽小鋒、韋永林、劉永安、陳寶梅等同志的大力支持與指導.
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PACS:97.60.Gb,07.85.-m,07.05.Fb
A simulation experiment system for X-ray pulsar based navigation
Hu Hui-JunZhao Bao-Sheng1)Sheng Li-Zhi1)2)Yan Qiu-Rong1)2)
1)(State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics,Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Xi’an 710119,China)
2)(Graduate University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China)
29 June 2010;revised manuscript
15 July 2010)
A simulation experiment system for X-ray pulsar based navigation is setup in order to study the key technologies of X-ray pulsar navigation.The system consists of X-ray pulsar source generator,super sensitive X-ray photon counting detector,charge sensitive amplifier,shaping amplifier,time measurement,X-ray pulse profile reconstruction and pulse time of arrival(TOA)measurement.The system can simulate the X-ray pulsar source with different intensities,period and pulse profile.The TOA of individual X-ray photon is recorded,the pulse profile is reconstructed with these data.And by comparing the measured pulse profile with the standard pulse profile of the X-ray pulsar source generator,the pulse TOA is calculated.The construction and the principle of the simulation experiment system are introduced and experiment results are presented.
pulsar navigation,micro-channel plate photon counting detector,pulsar profile