摘要 用熔融法結合放電等離子快速燒結技術(SPS)制備出單相的銦填充p型Skutterudite化合物 InyFexCo4-xSb12。Rietveld精確化結果表明:所制備的InyFexCo4-xSb12化合物具有Skutterudite結構;與CoSb3相比,InyFexCo4-xSb12化合物的Sb-Sb鍵長增加,說明In原子填充進入了Skutterudite結構中的Sb二十面體空洞;In的原子位移參數比框架原子Sb、Fe/Co的大,說明In在空洞中具有擾動效應。熱電性能測試結果表明:隨著In原子填充量的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的電導率減小、Seebeck系數增加、熱導率降低, In0.29Fe1.30Co2.70Sb12化合物在725K時具有最大的熱電性能指數ZTmax值(0.71)。
關鍵詞 In填充,Skutterudite化合物,結構,熱電性能
1引 言
填充式Skutterudite化合物由于具有電子晶體聲子玻璃的特征,受到了人們極大的關注,并被認為是一類具有潛在應用前景的熱電材料[1~3]。Skutterudite化合物(通式為AB3,其中A=Co、Rh或Ir,占據8c位置;B=P、As或Sb,占據24g位置)為體心立方晶格(空間群為Im3),每個單位晶胞中存在兩個較大的Sb二十面體空洞,可以填入外來原子而不改變其晶體結構。由于填充原子與鄰近原子結合松馳,在其平衡位置具有擾動效應并對聲子產生強烈的散射,從而可降低Skutterudite化合物的晶格熱導率,提高其熱電性能指數[4]。人們已經研究了填充不同元素對Skutterudite化合物熱電性能的影響,其中以In和Ba分別填充的n型Skutterudite化合物In0.22Co4Sb12、Ba0.3Ni0.05Co3.95Sb12的熱電性能指數ZT值都達到了1.2[6,7],以Ce填充的p型Skutterudite化合物Ce0.28Fe1.52Co2.48Sb12的ZT值達到了1.1[8],由于在設計熱電器件時同時需要n型和p型熱電材料,所以需要研制出具有更高ZT值的p型熱電材料。由于尚未有文獻報道In填充對p型Skutterudite化合物熱電性能的影響,所以本論文試圖用熔融法結合放電等離子快速燒結技術(SPS)來制備單相銦填充的p型Skutterudite化合物,然后通過結構解析來證明In原子填充進了Skutterudite化合物晶體結構中的空洞并具有擾動作用,最后研究了In原子部分填充對Skutterudite化合物熱電傳輸性能的影響。
2實驗
起始原料使用高純顆粒狀的In(99.99%)、Fe(99.99%)、Co(99.96%)和Sb(99.9999%)。將上述金屬元素按InyFexCo4-xSb12(x=1.3,y=0~0.4)的化學計量比稱重后置于內壁預先沉積碳膜的石英管中,石英管在真空條件下密封后置入熔融爐內,以2℃/min的速度緩慢加熱到1100℃,熔融24h后將熔體在水浴中快速冷卻,冷卻得到的塊體材料取出粉碎、酸洗、壓實,再次封入真空石英管中,于973K下進行擴散反應168h。反應后的產物再次被粉碎后,用放電等離子快速燒結方法(SPS)于真空下燒結,燒結溫度和時間分別為630℃和600s,得到的燒結體相對密度約為98%。
燒結后試樣的相組成通過X射線衍射法(荷蘭 PANalytical X'Pert Pro型衍射儀)確定;部分試樣進行慢掃,衍射步寬為0.01°,計數時間為16s,然后用GSAS程序對其所得數據進行Rietveld結構解析;試樣的實際組成用誘導耦合等離子(ICP-AES)發光分析法確定;電導率σ和Seebeck系數α在熱電測試系統ZEM-1上同時測定;使用激光微擾法(TC-7000)測試試樣的熱容(Cp)和熱擴散系數(λ),熱導率通過公式κ=Cpλ?籽(?籽為密度)進行計算,測試溫度在300~800K。
3結果與討論
3.1 InyFexCo4-xSb12的相組成和晶體結構
圖1為各試樣燒結后的XRD圖譜,從圖中可以看出:所制備試樣都具有CoSb3化合物的衍射特征峰,說明均為單相。
為了進一步確定In原子是否填充進了Skutterudite化合物晶體結構中的空洞,以及填充后是否具有擾動效應,根據部分試樣的寬角度X射線衍射數據,對其進行了Rietveld結構解析。以In0.29Fe1.30Co2.70Sb12為例,圖2、表1和表2分別為所得到的結構精修結果。
圖2所示的是In0.29Fe1.30Co2.70Sb12化合物精修得到的全譜擬合結果,試樣In029Fe1.30Co2.70Sb12的X射線衍射實測譜線與CoSb3的理論模擬曲線吻合,表示該化合物具有Skutterudite結構。
表1所示為精修后得到的In0.29Fe1.30Co2.70Sb12化合物中的一些重要結合鍵的鍵長。與CoSb3相比,In0.29Fe1.30Co2.70Sb12化合物中的Sb-Sb長鍵和Sb-Sb短鍵的鍵長都有所增加,這說明In原子填充進了Skutterudite化合物晶格中的Sb二十面體空洞,造成晶格膨脹,使Sb-Sb鍵拉長。
表2所示為精修后得到的In0.29Fe1.30Co2.70Sb12化合物中各原子的位置及位移參數。比較各原子的位移參數,可以發現填充原子In的位移參數遠遠大于框架原子Fe/Co、Sb,說明In在Sb二十面體空洞中受到的束縛較弱,在其平衡位置具有擾動作用,這種擾動會對聲子產生強烈的散射,從而降低Skutterudite化合物的晶格熱導率。
3.2 InyFexCo4-xSb12的電性能
圖3為InyFexCo4-xSb12化合物的電導率與溫度的關系。在Fe置換量x相近的情況下,隨著In填充量y的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的電導率下降,特別是在 n填充量達到0.29之后,電導率大幅度降低。在測試溫度范圍內,In填充量較小時,InyFexCo4-xSb12化合物的電導率先隨溫度的升高而降低,達到一定溫度后又隨溫度的升高而增加,隨著In填充量的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的電導率變為隨溫度的升高而增加,表現出明顯的半導體特征。
圖4為InyFexCo4-xSb12化合物的Seebeck系數與溫度的關系。在Fe置換量x相近的情況下,隨著In填充量y的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的Seebeck系數增大。在測試溫度范圍內,所有試樣的Seebeck系數都先隨著溫度的升高而增加,達到最大值后再隨溫度的升高而下降。
3.3 InyFexCo4-xSb12的熱性能
圖5所示為In填充量和溫度對InyFexCo4-xSb12化合物熱導率的影響。在測試溫度范圍內,所有試樣的熱導率先隨著溫度升高而降低,這是由于聲子的散射隨著溫度的升高而增強。達到最低值后,又隨著溫度的升高而增加,這是因為在高溫下,一方面光子參與熱傳導導致晶格熱導率增加,另一方面InyFexCo4-xSb12化合物的電導率隨著溫度的升高而增加,從而載流子熱導率(κc=LσT,式中L是Lorenz常數, σ是電導率,T是絕對溫度)也隨著溫度的升高而增加。在Fe置換量x相近的情況下,隨著In填充量y的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的熱導率下降, In填充量為0.29時,熱導率最低,之后隨著In填充量的增加,熱導率又增大。
3.4 InyFexCo4-xSb12的熱電性能指數
圖6是根據實測的電導率σ、Seebeck系數α和熱導率κ,用公式 ZT=α2σT/κ計算出來的InyFexCo4-xSb12化合物的無量綱熱電性能指數ZT。從圖中可以看出:在Fe置換量x相近的情況下,隨著In填充量y的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的ZT值增加。試樣In0.29Fe1.30Co2.70Sb12在725K時具有最大的ZT值0.71,與未填充的Fe1.27Co2.73Sb12相比(其最大ZT值為0.37),ZT值提高了約92%。
4 結 論
(1) Rietveld結構解析表明:InyFexCo4-xSb12化合物具有Skutterudite結構,與未填充的Skutterudite化合物相比,InyFexCo4-xSb12化合物的Sb-Sb鍵長增加,這說明In原子填充進了Skutterudite化合物結構中的Sb二十面體空洞;In原子的位移參數遠遠大于框架原子Sb、Fe和Co,表明填充原子In在Sb二十面體空洞中具有擾動效應。
(2) 隨著In原子填充量的增加,InyFexCo4-xSb12化合物的電導率減小、Seebeck系數增加、熱導率降低;所有試樣中,具有適中Seebeck系數和最低熱導率的試樣In0.29Fe1.30Co2.70Sb12顯示出最大的ZT值,在725K時為0.71,與未填充的Fe1.27Co2.73Sb12相比,ZT值提高了約92%。
參考文獻
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