2016年3期
刊物介紹
本刊是一份由信息產(chǎn)業(yè)部主管、信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所主辦、中國電子學(xué)會可靠性分會協(xié)辦的可靠性研究專業(yè)刊物，1962年創(chuàng)刊，國內(nèi)外公開發(fā)行。本刊是行業(yè)中最有權(quán)威性的可靠性學(xué)術(shù)、技術(shù)類科技期刊，發(fā)行分布面廣，覆蓋了電子、航空、航天、造船、兵器、鐵路、教育等多個行業(yè)與部門，為提高我國軍工電子產(chǎn)品可靠性作出了重大的貢獻；同時，隨著可靠性技術(shù)在民用生產(chǎn)中起著越來越重要的作用，本刊也成為越來越多企業(yè)和技術(shù)人員的良師益友。
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗
專家論壇 （2016年03期）
- 電子產(chǎn)品可靠性試驗中冷浸及冷設(shè)計方法探討
- 2016年中國賽寶實驗室質(zhì)量與可靠性培訓(xùn)計劃
- 工業(yè)和信息化部電子第五研究所獲“國家衛(wèi)星導(dǎo)航及應(yīng)用產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心”授權(quán)
- 本刊參展“第四屆中國電子信息博覽會（CITE2016）”
- 云計算進入應(yīng)用迅速普及階段
- 《電子電器產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用管理辦法》實施宣貫會在北京、廣州召開
- 工業(yè)和信息化部電子第五研究所發(fā)布六性協(xié)同工作平臺CARMES 7.0版
- 《電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性試驗》雜志2012、2013年增刊出版和征訂信息
- 美開發(fā)可由發(fā)射管發(fā)射的“三叉戟”TL無人機
- 電磁脈沖對MMIC電路中MIM電容的損傷分析
- CBGA器件焊點溫度循環(huán)失效分析
- 一種嵌入式電阻器宇航適用性研究
- 改善微波功率器件可靠性的方法
- 專業(yè)領(lǐng)域軟件的代碼審查方法研究
- 恒定溫度應(yīng)力下的模擬IC加速退化試驗研究
- 機電產(chǎn)品可靠性自然增長檢驗方法研究
- 測試性試驗的FMECA方法研究
- 利用實測數(shù)據(jù)制定可靠性試驗剖面綜述
- 基于失效物理的可靠性仿真技術(shù)及軟件設(shè)計
- 《萬能角度尺檢定規(guī)程》若干問題的探討