我國電子元器件國軍標(biāo)體制必須改革

鄭鵬洲

（北京航空航天大學(xué)可靠性與系統(tǒng)工程學(xué)院，北京　100191）

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專家論壇

我國電子元器件國軍標(biāo)體制必須改革

鄭鵬洲

（北京航空航天大學(xué)可靠性與系統(tǒng)工程學(xué)院，北京100191）

電子元器件國家軍用標(biāo)準(zhǔn)對于提高和保證軍用電子元器件的可靠性具有重要的作用。但是，由于目前我國軍用標(biāo)準(zhǔn)體制還不夠完善，因此我國國軍標(biāo)中存在的某些問題沒法得到及時的修正，從而給軍用電子元器件可靠性工作帶來了不小的困惑，甚至是損害。列舉了國軍標(biāo)體制的一些缺陷，并從可靠性理論角度分析了其對電子元器件可靠性工作的損害。此外，還為國軍標(biāo)體制的改革方向提出了一些思路。

電子元器件；可靠性；國軍標(biāo)；體制；改革

0　引言

眾所周知，軍用標(biāo)準(zhǔn)化對于提高武器裝備的質(zhì)量和水平具有重要的作用，因此一直受到了我國相關(guān)部門的高度重視。

電子元器件國家軍用標(biāo)準(zhǔn) （以下簡稱國軍標(biāo)），對于提高、保證我國軍用電子元器件的可靠性和先進性具有重要的作用，并一直有嚴(yán)格的規(guī)章制度檢查、督促其貫徹執(zhí)行，但是，目前我國國軍標(biāo)體制還不夠完善，從而在一定程度上影響了我國國軍標(biāo)的進一步改進和發(fā)展。

因此，本文討論了我國國軍標(biāo)體制存在的缺陷，并探討了這些缺陷給軍用電子元器件的發(fā)展帶來的困惑，甚至損害。由此得出結(jié)論：我國現(xiàn)行的國軍標(biāo)體制必須作出重大的改革。

本文研究的內(nèi)容是否應(yīng)該推廣到更多的軍用物資范圍的國軍標(biāo)體制，則不是本文研究的內(nèi)容。

1　22年前由于國軍標(biāo)缺陷造成重大損失的一個實例

22年前，即1994年，由于我國國軍標(biāo)的缺陷所造成的軍用電子元器件檢測、試驗單位的重大經(jīng)濟損失的事件，驚動了國防科工委的領(lǐng)導(dǎo)。這個實例不僅說明了我國國軍標(biāo)的缺陷的影響很大，而且也說明了其有缺陷的體制根深蒂固，改進甚難。

眾所周知，GJB 548《微電子器件試驗方法和程序》是一項重要的國軍標(biāo)。其試驗項目全面、內(nèi)容豐富、可操作性強，一直是我國軍用微電子器件生產(chǎn)和使用部門檢驗產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的一把尺子。該標(biāo)準(zhǔn)基本上是參照美國軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883《TEST METHODS AND PROCEDURES FOR MICROELECTRONICS》編寫的。

GJB 548［1］第一版頒布于1988年，在其總則部分 （原文無此名稱）規(guī)定：對微電子器件進行試驗的“試驗環(huán)境”的溫度要求為25（+3，-5）℃，即為20～28℃，這個規(guī)定顯然是錯誤的。

事實上，對試驗環(huán)境，包括力學(xué)試驗和氣候試驗的場所，上述嚴(yán)格的溫度要求是完全沒有必要的。例如：氣候試驗環(huán)境只需要氣候試驗箱內(nèi)的溫度等試驗條件能滿足試驗要求就足夠了，至于試驗箱外的 （環(huán)境）溫度只要保證試驗箱能正常工作即可，一般為10～35℃，甚至可以更放松些。這是因為這類實驗室的面積很大，要達到國軍標(biāo)規(guī)定的上述不合理的高要求顯然耗資巨大，而且完全沒有必要。

如上所述，與國軍標(biāo)GJB 548密切相關(guān)的是美軍標(biāo)MIL-STD-883。那么美軍標(biāo)中為什么會作出這樣耗資巨大且無必要的規(guī)定呢？為此，作者特意查閱了美軍標(biāo)原文，發(fā)現(xiàn)“試驗”對應(yīng)的原文是“test”。英語“test”具有“測試”和“試驗”兩個含義，兩者的中文意義有時相同或相近，但也有相差很大的情況，這時就必須予以嚴(yán)格的區(qū)分。顯然，美軍標(biāo)原文中“test”的含義應(yīng)該是“測試”而不是“試驗”，因為眾所周知，測試對環(huán)境溫度的要求確實相當(dāng)嚴(yán)格，將其規(guī)定為25（+3，-5）℃完全有必要。而且測試實驗室面積通常不大，達到這樣的要求所需要的費用也不高。因此，GJB 548中將試驗環(huán)境溫度規(guī)定為25（+3，-5）℃應(yīng)該是錯誤地理解了美軍標(biāo)中“test”一詞所造成的結(jié)果。

筆者曾經(jīng)工作過的航天七七一所軍用電子元器件實驗室，就曾因國軍標(biāo)中的這個錯誤而沒有通過上級有關(guān)部門的審查，被要求“整改”。但實際上，這個無理的“整改”要求，實在耗資太大，而且完全沒有必要。如果全國所有的相關(guān)實驗室都被要求作這類不必要的“整改”，那么將會造成巨大的資金浪費。

在投訴無門的情況下，筆者給中國軍用電子產(chǎn)品可靠性信息交換網(wǎng)工作委員會等單位主編的 《可靠性與質(zhì)量信息》寫了一篇名為 《貫徹集成電路國軍標(biāo)的一個急需解決的問題》的短文［2］。文中直接指出了我國國軍標(biāo)體制存在的缺陷，并提出了：應(yīng)“研究縮短修改標(biāo)準(zhǔn)的時間”“凡一切能加快進度的建議和方案都應(yīng)受到歡迎，應(yīng)多加研究”等建議。

該短文受到了有關(guān)領(lǐng)導(dǎo)的高度重視，國防科工委領(lǐng)導(dǎo)懷國模將軍和其屬下負責(zé)國軍標(biāo)的領(lǐng)導(dǎo)部門黃寧將軍作了長達數(shù)百字的批示。認(rèn)為“鄭鵬洲同志的文章很值得我們深思，……建議你們要以此文為引子，認(rèn)真研究如何加強對標(biāo)準(zhǔn)工作的指導(dǎo)……”。

由于國軍標(biāo)的最高領(lǐng)導(dǎo)的關(guān)心，《可靠性與質(zhì)量信息》迅速地在同年第12期以激動人心的標(biāo)題《支持、鼓舞和鞭策》作了后續(xù)的報道。航天相關(guān)刊物也以 《貫徹集成電路國軍標(biāo)亟待解決的問題》全文轉(zhuǎn)載了筆者的文章和懷國模將軍的批示［3］。

但是，即使這樣大的“雷聲”，也沒帶來一滴雨。上述明顯的錯誤仍未見有任何的修改。該錯誤一直又持續(xù)了數(shù)年之久，直到1996年該標(biāo)準(zhǔn)的修訂稿GJB 548A［4］的問世。試想，如果國軍標(biāo)有良好的修改體制，這幾年因執(zhí)行這個錯誤的條款所帶來的巨大損失則是完全可以避免的。

以上，只是筆者舉出的一個實例。事實上，這類由于國軍標(biāo)的缺陷而阻礙了微電子器件的可靠性提高的實例是很多的，作者在本文附錄一、附錄二中還列舉了兩個例子，以供參考。通過上述例子可以看出，如果國軍標(biāo)體制存在缺陷，那么國軍標(biāo)在某些方面不僅不能起到協(xié)助、推動相關(guān)領(lǐng)域的可靠性工作的作用，反而會適得其反。即使主管國軍標(biāo)的最高領(lǐng)導(dǎo)被深深地觸動，他們也無可奈何，究其原因，就是因為我國國軍標(biāo)體制過于僵化，不甚合理，誰都動它不得。

2　當(dāng)前國軍標(biāo)體制缺陷的現(xiàn)狀

22年過去了，國軍標(biāo)體制的缺陷是否有了改進呢？筆者在最近參與GJB 548的第3次修訂稿——GJB 548C的討論時發(fā)現(xiàn)這種僵化的國軍標(biāo)體制居然還是沒有任何變動，沒有任何進步。編輯組那么多人，辛辛苦苦、兢兢業(yè)業(yè)地花了3年的時間終于將GJB 548第3次修訂稿寫完。但是，倘若該標(biāo)準(zhǔn)自頒布之日起就存在錯誤的內(nèi)容，那么其不僅不能起到推動相關(guān)領(lǐng)域的可靠性工作的作用，反而會阻礙相關(guān)工作的進展。并且，隨著時間的推移，錯誤的內(nèi)容可能會越積越多，產(chǎn)生的負面作用也會越來越大。而且這些錯誤可能會持續(xù)少則5年，多則10年”。

這絕不是危言聳聽，而是有充分根據(jù)的，特別是對于電子元器件領(lǐng)域的國軍標(biāo)而言。

眾所周知，電子元器件，特別是微電子器件的發(fā)展是非常迅速的。由于新工藝、新材料不斷地推陳出新，微電子器件的集成度快速地提高，推動新型微電子器件的不斷涌現(xiàn)。其試驗方法必然要跟著前進、跟著創(chuàng)新，事實也確實是如此。以美軍標(biāo)MIL-STD-883為例，雖然從1968年問世以來，其版本僅變更過9個。但在兩個版本之間，一旦發(fā)現(xiàn)有新思路，就會及時地補充；發(fā)現(xiàn)有錯誤，更會及時地修改。這些補充和修改前期以“Notice”形式，后以“CHANGE”形式發(fā)布，并廣而告之，付諸實施。據(jù)不完全統(tǒng)計，MIL-STD-883自問世以來，修改的次數(shù)已超過40次，幾乎達到平均每年一次。修改頻繁的原因當(dāng)然是因為微電子器件創(chuàng)新快，只有這樣，才能使標(biāo)準(zhǔn)能為其相應(yīng)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的提高而服務(wù)。

而我國，與之相應(yīng)的國軍標(biāo)GJB 548，從1988年問世以來，28年內(nèi)只修改過2次，平均10余年修訂1次。即使第3次 （C版）能在2016年問世，修改的周期也接近10年，在這10年間隔中，微電子器件的快速創(chuàng)新，其質(zhì)量和可靠性的試驗方法和判據(jù)的變化 （這在美軍標(biāo)MIL-STD-883的頻繁修改中體現(xiàn)），在我國僵化的國軍標(biāo)體制中均無法及時地體現(xiàn)。

3　國軍標(biāo)體制改革方案的初步設(shè)想

我國僵化的國軍標(biāo)體制必須改革。如何改革則是應(yīng)組織相關(guān)人員研究的一個大課題，需要集思廣益。作為筆者個人，肯定見少識窄。但是，作為一名為電子元器件可靠性的提高奮斗了數(shù)十年的科技人員，雖已年近八旬，強烈的責(zé)任感還是促使我拋磚引玉，提出一些粗淺的想法，以供同行和領(lǐng)導(dǎo)參考。

在提出國軍標(biāo)體制具體的改革方案之前，筆者想要分享一下美軍標(biāo)的做法。美軍標(biāo)新版本出世的時候，也常有缺點和錯誤。在發(fā)布后，也會因“活躍”的微電子器件的“進步”，使頒布的部分內(nèi)容已不相適應(yīng)。但是這些問題一旦發(fā)現(xiàn)，該美軍標(biāo)便會立即發(fā)布“Notice”（后改為“CHANGE”）予以公告并實施。為什么他們能發(fā)現(xiàn)得這么快，更正得這么快，筆者作了一些調(diào)查，并親身進行過體驗。

調(diào)查工作很簡單，筆者發(fā)現(xiàn)美軍標(biāo)MIL-STD-883的最后頁是一份征求改進意見表：“STANDARDIZATION DOCUMENT IMPROVEMENT PROPOSAL（標(biāo)準(zhǔn)文件改進建議）”。附錄三列出了美軍標(biāo)MIL-STD-883E Notice 1的最后頁［5］，該意見表共8欄，其中4欄由提意見者填寫。其內(nèi)容除了提意見者的姓名和聯(lián)系方式外，主要有：“（涉及的）章節(jié)號”和“（你的）意見和建議”。其余4欄則是“（與本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)的）負責(zé)人的姓名和聯(lián)系方式”及如你 （不滿意）上告的單位和地址。

值得注意的是在該表中有下列兩項非常具體的規(guī)定：

1）The preparing activity must provide a rep1y within 30 days from receipt of the form（相關(guān)機構(gòu)在收到意見后30天內(nèi)必須給予答復(fù)）；

2）If you do not receive a rep1y within 45 days，contact（你如果在45天內(nèi)沒有收到回復(fù)，請和“軍用質(zhì)量和標(biāo)準(zhǔn)化委員會”聯(lián)系），并告知了詳細的聯(lián)系地址。

上述第2條規(guī)定顯然是告訴你，如遇到辦事人員的拖延，你有權(quán)向有關(guān)上級機構(gòu)“告狀”。

作者在1979年親自享受過這個給廣大民眾（不僅是美國民眾）的“特權(quán)”，下面將對事情的經(jīng)過進行簡單的介紹。

作者在1979年查閱剛頒布的MIL-STD-883B Notice 2時，發(fā)現(xiàn)方法5004的篩選項目中增加了“3.1.14”項：“Percent defective a11owab1e（PDA）ca1cu1ation”。這一項目立刻引起了筆者的注意，經(jīng)過仔細的研究，筆者發(fā)現(xiàn)，執(zhí)行該條款顯然有可能使篩選成品率明顯地下降，但是卻能夠顯著地提高微電子器件的可靠性，因此筆者認(rèn)為應(yīng)該立即將這一項目在航天七七一所推廣貫徹。但是，若推廣有差錯，則后果顯然是非常嚴(yán)重的，這是因為七七一所生產(chǎn)的航天產(chǎn)品最重要的便是可靠性。

筆者按該標(biāo)準(zhǔn)的“意見表”給出的地址發(fā)出了詢問的航空信。在第13天收到了回信，此外對方還贈送了重達1.2 Kg的資料，僅郵資就要28美元。我——一個和美國毫無牽掛的外國人，受到如此重視，心甚不安。于是按照“意見表”上給出的電話號碼打通了對方的電話，除了表示感謝以外，還表示要把郵資匯回去。誰知對方直截了當(dāng)?shù)鼐芙^了，并表示這是他們應(yīng)該做的。

在他們寄來的資料的啟發(fā)下，筆者進行了仔細的研究，覺得執(zhí)行該條款確實對提高微電子器件的可靠性有重要的作用 （詳細敘述見附錄一）。于是，筆者迅速地將其列入了七七一所所標(biāo)——Q/WD 39-80《中小規(guī)模集成電路篩選規(guī)范》，并于1980年5月頒布執(zhí)行，這比國軍標(biāo)GJB 548早了8年 （雖然國軍標(biāo)GJB 548未出世，但當(dāng)時相應(yīng)于國軍標(biāo)作用的準(zhǔn)國軍標(biāo)——1985年頒布的QZJ 840614《半導(dǎo)體集成電路七專技術(shù)條件》中根本沒有這個內(nèi)容）。

為了盡快地將這個好方法在我國推廣，筆者專門進行了數(shù)學(xué)推導(dǎo)，并結(jié)合失效率曲線進行了論證。后在七七一所采用PDA控制技術(shù)的新所標(biāo)的執(zhí)行中，結(jié)合任務(wù)進行了實驗驗證，證明該技術(shù)確實對于提高七七一所的微電子器件的可靠性有顯著的效果。最后，筆者于1981年將這些研究結(jié)果撰寫進了 《半導(dǎo)體器件 ‘PDA控制’驗技術(shù)》［6］一文中。

美國高度重視美軍標(biāo)的修正與改進，充分尊重民眾的意見，集思廣益，一且發(fā)現(xiàn)問題，便立即予以公告和修改，因而多年來，美軍標(biāo)在推動相關(guān)領(lǐng)域的可靠性工作方面發(fā)揮了重大的作用。既然國軍標(biāo)GJB 548基本上都是參照美軍標(biāo)MJL-STD-883的內(nèi)容編寫的，那么該美軍標(biāo)的最后一頁為什么總被我國國軍標(biāo)忽略呢？筆者認(rèn)為，我國國軍標(biāo)可借鑒美軍標(biāo)的做法，廣泛征求民眾意見，以及時地發(fā)現(xiàn)國軍標(biāo)中存在的各種問題，并及時地進行相應(yīng)的修改，從而充分地發(fā)揮國軍標(biāo)的指導(dǎo)作用。

4　結(jié)束語

筆者工作了數(shù)十年的航天七七一所由于其航天用計算機產(chǎn)品的性質(zhì)，對可靠性是極為重視的。要知道，七七一所的航天產(chǎn)品使用的電子元器件不僅品種多、數(shù)量大，而且其使用的相當(dāng)一部分微電子器件是七七一所自己生產(chǎn)的 （這種體制的單位，在國內(nèi)即使不是唯一，也是極少）。七七一所產(chǎn)品的這個特點使得其對其生產(chǎn)和使用的微電子器件的可靠性顯然更為關(guān)切。這也是筆者為什么非常關(guān)心國軍標(biāo)，當(dāng)國軍標(biāo)出現(xiàn)筆者無法克服的缺陷后，只能積極地研究相應(yīng)的美軍標(biāo)，當(dāng)經(jīng)理論分析或試驗驗證，證實其確實合理后，就擺脫當(dāng)時的國軍標(biāo)的束縛，直接修改或制訂七七一所新所標(biāo)的原因。當(dāng)然，筆者深知，這種制訂和執(zhí)行與國軍標(biāo)內(nèi)容不相同的標(biāo)準(zhǔn)的做法，如果出現(xiàn)錯誤，所造成的后果和筆者所需承擔(dān)的責(zé)任均是極大的。但是對僵化的我國國軍標(biāo)體制，筆者只能這樣做，別無選擇。

作為一個中國人，筆者還是迫切地希望我國的國軍標(biāo)體制能有個重大的變革，同時也希望我國的國軍標(biāo)體制能在提高我國軍用電子元器件質(zhì)量和水平上起引導(dǎo)作用，而不是無所作為，甚至起反作用。

至于怎么變，當(dāng)然需要集思廣益。筆者在本文中已經(jīng)拋了不少“磚”。應(yīng)該說，要組織、領(lǐng)導(dǎo)這個課題并不難。因為我國并不缺國軍標(biāo)的管理機構(gòu)，更不缺管理人員。

［1］中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所.微電子器件試驗方法和程序：GJB 548-1988［S］.

［2］鄭鵬洲.貫徹集成電路國軍標(biāo)的一個急需解決的問題［J］.可靠性與質(zhì)量信息，1994（8）：1-3.

［3］鄭鵬洲.貫徹集成電路國軍標(biāo)的一個急需解決的問題［J］.航天質(zhì)量可靠性信息簡報，1994（9）：1-3.

［4］中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所.微電子器件試驗方法和程序：GJB 548A-1996［S］.

［5］Department of defense test methods standard microcircuits：MIL-STD-883J［S］.

［6］鄭鵬洲.半導(dǎo)體器件“PDA控制”試驗技術(shù) ［J］.微電子學(xué)與計算機，1981（4）：4-6.

［7］中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所.微電子器件試驗方法和程序：GJB 548B-2005［S］.

［8］鄭鵬洲.對微電路國軍標(biāo)的幾點分析研究 ［J］.微電子學(xué)與計算機，1992（2）：6-8，16.

［9］鄭鵬洲等.可靠性設(shè)計和分析 ［M］.北京：國防工業(yè)出版社，1995：444-448.

附錄一有關(guān)PDA控制試驗技術(shù)

PDA是“Percent Defective A11owab1e”的縮寫，直譯為“允許不合格率”。但筆者認(rèn)為：必須在最前面增加一個“批”字，并應(yīng)予以特別強調(diào)。即PDA應(yīng)被譯為“批允許不合格率”，否則其作用會適得其反，以下將對增加“批”字的必要性進行論述。

PDA控制試驗技術(shù)，簡單而言，就是為篩選中老煉 （當(dāng)時稱“老化”）工序規(guī)定一個“允許的不合格率”的判據(jù)，即PDA值。當(dāng)某批次的不合格率高于該PDA值，則該批器件將全部被淘汰。

舉個具體的數(shù)據(jù)例子說明PDA控制試驗技術(shù)對篩選結(jié)果的影響。例如：規(guī)定PDA值為5%時，以進行老煉的10 000只器件為例，假如經(jīng)老煉后，不合格的器件達501只，即此時產(chǎn)品實際的不合格率為5.01%，則在執(zhí)行PDA控制技術(shù)前，合格的9 499只器件將作為合格品交付使用；但在執(zhí)行PDA控制技術(shù)后，結(jié)果就大不同了，合格的9 499只器件將均因其可靠性不“達標(biāo)”而全部被淘汰。

增加了這個程序后，篩選提高微電子器件可靠性的作用發(fā)生了質(zhì)的變化。未執(zhí)行PDA控制技術(shù)前，篩選確實“名副其實”——采用各種“篩”子進行挑“選”，能通過“篩子”的就是“合格品”，都交付使用。至于這些當(dāng)時合格的合格品是長壽的還是短命的，即對于其可靠性高低的問題，我們則一無所知。

增加了這個程序后，通過篩選之后的產(chǎn)品的可靠性就有了根本的變化，因為可靠性低的合格品在篩選過程中已經(jīng)被全部淘汰了。

筆者進行了理論上的推導(dǎo)，明確了該更改的重要性，并做了大量的試驗予以證明。具體的理論推導(dǎo)過程在1981年發(fā)表的 《半導(dǎo)體器件“PDAy”試驗技術(shù)》一文中已經(jīng)介紹過［6］，并在筆者參與主編的 《可靠性設(shè)計和分析》一書中作了更詳細的敘述［9］，此處不再贅述。只是強調(diào)一點：應(yīng)用該技術(shù)的產(chǎn)品必須嚴(yán)格保持“批”的“純潔性”，即絕對不能混批，否則某批可靠性高的產(chǎn)品可能因其中混入了可靠性不高的產(chǎn)品批而被淘汰，相反，某批可行性低的產(chǎn)品也可能因混雜在高可靠產(chǎn)品批中而蒙混過關(guān)。防止出現(xiàn)這類降低產(chǎn)品的可靠性的“事故”的一種有效的方法就是避免不同批次的產(chǎn)品混雜在一起，這也就是作者強調(diào)在“PDA”的中文譯文中一定要增加“批”字的原因。

附錄二 有關(guān)高溫存儲

高溫存儲項目在美軍標(biāo)MIL-STD-883中的規(guī)定和變化情況如下所述。

1983年883C版以前規(guī)定，篩選條件為：至少24 h，至少150℃。在883C中，將這一條件改成了只允許24 h，只允許150℃，至1991年頒布的883D中，該項目就已經(jīng)被取消了。

在質(zhì)量一致性檢驗中，1977年頒布的883B中取消了150℃，1 000 h的存儲壽命檢驗項目。

高溫存儲項目在國軍標(biāo)GJB 548中的變化情況如下：GJB 548-88中稱“穩(wěn)定性烘烤”，在GJB 548A-96中改稱“穩(wěn)定性烘焙”，具體規(guī)定沒作任何改變，而在GJB 548B-2005中該項目就已經(jīng)完全被取消了。

國軍標(biāo)中的高溫存儲項目的取消時間比美軍標(biāo)中的晚了14年。其實在制訂GJB 548A時，美軍標(biāo)已在篩選中廢除了高溫存儲項目5年了。而至于為什么在新制訂的國軍標(biāo)中不去除，只能理解為我國對該項目情有獨衷。國軍標(biāo)取消該項目的時間比相應(yīng)的美軍標(biāo)足足滯后了14年之久。

眾所周知，高溫存儲和 （高溫）老煉，在相當(dāng)長的時間內(nèi)，被誤解為都有去除早期失效器件的作用。但實際上，前者的試驗成本比后者要低得多，只要采用一個價格不高的高溫箱就可以解決問題；而后者需要的老化箱及相應(yīng)配套的設(shè)備的費用卻高得多。且高溫存儲可以通過單純地采用提高試驗溫度的措施來提高試驗效率，更加簡捷，且效率更高。而對于老煉，如果要想提高其試驗溫度，則還必須考慮老煉夾具耐高溫等技術(shù)問題。

七七一所在元器件可靠性工作中，對高溫存儲的作用曾產(chǎn)生過兩個疑點。

a）80年代七七一所曾出現(xiàn)過一起由于管腿的鍍金層損傷而報廢了一臺設(shè)備的事故。經(jīng)失效分析確認(rèn)管腿的鍍金層損傷是高溫存儲時間過長造成的，并確認(rèn)高溫存儲的“高溫”確實能影響器件封裝的長期可靠性，進而影響整機的可靠性。

b）高溫存儲項目并不能淘汰早期失效的器件。當(dāng)時人們普遍地認(rèn)為，篩選中的高溫存儲項目能夠淘汰早期失效的器件。但仔細分析后發(fā)現(xiàn)，早期失效屬于使用可靠性的范疇，而不是指存儲可靠性。高溫存儲只能與存儲壽命有一定聯(lián)系，與人們普遍關(guān)心的長期使用壽命是沒有任何聯(lián)系的，而它的作用在很長時期內(nèi)都被混淆了。

正因為上述兩點，七七一所對美軍標(biāo)在20世紀(jì)70年代就開始對高溫存儲的逐步“降溫”的細微變動都非常關(guān)注。結(jié)合高溫存儲出的上述事故，更覺得廢棄這個篩選項目是非常正確的。1991年，即美軍標(biāo)取消高溫存儲的第二年，七七一所對篩選條件也采取了相同的措施——在篩選項目中廢除了高溫存儲，這也比國軍標(biāo)早了13年。

The Military Standard System of Electronic Components in Our Country Must Be Reformed

ZHENG Peng-zhou
（Re1iab1ity and System Engineering Co11ege of BUAA，Beijing 100191，China）

The nationa1 mi1itary standards for e1ectronic components have an important ro1e in improving and ensuring the re1iabi1ity of mi1itary e1ectronic components.But because the current domestic mi1itary standard system is not perfect，some prob1ems existing in the nationa1 mi1itary standards can not be improved time1y，which brings a 1ot of confusion and even damage to the re1iabi1ity work of mi1itary e1ectronic components.Some defects of military standard system is enumerated，and the damage of the defects to the reliability work of electronic components is analyzed from the perspective of reliability theory.Besides，some ideas for the reform of military standard system are provided.

e1ectronic component；re1iabi1ity；nationa1 mi1itary standard；system；reform

附錄三　美軍標(biāo)MIL-STD-883E Notice 1修改頁原文

T-652.1

A

1672-5468（2016）03-0001-06

10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.001

2016-03-23

2016-04-19

鄭鵬洲 （1939-）男，上海人，航天部771所、北京航空航天大學(xué)可靠性與系統(tǒng)工程學(xué)院研究員，從事電子元器件可靠性工作。