3D-T1WI 表面形態(tài)學(xué)分析在學(xué)齡前無灶性癲癇患兒腦結(jié)構(gòu)評(píng)估中的應(yīng)用

江建秋，張 楠，張 朋，邊傳振

（南京醫(yī)科大學(xué)附屬兒童醫(yī)院放射科，南京 210008）

0 引言

兒童癲癇是一種在0～16 歲時(shí)常見的反復(fù)發(fā)作的、陣發(fā)性腦功能紊亂導(dǎo)致的神經(jīng)系統(tǒng)綜合征，其病因復(fù)雜，常因圍生期患兒缺血缺氧、外傷、腦發(fā)育不良、膠質(zhì)瘤、腦炎等引起[1]。腦結(jié)構(gòu)塑形和功能發(fā)育貫穿整個(gè)兒童階段，而成人腦結(jié)構(gòu)和功能已經(jīng)發(fā)育完善，因此，兒童癲癇病因、發(fā)病機(jī)制、臨床表現(xiàn)及預(yù)后都有別于成人[2-3]。兒童癲癇病因多樣，臨床表現(xiàn)各異，應(yīng)盡可能做到病因診斷及定位診斷，以便選擇適宜的治療方法[4]。

無灶性癲癇（non-lesional epilepsy，NLE）是指通過常規(guī)影像學(xué)檢查難以發(fā)現(xiàn)腦結(jié)構(gòu)異常的一類癲癇，發(fā)病率呈逐年遞增[5]。對(duì)于某些難治性NLE，需手術(shù)切除致癇灶，因此，對(duì)致癇灶的精確定位至關(guān)重要。MRI 是評(píng)估癲癇患兒腦發(fā)育狀況的重要手段，高分辨力3D-T1WI 是目前較為常用的一種觀察大腦形態(tài)特征的MRI 序列[6]。基于表面的形態(tài)學(xué)分析（surfacebased morphometry，SBM）通過測(cè)量皮層厚度、腦溝深度、腦回指數(shù)和分形維數(shù)等指標(biāo)對(duì)腦表面形態(tài)特征進(jìn)行量化評(píng)估，并可提取腦灰質(zhì)、腦白質(zhì)、腦脊液體積，因此可以有效地描繪癲癇患兒腦發(fā)育過程中的細(xì)微變化，并提供腦皮層病變相關(guān)的解剖結(jié)構(gòu)，彌補(bǔ)無灶性癲癇常規(guī)檢查中難以發(fā)現(xiàn)的腦結(jié)構(gòu)細(xì)微異常信息[7]。本研究擬采用SBM 對(duì)學(xué)齡前NEL 患兒的3D-T1WI 腦結(jié)構(gòu)影像進(jìn)行分析，以期探索該類患兒的致癇灶位置，為臨床診斷、療效監(jiān)測(cè)及預(yù)后評(píng)估提供參考。

1 資料與方法

1.1 研究對(duì)象

選取2021 年1 月至2022 年9 月經(jīng)南京醫(yī)科大學(xué)附屬兒童醫(yī)院神經(jīng)內(nèi)科確診為無灶性癲癇的學(xué)齡前患兒35 例納入NLE 組，其中男19 例、女16 例，年齡1～6 歲。……