不同拋光處理對全瓷冠細菌粘附及色素沉著影響

趙靈潔，孫海歐

北部戰區總醫院 口腔科，遼寧 沈陽 110016

氧化鋯修復體作為口腔固定修復類材料的首選，在試戴時需要進行調磨修改以獲得更好的固位及咬合關系。但不同磨改方式產生的細微劃痕均會對氧化鋯修復體表面的光滑度產生影響[1]。此外，粗糙的表面還會降低修復體的機械強度，導致修復體著色[2-3]。拋光是臨床上最常見的陶瓷材料表面光滑處理方式之一，但各拋光套裝的拋光效果存在一定的差異。本研究旨在探討不同拋光處理對全瓷冠細菌粘附及色素沉著的影響，為氧化鋯全瓷材料拋光工具的選擇提供一定的臨床指導。現報道如下。

1 材料與方法

1.2 實驗方法

1.2.1 試件拋光后粗糙度測定 取樣長度為0.8 mm，評定長度為4.0 mm。在試件的中心區域隨機選取3個位點，以不同方向進行粗糙度測量，記錄Ra值。

1.2.2 細菌粘附量的測定 將消毒后的各組試件分別置于試管內，每個試管一個試件，測試面朝上，每個試管加入1 ml細菌濃度為0.5×109CFU/ml的變形鏈球菌細菌懸液[4]，于厭氧條件下培養24 h后，計算細菌菌落數。

1.2.3 試件的浸泡與著色 將各組拋光后的試樣浸泡于人工唾液中24 h，然后浸泡于碳酸飲料中4周，取出試件后蒸餾水清洗30 s，自然干燥，將電子比色儀的測量頭垂直于測試面中心點進行測量，分別記錄浸泡前、后的L*、a*、b*色度值，計算色差(△E)值。

△E=(△L*2+△a*2+△b*2)1/2

2 結果

2.1 各組試件表面粗糙度比較 對照組粗糙度為(0.524±0.079)μm，高于SHOFU組的(0.309±0.059)μm、EVE組的(0.321±0.045)μm、TOBOOM組的(0.384±0.072)μm，差異有統計學意義(P<0.05)。TOBOOM組粗糙度高于SHOFU組及EVE組，差異有統計學意義(P<0.05)。

2.2 各組細菌粘附量比較 對照組細菌粘附量為(0.954±0.095)×104CFU/mm2，高于SHOFU組的(0.613±0.075)×104CFU/mm2、EVE組的(0.558±0.049)×104CFU/mm2、TOBOOM組的(0.827±0.058)×104CFU/mm2，差異有統計學意義(P<0.05)。TOBOOM組細菌粘附量高于SHOFU組及EVE組，差異有統計學意義(P<0.05)。

2.3 各組色素沉著比較 對照組△E為(3.060±0.217)，SHOFU組為(1.092±0.153)，EVE組為(1.269±0.120)，TOBOOM組為(1.524±0.074)。各組△E比較，差異均有統計學意義(P<0.05)。

3 討論

既往研究表明，拋光可以降低氧化鋯修復體表面的粗糙度，減少細菌的粘附量[7]。本研究發現，SHOFU組、EVE組、TODOOM組的表面粗糙度均優于未拋光的對照組，同時，細菌粘附量也優于對照組；SHOFU組、EVE組的粗糙度、細菌粘附量低于TODOOM組，與既往研究[8]結果一致。

△E在2.0～4.0是臨床可接受的閾值，材料顏色變化的差異不易被肉眼察覺[9]。本研究中，各組△E均在臨床可接受范圍內，即修復體顏色的變化不易被肉眼所察覺，這可能與觀察時間較短有關。

綜上所述，臨床上對氧化鋯修復體進行精細拋光，可以明顯降低表面粗糙度，減少細菌的附著及色素沉著。三種拋光套裝中，SHOFU、EVE的拋光效果更理想，更利于減少細菌附著及色素沉著。