淺談電容式電流互感器末屏介損與電容量測量接線方式對結果的影響

張緯怡 吳凱 徐藝敏 李星宇

摘 要 測量電容式電流互感器末屏介質損耗因數tanδ與電容量CX時，發現測得的數據隨電流互感器一次繞組接線方式的變化而變化。通過等值電路分析可知，當一次繞組短接接地或懸空時，主屏電容（一次繞組對末屏的電容）與雜散電容（一次繞組對周圍接地部分的電容）會對試驗數據產生影響。在一次繞組短接接屏蔽的接線方式下，測得的結果最為準確。

關鍵詞 接線方式;電容式電流互感器;末屏;介損與電容量

1測量CT末屏tanδ和CX的重要性

由于端部密封不嚴而進水受潮，引起互感器內部游離放電加劇，內部沿面放電，是電容式電流互感器絕緣劣化的主要原因之一。進入互感器內的水沉積于電容芯棒底部，芯棒打彎處絕緣受潮嚴重，是絕緣最薄弱的部位，在工作場強的長期作用下，使一對或幾對主電容屏擊穿，甚至導致整個電容芯棒的擊穿，從而造成爆炸事故[1]。

因此規程要求，當末屏對地絕緣電阻小于1000MΩ時，可通過測量末屏介質損耗因數tanδ作進一步判斷，測量電壓為 2kV，通常要求小于0.015。

2三種試驗接線方式

測量電容式電流互感器末屏的tanδ和CX應采用反接線的方式進行，反接線的測量方式是末屏接高壓線，加壓2kV，互感器二次繞組短路接地，此時一次繞組的接線方式對試驗結果有一定的影響。

由上述三種接線方式的等值電路圖分析可知，一次繞組短接接屏蔽的接線方式屏蔽了主屏電容及雜散電容，測量的僅是末屏對地的部分，其值最為準確[2]。

3試驗分析

為驗證上述理論分析，選取江蘇ABB精科互感器廠LB7-220W3型互感器進行一次繞組不同接線方式下tanδ和CX測試。

由于兩并聯支路的總電容量為各支路電容量的總和，所以一次繞組短接接屏蔽的接線方式測得的電容量CX最小;由于總體tanδ值是介于各并聯支路最大tanδ值與最小tanδ值之間，而一次對末屏及對周圍接地部分電容的tanδ值很小，所以未接屏蔽時所測得的tanδ較接屏蔽時偏小。試驗數據與理論分析一致。

4結束語

在現場測量時，應將一次繞組接屏蔽線的測量結果作為分析、判斷設備絕緣狀況的主要依據。

參考文獻

[1] 陳化鋼.電力設備預防性試驗方法及診斷技術[M].北京：中國水利水電出版社，2009：67.

[2] 陳天翔，王寅仲，海世杰.電氣試驗[M].北京：中國電力出版社， 2008：166.