單質硫νS－S伸縮振動的漫反射紅外光譜研究

解立斌，俞 丹，魏 萌，劉子瑋，于宏偉＊

（1.石家莊學院化工學院，石家莊050035； 2.河北醫科大學第三醫院，石家莊050051）

單質硫νS－S伸縮振動的漫反射紅外光譜研究

解立斌1，俞 丹2，魏 萌1，劉子瑋1，于宏偉1＊

（1.石家莊學院化工學院，石家莊050035； 2.河北醫科大學第三醫院，石家莊050051）

采用傅里葉變換漫反射紅外光譜法，在500～400cm－1范圍內研究了單質硫S－S鍵伸縮振動紅外吸收模式（νS－S）的一維漫反射紅外光譜、二階導數漫反射紅外光譜、四階導數漫反射紅外光譜和去卷積漫反射紅外光譜，并針對單質硫νS－S，進一步開展了相關二維漫反射紅外光譜研究。結果表明：單質硫νS－S的紅外吸收頻率主要包括464，466，468，474cm－1，而其紅外吸收強度的變化順序為464cm－1＞474cm－1＞468cm－1＞466cm－1。

漫反射紅外光譜；單質硫；二維漫反射紅外光譜

硫－硫鍵（S－S鍵）對維持許多蛋白質分子的天然構象和穩定性至關重要，因此引起科學家的廣泛關注［1］。研究S－S鍵的方法很多，但紅外光譜的研究卻少見報道。單質硫中含有多個S－S鍵［2－4］，單質硫的S－S鍵的伸縮振動峰（νS－S）的紅外吸收頻率通常在470cm－1附近［5－7］，但單質硫的透光性較差，采用傳統的透射紅外光譜（4 000～400cm－1）并不適合；衰減全反式紅外光譜由于其測定頻率范圍的局限（4 000～600cm－1），同樣滿足不了測量要求；而漫反射紅外光譜（4 000～400cm－1）是測量粉末或粗糙物質表面的紅外光譜，其譜圖為樣品表面和內部的混合，并且測定過程中不需要對樣品進行處理。本工作以單質硫為模型化合物，通過漫反射紅外光譜技術（包括一維漫反射紅外光譜、二階導數漫反射紅外光譜、四階導數漫反射紅外光譜和去卷積漫反射紅外光譜）和二維漫反射紅外光譜技術研究單質硫S－S鍵。……