兩種修復材料修復齦上及齦下V類洞的療效觀察

徐蓉蓉　董倩　王文梅

[摘要]目的 比較3M納米復合樹脂和富士Ⅱ玻璃離子在修復齦上及齦下V類洞的臨床效果差別。方法 選擇2010年10月～2012年12月本院就診患者患牙280顆，分齦上，齦下兩組，使用兩種修復材料修復，比較2年后的治療效果。結果窩洞位于齦上時，兩種材料的修復成功率均較高，達到88%以上；窩洞位于齦下時，用富士II玻璃離子組修復的成功率（78.1%）明顯高于3M納米樹脂組（60.0%），差異有統計學意義（P<0.05）。修復成功的病例中，3M納米復合樹脂組磨耗程度遠低于富士II玻璃離子組。結論 當V類洞位于齦下時，選用富士Ⅱ玻璃離子充填效果優于3M納米樹脂，當V類洞位于齦上時，選用3M納米樹脂優于富士Ⅱ玻璃離子充填效果。

[關鍵詞]v類洞；3M納米復合樹脂；富士II玻璃離子；齦下齲壞

根據G.V.Black分類方法，以齲損發生的部位為基礎，V類洞是指所有牙齒唇（頰）或舌面頸1/3處的齲損所備成的窩洞。v類洞大多發生在牙齒的唇頰側，發生的原因主要有楔狀缺損引起的繼發齲壞和釉質發育不全造成的繼發齲壞。在臨床上因不同原因制備的v類洞很常見。牙頸部為應力集中區，可至牙體組織發生疲勞，修復后也使充填材料產生疲勞，且窩洞位于齦緣或部分位于齦下，難以長時間控制血液、齦溝液滲出，這些都是造成充填物與牙面不密合，修復體邊緣繼發齲，脫落而造成治療失敗率高的原因。很多學者通過使用不同充填材料，或不同修復方法，來研究如何提高楔狀缺損的修復效果。本研究將通過探討3M納米復合樹脂材料與富士II玻璃離子材料對牙齦不同位置下v類洞的修復效果來分析治療失敗的原因。

1.資料與方法

1.1一般資料

選擇2010年10月～2012年12月本院就診的年齡在20～50歲之間，頸部齲壞患者70例，280顆牙，其中男31例（116顆牙），女39例（164顆牙）。與患者知情同意后分組，其中齦上組150顆，樹脂組和玻璃離子組各75顆，納入標準為：洞型位于齦緣以上（包括平齦緣洞型），窩洞深度>0.5mm，直徑2～5mm之間。齦下組130顆，樹脂組和玻璃離子組各65顆，納入標準為：洞型部分位于齦下，窩洞深度>0.5mm，直徑2～5mm之間。

1.2實驗器械與設備

玻璃離子水門汀（而至富士II，蘇州），納米樹脂（3MFihekZ350XT，美國），Adper Easy One自酸蝕粘結劑（3M，美國），光敏氫氧化鈣（VOCO，德國），光固燈（3M，美國）。

1.3操作方法

玻璃離子水門汀修復組：清除患牙周圍色素與牙石，去齲，制備v類洞，如需要可制備固位溝，如窩洞至牙本質深層需氫氧化鈣墊底。對于齦下較深窩洞，牙齦出血多者使用腎上腺素棉球按壓，暫時止血。調制玻璃離子水門汀，充填于窩洞內，固化后修整拋光。

3M納米復合樹脂修復組：清潔備洞隔濕如前，Adper Easy One自酸蝕粘結劑處理窩洞20s，吹去多余粘結劑，光固化20s，再充填3M納米樹脂塑形后光照40s，修整拋光。如窩洞至牙本質深層需氫氧化鈣，玻璃離子墊底。對于牙齦出血較多者處理方法同上。

1.4療效評價標準

根據洞型修復兩年后效果進行評價，成功標準為修復體無脫落，邊緣密合無繼發齲，無明顯冷熱不適、自發痛等牙髓刺激癥狀。治療失敗標準為充填物脫落，邊緣繼發齲，出現明顯冷熱不適自發痛等牙髓癥狀。部分充填體表面出現深度不超過0.5mm的點狀或溝狀或整體表面磨耗，不作為失敗評價標準，而作為充填物表面磨耗納入統計范圍。

1.5統計學分析

本研究共采集280顆患牙，兩年后回訪率為83.6%，未按時復診檢查或未復診檢查者視為回訪遺失病例，不納入最終統計，在兩年內因牙髓炎或脫落前來就診患牙納入統計范圍。結果采用SIX3S15.0統計軟件包進行x2檢驗統計學分析，P<0.05時差異具有統計學意義。

2.結果

2.1兩種修復材料治療失敗原因及比較

兩種修復材料治療失敗原因及例數見表1，在修復成功的病例中，3M納米復合樹脂組磨耗病例百分比遠低于富士Ⅱ玻璃離子組。

2.2兩種材料修復成功比較

兩年修復成功數據見表2，如表所示窩洞部分位于齦下時，離子組和樹脂組修復成功率均低于齦上組，具有統計學意義（離子組x2=7.6，P<0.05，樹脂組X2=53.8，P<0.05），當窩洞部分位于齦下時，富士II玻璃離子組成功率高于3M納米復合樹脂組，具有統計學意義（x2=8.69，P<0.05）。見表2。

3.討論

在v類洞臨床常見病因中楔狀缺損占大多數，它是一種牙齒唇頰側頸部牙體硬組織緩慢磨耗造成的缺損，中老年人發病率高達90%，且隨年齡增長而嚴重。楔狀缺損使牙齒自潔能力降低，暴露的牙本質抗腐蝕性差，容易發生繼發齲壞，造成破壞面積增加。而另一個常見臨床病因是釉質發育不全，它是一組影響釉質發育的遺傳性疾病，由于釉質形成時造釉器的某些功能障礙，導致釉質在厚度、結構和組織上的改變，環境因素也可能造成病損。因為釉質缺陷，往往在青少年時期就可能造成齲壞，有些青少年偏好碳酸飲料，早期可以造成牙頸部嚴重齲壞。由此可見v類洞修復在臨床治療中意義重大。本實驗通過如何選擇充填材料來提高v類洞修復成功率進行初步研究。

從研究結果來看，窩洞位于齦下使修復體成功率顯著降低。分析其原因，當窩洞部分位于齦下時，在預備固位形和去齲過程中易傷及牙齦組織。由于齲壞組織長期存在于牙齦下方，食物、軟垢和齲損組織邊緣常刺激牙齦，會造成牙齦炎癥，從而使牙齦出血、齦溝液增加，這些都將影響修復的成功率。

當修復體部分位于齦下時，用富士Ⅱ玻璃離子組成功率明顯高于3M納米復合樹脂組。無論玻璃離子還是樹脂充填都需要窩洞隔濕，但血液、齦溝液的滲出常污染窩洞，不利于充填，玻璃離子的優勢在于操作時間短，能盡可能地減少影響。本研究在有明顯出血滲液時，使用腎上腺素小棉球按壓，暫時止血，迅速隔濕充填。本研究者個人操作統計，玻璃離子從充填到塑形結束在15～45秒，因充填前除備洞、干燥無需其他處理，且受玻璃離子硬固時間限制，充填時間通常不會太長。而樹脂組，雖然已使用最省時的Adper Easv 0ne自酸蝕粘結劑，但從開始使用粘結劑到塑型結束，按材料操作說明至少要45秒以上，最長的因為需要分層固化，用時超過一分半鐘。在涂布粘結劑步驟中，需要輕吹粘結劑，去除多余粘結劑，且使其分布均勻，在實際操作中，氣槍吹動常會促發有炎癥的牙齦出血。

對于齦下楔狀缺損，多名研究者通過排齦線排齦的方法增加充填的成功率，也有使用排齦膏作為止血排齦有效手段值得借鑒。但對于因齲壞或繼發齲壞而備成的v類洞，使用排齦線，排齦膏再充填的研究較少，可能是因為齲壞邊緣不平整，凹陷于齦下，有時位置較深，使用排齦線，排齦膏操作困難。常規排齦線可使牙齦下降0.5～1mm，對位于齦下較深的病例排齦線也不能達到理想的修復環境。所以合理使用玻璃離子可以提高齦下v類洞修復的成功率。復合樹脂存在聚合性收縮，可造成修復材料與牙體硬組織之間裂隙繼而引起微滲漏，繼發齲，及充填物脫落，這也可能是發生治療失敗的原因之一。

另外，從表1中可以看出，富士II玻璃離子修復體在兩年后很多出現了磨耗坑溝或整體表面磨耗，這對隔離外環境保護牙體是不利的。而3M納米復合樹脂組出現磨耗相對不多，說明玻璃離子在耐磨耗方面遜于樹脂。玻璃離子色澤較暗，顏色不佳，而納米復合樹脂常用于前牙美容修復，美觀性讓人滿意。齦上組兩種充填材料治療成功率差別不明顯，所以充填物位齦上的窩洞，樹脂修復效果更佳。也由此可見v類洞合適用什么材料充填并非一定，需要根據窩洞位置，患者牙周情況，操作時的出血狀況和操作者止血能力等具體情況做出正確的選擇。醫師也應該在條件允許情況下多嘗試止血隔離材料，改善充填環境，使充填材料的優點得以充分發揮。