紅外線和可見光探測(cè)器操作和測(cè)試基礎(chǔ) 第2版

本書是紅外線和可見光探測(cè)器操作和測(cè)試第2版，提供了必要的背景基礎(chǔ)和相關(guān)概念介紹，以幫助讀者選擇并操作現(xiàn)代化紅外設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。

本書首先介紹紅外線和可見光探測(cè)器的材料，隨后介紹紅外線和可見光輻射命名法和計(jì)算方法、探測(cè)器組成和工作過程、相關(guān)原理、概念，紅外線和可見光探測(cè)器如何操作，以及在實(shí)際情形中的作用和存在的問題。同時(shí)，提供了操作紅外探測(cè)器的新工具，具體包括電子FPA操作和選擇使用ROICs等。本書討論了如何使用和測(cè)試紅外和可見光探測(cè)器，全面介紹了紅外設(shè)備的選擇、操作和測(cè)試，并包括現(xiàn)代化的探測(cè)器組件和操作說明。本書為進(jìn)入紅外探測(cè)器的設(shè)計(jì)、試驗(yàn)和使用領(lǐng)域的工作人員，以及從事相關(guān)行業(yè)的人員提供了全面的參考內(nèi)容。

本書共分4部分，15章：第一部分 探測(cè)器基礎(chǔ)，含第1-5章：1.引言和概述；2.輻射測(cè)量；3.熱探測(cè)器：機(jī)制，運(yùn)行和性能；4.古典光子探測(cè)器：簡(jiǎn)單的光電導(dǎo)體和光伏；5.現(xiàn)代光子探測(cè)器。第二部分 探測(cè)器組件，含第6-8章：6.單探測(cè)器組件和小矩陣；7.讀出集成電路；8.FPA操作電子。第三部分 測(cè)試，含第9-10章：9.測(cè)試設(shè)備；10.探測(cè)器測(cè)試。第四部分 相關(guān)的技能，含第11-15章：11.測(cè)量和不確定性；12.低溫；13.真空；14.光學(xué)和光學(xué)材料；15.傅立葉分析和檢測(cè)問題。

作者John David Vincent是有50年工作經(jīng)驗(yàn)的IR測(cè)試工程師和系統(tǒng)工程師，工作于美國(guó)Raytheon紅外公司。他的研究領(lǐng)域包括不確定性分析、輻射測(cè)量和數(shù)據(jù)分析。

本書可供作為相關(guān)專業(yè)的學(xué)生、研究人員和工程師的參考書。