高熱驚厥患兒的預后及危險因素分析

葉英姿

遼寧遼陽市第二人民醫院兒科　遼陽　111000

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高熱驚厥患兒的預后及危險因素分析

葉英姿

遼寧遼陽市第二人民醫院兒科遼陽111000

【摘要】目的分析高熱驚厥(febrile convulsion，FC)患兒的預后情況，探討相關危險因素。方法隨機選取75例高熱驚厥患兒為研究對象，搜集所有入組患者的臨床、隨訪及問卷調查資料，對可能影響高熱驚厥患兒預后的因素，如性別、初發年齡、持續時間、發作次數、腦電圖、家族史進行回顧分析。結果75例患兒中，62例(82.67%)預后良好，余13例(17.33%)預后不良。高熱驚厥初發年齡、持續時間、發作次數、腦電圖、家族史與患兒預后存在相關性(P<0.05)；性別與患兒預后無相關性(P>0.05)。多因素Logistic 回歸分析顯示，初發年齡<1歲、持續時間≥10 min、發作次數≥3次患兒預后不良的可能性大，其風險比(OR)值分別為1.59、5.46、3.97。結論高熱驚厥患兒多預后良好，初發年齡<1歲、持續時間≥10 min、發作次數≥3次是影響高熱驚厥患兒預后的獨立危險因素。

【關鍵詞】高熱驚厥(FC)；預后；危險因素

本研究通過回顧分析75例高熱驚厥患兒的臨床、隨訪及問卷調查資料，旨在探討可能影響高熱驚厥患兒預后的危險因素，為臨床預防、診治及預后判斷提供依據。

1資料與方法

1.1資料選取隨機選取2014-01—2015-05我院兒科75例高熱驚厥患兒為研究對象，男39例，女36例，平均年齡(2.16±1.79)歲。所有入組患兒均符合高熱驚厥診斷標準，即均具有高熱驚厥典型臨床特征，如發熱>38.5 ℃、突發全身抽搐、強直、意識障礙、呼吸及消化系統感染等，排除由于其他系統功能障礙引起的發熱驚厥，內環境紊亂引起的發熱驚厥。同時對所有入組患兒進行定期隨訪及問卷調查，回顧分析臨床、隨訪及問卷調查資料。

1.2研究方法搜集所有入組患者的臨床、隨訪及問卷調查資料，對可能影響患兒預后的因素，如性別、高熱驚厥初發年齡、持續時間、發作次數、腦電圖、家族史進行回顧分析，探討上述因素與患兒預后的關系。

1.3預后判斷預后良好：出院后無需治療或正規藥物治療后無高熱驚厥復發者；預后不良：高熱驚厥未得到控制而放棄治療自動出院者，出院后長期正規藥物治療后高熱驚厥仍反復發作者，出院后出現癲癇癥狀、智力障礙、腦梗死或死亡者。

1.4統計學方法采用SPSS 17.0軟件進行統計分析，計數資料以頻數和率(%)表示，比較采用χ2檢驗。采用Logistic回歸模型分析影響高熱驚厥患兒預后的影響因素，P<0.05為差異有統計學意義。

2結果

2.1隨訪預后情況本組75例高熱驚厥患兒，62例預后良好，預后良好率82.67%，余13例預后不良，預后不良率17.33%，其中驚厥反復發作8例，出現癲癇癥狀2例，智力障礙1例，因顱內感染、腦梗死等并發癥死亡2例。

2.2預后影響因素高熱驚厥初發年齡、持續時間、發作次數、腦電圖、家族史與患兒預后有相關性(P<0.05)；性別與預后無明顯相關性(P>0.05)。見表1。

表1　影響患兒預后的單因素分析

2.3預后的相關因素分析以預后良好與不良為因變量，將患兒預后的影響因素中有統計學意義的變量引入Logistic 回歸方程進行分析，結果顯示，初發年齡<1歲、持續時間≥10 min、發作次數≥3次患兒預后不良的可能性大，其風險比(OR)值分別為1.59、5.46、3.97，提示初發年齡<1歲、持續時間≥10 min、發作次數≥3次是影響高熱驚厥患兒預后的獨立危險因素。見表2。

表2　影響患兒預后的多因素Logistic 回歸分析

3討論

高熱驚厥(febrile convulsion，FC)是特發于兒童期的發病率較高且病情較危重的兒科常見神經系統疾病。美國兒科學會(AAP)對高熱驚厥的定義為驚厥合并非顱內感染及代謝紊亂且無高熱驚厥史的發熱性疾病[1]。關于高熱驚厥的發病機制，目前尚無統一認識，多數學者認為其與嬰幼兒神經系統結構發育不全、功能發育不完善相關[2]。但部分學者認為，呼吸系統、消化系統或其他系統的感染侵襲神經系統導致短暫的神經系統調節紊亂而引起高熱驚厥。由于高熱驚厥患兒多預后良好，但少部分反復發作患兒病死率較高，因而近年來得到越來越多臨床兒科醫生的關注。

高熱驚厥患兒多預后良好，可能由于其發作持續時間較短，呈一過性，短時間即可恢復正常，且長期正規干預可使發作次數減少，神經系統損傷減小，因而并發癥減少。本研究顯示，高熱驚厥患兒預后良好率82.67%，與皮貴榮[3]等報道的82.00%基本一致。

本研究發現，初發年齡<1歲、持續時間≥10 min、發作次數≥3次是影響高熱驚厥患兒預后的獨立危險因素。高熱驚厥初發年齡越小，預后越差，其原因為年齡越小，患兒機體結構及生理發育越不完善，其中大腦皮質及神經傳導通路發育不全導致興奮傳導障礙、神經細胞異常放電而引起高熱驚厥；另外，由于此階段血腦屏障尚未完全形成，細菌及毒素物質進入腦組織引起顱內感染[4]。高熱驚厥持續時間越長、發作次數越多，腦組織耗氧量越多，缺氧癥狀呈進行性加重，引起腦組織水腫，大腦皮質結構及功能改變，神經細胞經神經傳導通路持續異常放電，進一步加重神經系統的損傷，增加高熱驚厥并發癥發生風險，進而影響預后[5]。

綜上所述，高熱驚厥患兒預后多良好，但也有部分反復發作導致嚴重的神經系統損傷。高熱驚厥預后受多種因素共同影響，因此，臨床中對影響高熱驚厥的危險因素應早期發現、及早預防，并及時采取干預措施，以改善患兒預后，降低病死率。

4參考文獻

[1]American Academy of Pediatrics. Febrile seizures： Guideline for the neurodiagnostic evaluation of the child with a simple febrile seizure[J]. Pediatrics, 2008,121(6)：1 281-1 286.

[2]Pavlidou E, Panteliadis C. Prognostic factors for subsequent epilepsy in children with febrile seizures[J]. Epilepsia, 2013,54(12)：2 101-2 107.

[3]皮貴榮,廖宏.高熱驚厥患兒預后及其影響因素分析[J].醫學理論與實踐,2014,27(8)：1 081-1 083.

[4]Cantalupo G, Meletti S, Miduri A, et al. Facial emotion recognition in childhood： the effects of febrile seizures in the developing brain[J]. Epilepsy Behav, 2013,29(1)：211-216.

[5]孫曉俐,武麗英.熱性驚厥患兒認知功能隨訪調查(附87例臨床分析)[J].臨床醫藥實踐雜志,2007,16(1)：25-26.

(收稿 2015-03-20)

【中圖分類號】R720.597

【文獻標識碼】A

【文章編號】1673-5110(2016)03-0086-02