直流電弧原子發射光譜法測定鈦和鈦合金中微量雜質元素

王 輝，馬曉敏，鄭 偉，王 寬

(西北有色金屬研究院，陜西西安710016)

鈦具有硬度高、無磁性、耐高溫、抗腐蝕的優良特性，在飛機制造、海洋工程等領域被廣泛利用。高純度鈦具有良好的可塑性［1］，但當有雜質存在時變得脆而硬，因此需要對鈦及鈦合金中雜質元素的含量進行準確測定［2-3］，達到生產工藝中對雜質含量進行控制的目的。測定鈦及鈦合金中的雜質元素，現行國家標準方法是采用樣品蒸發溫度較高的直流電弧作為光源［4-7］，攝譜儀測定，需要經過顯影、定影、測量黑度等步驟，操作繁瑣，流程長，引入測量誤差加大。

DC Arc原子發射光譜儀采用中階梯光柵和電荷耦合器件(CCD)，組成了全譜直讀光譜儀(波長范圍200～800 nm)，能更大限度地獲取光譜信息，便于進行光譜干擾和譜線強度空間分布同時測量。分析試樣裝入下電極的小孔中，上電極為圓錐形頭，上下電極均為石墨電極，采用直流電弧陽極激發，在燃弧過程中元素依次進入分析間隙。本文通過選擇合適的激發條件，確定分析線，在譜線波長校正后一次激發，建立了直流電弧(DC Arc)原子發射光譜同時測定鈦及鈦合金中錳錫鉻鎳鋁鉬釩銅鋯釔10種微量雜質元素的分析方法。

1 實驗部分

1.1 儀器及主要試劑

Prodigy DC Arc原子發射光譜儀(美國Leeman公司，電壓220 V)，檢測器為電荷耦合器件(CCD);實驗數據用Salsa軟件處理。

鈦基體:TiO2(光譜純，國藥集團化學試劑有限公司)。

緩沖劑:碳粉(光譜純，國藥集團化學試劑有限公司)，氯化銀(光譜純，國藥集團化學試劑有限公司)。……