侯建華,羅勁松,李顏濤,范 翊*,劉星元
(1.發(fā)光學(xué)及應(yīng)用國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,吉林長(zhǎng)春 130033;2.長(zhǎng)春理工大學(xué),吉林長(zhǎng)春 130022)
基于溶液加工制備方法的聚合物電致發(fā)光器件(Polymer light-emitting diodes,PLEDs)自誕生之日起就受到學(xué)術(shù)和產(chǎn)業(yè)界的廣泛關(guān)注[1]。該項(xiàng)技術(shù)可望在大面積印刷及打印型平板顯示和照明領(lǐng)域得到重要應(yīng)用。目前,PLED的發(fā)光效率和穩(wěn)定性距離實(shí)際應(yīng)用仍有差距。界面修飾是提高PLED性能的有效手段之一。一方面,PLEDs經(jīng)常采用的陽(yáng)極修飾層材料poly(ethylenedioxy-thiophene)∶poly(styrenesulfonate)(PEDOT∶PSS),可通過(guò)降低空穴注入勢(shì)壘、平衡載流子注入/傳輸以及抑制陽(yáng)極一側(cè)漏電流和激子猝滅等實(shí)現(xiàn)器件性能的大幅提升[2-3];另一方面,研究人員已開(kāi)發(fā)出具有水/醇溶解性的陰極界面修飾層材料,基于穩(wěn)定金屬電極(例如金,銀,鋁電極)實(shí)現(xiàn)了高效的電子注入[4],這將為發(fā)展高效和長(zhǎng)壽命PLED器件提供可能。然而,當(dāng)前滿足水/醇溶解性要求的有效陰極界面材料和結(jié)構(gòu)仍然有限,成為PLED研究工作中的薄弱環(huán)節(jié)。當(dāng)前有效的水/醇溶解性陰極界面材料包括兩大類:第一類是含功能性極性離子型側(cè)基(如氨基,磺酸基等)的聚電解質(zhì)[5-6];第 二 類 是 含 功 能 性 極 性 側(cè) 基 (如NH2—,—O—等)的極性共軛中性聚合物[4]。就工作原理而言,極性聚電解質(zhì)基于穩(wěn)定金屬電極實(shí)現(xiàn)有效電子注入主要依賴于界面偶極效應(yīng)和電場(chǎng)依賴的離子遷移兩方面[5]。因此,通常該類界面層材料的注入效果存在明顯的時(shí)間依賴特性,這將影響PLEDs實(shí)際工作中的響應(yīng)時(shí)間。而極性共軛中性聚合物界面材料由于主要基于界面偶極效果實(shí)現(xiàn)有效電子注入,因此不存在電子注入的時(shí)間延遲問(wèn)題。然而,從材料種類而言,當(dāng)前開(kāi)發(fā)的第二類界面材料相對(duì)匱乏。
近期,含磷酸酯功能側(cè)基的聚芴衍生物(PFEP)結(jié)合金屬鋁電極在PLEDs實(shí)現(xiàn)了很好的應(yīng)用,然而其器件應(yīng)用效果和界面注入機(jī)理仍然存在爭(zhēng)議[7]。雖然 PF-EP基于 PF-EP/LiF/Al和 PF-EP/Al兩種結(jié)構(gòu)分別取得了很好的應(yīng)用效果,然而它們二者的直接比較和工作機(jī)理對(duì)比尚未見(jiàn)諸報(bào)道。本文以綠光聚芴類器件為例,詳細(xì)對(duì)比了基于PFEP/LiF/Al和PF-EP/Al兩種陰極界面層結(jié)構(gòu)的器件并進(jìn)行了細(xì)致的討論。最后,基于單電子器件和XPS的分析揭示了PF-EP/LiF/Al作為高效歐姆注入型電子注入結(jié)構(gòu)的可能工作機(jī)理。
我們制備了4種PLED器件:ITO/PEDOT∶PSS(50 nm)/GPFO(140 nm)/PF-EP(30 nm)/LiF(1 nm)/Al(100 nm);ITO/PEDOT∶PSS(50 nm)/GPFO(140 nm)/PF-EP(30 nm)/Al(100 nm);ITO/PEDOT∶PSS(50 nm)/GPFO(140 nm)/LiF(1 nm)/Al(100 nm);ITO/PEDOT∶PSS(50 nm)/GPFO(140 nm)/Al(100 nm)。其中,PEDOT∶PSS(AI4083型號(hào))從Baytron公司購(gòu)買,GPFO和PFEP均依據(jù)文獻(xiàn)[7]合成。
首先,將充分清洗干凈的ITO玻璃基板(3 cm×3 cm)通過(guò)紫外臭氧處理25 min。然后,在其上旋涂約50 nm厚的PEDOT∶PSS空穴注入層,并在設(shè)定為120℃的鼓風(fēng)烘箱中干燥30 min。接下來(lái)將基片傳入具有氮?dú)鈿夥毡Wo(hù)的手套箱中旋涂發(fā)光層,GPFO發(fā)光層溶液濃度為12 mg/mL(甲苯溶劑)。發(fā)光層旋涂后,將基片放置在手套箱中的熱臺(tái)上80℃熱退火處理30 min。下一步是在發(fā)光層基底上旋涂PF-EP的乙醇溶液(3 mg/mL)。最后,將基片傳入熱蒸發(fā)鍍膜機(jī)中蒸鍍LiF和Al電極(厚度分別為1 nm和100 nm),蒸發(fā)速率分別為0.1 nm/s和0.5 nm/s,真空度約為4×10-4Pa。器件面積由ITO陽(yáng)極和Al陰極的交叉面積所確定,為0.14 cm2。對(duì)于XPS測(cè)試樣品,硅片基底上分別旋涂PF-EP(30 nm),然后傳入真空蒸發(fā)臺(tái)中蒸鍍所需的LiF以及Al電極。
所有器件電壓-電流密度-亮度測(cè)試均由電腦控制的Keithley 2400電流-電壓源和PR650光譜儀測(cè)試得到。器件測(cè)試均在室溫和大氣環(huán)境中測(cè)量。XPS測(cè)量?jī)x器為Thermo ESCALAB 250,其中激發(fā)源為單色化的Al Kα線(hν=1 486.8 eV)。
圖1所示為4類器件的結(jié)構(gòu)和GPFO、PF-EP的分子式。器件的區(qū)別在于陰極結(jié)構(gòu)不同。器件A和B均采用了PF-EP的電子注入/傳輸界面修飾層,而C和D則沒(méi)有引入PF-EP。器件B、C均含有LiF界面層。

圖1 器件結(jié)構(gòu)、發(fā)光層材料GPFO和電子注入/傳輸界面修飾層材料PF-EP的分子結(jié)構(gòu)。Fig.1 Device structures,the chemical structures of the emissive layer and electron injection layer.
以上4類器件的電致發(fā)光(EL)性能如圖2所示。首先可以看到,含有PF-EP界面層的器件A和B的EL性能明顯優(yōu)于不含PF-EP的器件C和D。這表明PF-EP修飾層在GPFO作發(fā)光層的器件中起到非常重要的作用。器件A、B、C、D的起亮電壓(亮度為1 cd/m2)分別為3.2,4.4,9.9,11.6 V。器件C相對(duì)于器件D的性能改善源于LiF界面層的引入[8];然而,在缺少PF-EP界面層時(shí),器件C對(duì)D的改善作用是十分有限的。對(duì)比器件A和D可以看到,PF-EP在GPFO和Al之間的引入使得器件性能有了顯著的提升,器件效率從0.2 cd/A提升到了15.0 cd/A。XPS和 UPS的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,PF-EP的引入使得電子注入勢(shì)壘大幅降低。這一效果是由于PF-EP中的磷酸酯聚芴基團(tuán)本征的有利界面偶極以及磷酸酯功能基團(tuán)與Al的配位鍵合作用所致[7]。

圖2 器件A、B、C、D的亮度(L)-電流密度(J)-電壓(V)曲線(a)和電流效率-功率效率-電流密度曲線(b)。Fig.2 Luminance-current density-voltage curves(a),and luminous efficiency-power efficiency-current density curves(b)of the device A,B,C and D.
進(jìn)一步比較器件A和B可以發(fā)現(xiàn),PF-EP/Al的界面處引入LiF使得器件的驅(qū)動(dòng)電壓進(jìn)一步降低。例如,在5 V和10 V的外加偏壓下,采用PFEP/Al陰極和PF-EP/LiF/Al陰極的器件的電流密度分別為 0.067,12.75 mA/cm2和 0.78,49.58 mA/cm2,發(fā)光亮度分別為 6,1 603 cd/m2和 92,3 530 cd/m2。然而,采用 PF-EP/LiF/Al陰極的PLEDs的發(fā)光效率卻低于采用PF-EP/Al陰極的器件,如圖2所示,最大電流效率從15.0 cd/A降至12.0 cd/A。由于器件B的驅(qū)動(dòng)電壓較器件A有顯著的降低,二者的最大流明效率相當(dāng),均為8.2 lm/W。圖3分別給出了器件A和器件B在不同電壓下的EL光譜。對(duì)于采用PF-EP/Al陰極的器件A,EL光譜中除了來(lái)自GPFO材料的位于537 nm的主峰外,還出現(xiàn)了位于436 nm的肩峰,并且隨著外加偏壓的增加,該肩峰的相對(duì)強(qiáng)度逐漸增大。相比之下,對(duì)于采用PF-EP/LiF/Al陰極的器件B,EL光譜完全來(lái)自GPFO發(fā)光層的貢獻(xiàn),而且不同電壓下光譜穩(wěn)定。由于436 nm的發(fā)射峰與基于PF-EP的藍(lán)光器件的EL光譜峰一致,因此器件A的激子復(fù)合區(qū)域靠近GPFO/PF-EP界面,部分激子直接在PF-EP層發(fā)生復(fù)合。而且隨著驅(qū)動(dòng)電壓的增加,激子復(fù)合區(qū)域逐漸向PF-EP側(cè)移動(dòng),導(dǎo)致PF-EP藍(lán)光發(fā)射的相對(duì)強(qiáng)度逐漸增大。對(duì)于采用 PF-EP/LiF/Al陰極的器件 B,EL光譜中完全沒(méi)有PF-EP的貢獻(xiàn),因此器件B的激子復(fù)合區(qū)域更加遠(yuǎn)離GPFO/PF-EP界面。

圖3 器件A和B的電致發(fā)光光譜Fig.3 The electroluminescence spectra of the device A and B(with PF-EP/Al and PF-EP/LiF/Al as cathode,respectively)
器件的J-L-V及EL結(jié)果的對(duì)比分析表明,PF-EP/LiF/Al陰極結(jié)構(gòu)具有更高效的電子注入能力,可使激子復(fù)合區(qū)域遠(yuǎn)離陰極界面。這也同時(shí)說(shuō)明在采用PF-EP/Al陰極的器件A中,PF-EP部分參與EL發(fā)射的原因在于PF-EP/Al陰極的電子注入能力依然有限,使得整個(gè)器件的激子復(fù)合區(qū)域靠近EML/PF-EP界面。盡管如此,采用PF-EP/Al的器件A的發(fā)光效率卻高于采用PFEP/LiF/Al陰極的器件B,這是由于PF-EP/LiF/Al更加有效的電子注入將激子復(fù)合區(qū)域偏移到陽(yáng)極PEDOT∶PSS一側(cè),因而器件效率反而降低了[3]。因此,盡管PF-EP/LiF/Al陰極器件結(jié)構(gòu)具有更有利的電子注入效果并且PF-EP自身的發(fā)光行為不影響器件的 EL光譜穩(wěn)定性,但是,GPFO發(fā)光層中電荷平衡性反而隨之變差。為了更好地體現(xiàn)PF-EP/LiF/Al降低器件驅(qū)動(dòng)電壓、改善器件功率效率的作用,下一步的工作有必要同時(shí)對(duì)PEDOT∶PSS陽(yáng)極實(shí)施修飾。這將充分體現(xiàn)出高效電子注入陰極結(jié)構(gòu)PF-EP/LiF/Al的有益效果。
為了比較PF-EP/Al和PF-EP/LiF/Al的電子注入能力,我們制備了結(jié)構(gòu)為 ITO/PE-EP(75 nm)/Al和ITO/PE-EP(75 nm)/LiF(1nm)/Al(100 nm)的器件。由于PF-EP具有較高的最高占據(jù)分子軌道(Highest occupied molecular orbital,HOMO)(5.5 eV),與電子注入相比,空穴難以從ITO一側(cè)直接注入到PF-EP上。因此,這兩個(gè)器件為單電子型單級(jí)器件。同時(shí),ITO為透明電極,我們可以從器件是否發(fā)光來(lái)判斷是否有空穴注入到了PF-EP內(nèi),據(jù)此來(lái)判定單電子型器件的有效性。如圖4所示,在1.8~4.5 V區(qū)間,兩個(gè)器件的亮度均在儀器檢測(cè)線以下(<1 cd/m2),可以認(rèn)為均為單電子電流區(qū)。采用PF-EP/LiF/Al陰極的器件的注入電子電流密度是基于PF-EP/Al陰極的器件的2.3×105~2.9 ×103倍,如圖4(b)所示。進(jìn)一步對(duì)兩類器件的J-V曲線特性進(jìn)行分析發(fā)現(xiàn):兩器件首先在低驅(qū)動(dòng)電壓下表現(xiàn)為肖特基熱發(fā)射電流(Schottky thermonic current)的行為[9];隨著電壓的增加,采用 PF-EP/LiF/Al陰極的器件進(jìn)入了logJ-logV斜率為2左右的J-V區(qū)間,表明此時(shí)的載流子注入為空間電荷限制(SCLC)行為(J=9/8εε0μE2/L),因此該陰極結(jié)構(gòu)體現(xiàn)出了歐姆式或準(zhǔn)-歐姆式的電子注入行為[10]。對(duì)于采用PF-EP/Al陰極的器件,高驅(qū)動(dòng)電壓下的logJ-logV斜率為7.14,離SCLC的注入要求差距很大,因此為非歐姆式的注入限制接觸。因此,從單電子器件分析結(jié)果發(fā)現(xiàn),PF-EP/LiF/Al的電子注入能力顯著高于PF-EP/Al,通過(guò)LiF層的引入,實(shí)現(xiàn)了非歐姆式注入到歐姆式注入的轉(zhuǎn)變。

圖4 不同陰極結(jié)構(gòu)器件的J-V曲線(a)和兩器件位于單電子電流區(qū)間的J-V放大圖(b)Fig.4 J-V curves of the devices based on different cathode structure(a),and the enlarged curves of the socalled electron-only regions of the top figure(b).
基于LiF界面層的高效電子注入結(jié)構(gòu)如八羥基喹啉鋁(Alq3)/LiF/Al、TmPyPB/LiF/Al等均是基于界面處的三元分解反應(yīng)機(jī)制。即LiF在界面處所參與的配位作用或者解離式反應(yīng)是實(shí)現(xiàn)有效電子注入的關(guān)鍵。而針對(duì)PF-EP/LiF/Al這一有效電子注入的界面,我們基于XPS技術(shù)對(duì)其可能的注入機(jī)理進(jìn)行了研究。圖5分別給出了F元素和Li元素的結(jié)合能演變結(jié)果。
對(duì)于PF-EP/LiF接觸界面,即 LiF在PF-EP層上蒸鍍的情況,沒(méi)有發(fā)生PF-EP與熱蒸鍍的LiF分子之間的化學(xué)反應(yīng)及LiF的自分解反應(yīng),原因是與本征LiF薄膜相比,PF-EP/LiF情況下的Li(1s)和F(1s)的半峰寬(FWHM)沒(méi)有發(fā)生改變。與本征LiF薄膜相比,Li(1s)和F(1s)的峰位結(jié)合能均負(fù)向移動(dòng)了0.4 eV,這是界面偶極等非鍵合效應(yīng)帶來(lái)的影響(PF-EP分子中的磷酸酯基團(tuán)和 LiF 分子均存在大的偶極)[8,11-12]。然而,對(duì)于PF-EP/LiF/Al界面接觸情況,F(xiàn)(1s)的半峰寬從1.48 eV增大到1.76 eV。通過(guò)雙峰Gaussian-Lorentzian擬合,我們分別得到了位于685.4 eV和684.7 eV(本征)的結(jié)合能峰位。對(duì)于Li(1s)而言,盡管它的光電離截面非常低,除了位于55.4 eV的本征峰位之外,我們還觀察到一個(gè)峰位位于約54.8 eV處的肩峰。這表明在 PFEP/LiF/Al的三相界面處,LiF分子發(fā)生了解離反應(yīng)。這與高效電子注入結(jié)構(gòu)Alq3/LiF/Al的界面情況十分相近。Hung[13]和 Le 等[14]分別通過(guò)高能電子能量損失譜(HREELS)和XPS的分析手段得出LiF的分解反應(yīng)也是發(fā)生在三相的接觸界面處,盡管Alq3中的喹啉基團(tuán)具有很強(qiáng)的配位能力[15],但是在Alq3/LiF的兩相界面處仍未發(fā)生鍵合反應(yīng)。這里考慮到磷酸酯基團(tuán)同樣具有強(qiáng)的配位反應(yīng)能力這一特點(diǎn)[16],我們推測(cè)PF-EP/LiF/Al實(shí)現(xiàn)有效電子注入的機(jī)制可能與Alq3/LiF/Al的情況很相似[13-14],即在 PF-EP、LiF 和 Al共存的三相界面處,LiF分子發(fā)生解離,解離之后通過(guò)與磷酸酯基團(tuán)的配位鍵合或?qū)Ρ韺咏佑|PF-EP分子的n-型摻雜途徑最終改善該界面處電子的注入。

圖5 系列樣品LiF中F(1s)和Li(1s)的XPS譜圖((a)圖中的虛線為對(duì)PF-EP/LiF/Al樣品中F1s的高斯-洛倫茲函數(shù)的分峰擬合結(jié)果)Fig.5 XPS spectra of F(1s)and Li(1s)in a series of samples(dashed lines of(a)are Gaussian-Lorentz fitting results of F(1s)of the PF-EP/LiF/Al sample)
磷酸酯聚芴PF-EP做為一種有效的陰極界面修飾材料在聚合物電致發(fā)光器件中得到了很好的應(yīng)用。本文詳細(xì)地對(duì)比了PF-EP/Al和PF-EP/LiF/Al兩種陰極結(jié)構(gòu)在綠光聚芴模型器件中的應(yīng)用情況。結(jié)果表明,采用PF-EP/LiF/Al陰極的器件具有更低的驅(qū)動(dòng)電壓,且器件中完全沒(méi)有PF-EP自身的藍(lán)光發(fā)射;而采用PF-EP/Al陰極結(jié)構(gòu)的器件,器件激子復(fù)合區(qū)位于發(fā)光層和PF-EP界面接觸區(qū),因此盡管電流效率更高,但是器件EL光譜穩(wěn)定性差。單電子器件結(jié)果顯示,PFEP/LiF/Al實(shí)現(xiàn)了歐姆式的電子注入行為,電子電流是相同電壓下采用PF-EP/Al結(jié)構(gòu)的103~105倍。XPS分析結(jié)果顯示,PF-EP/LiF/Al實(shí)現(xiàn)高效注入的原因可能是在三相界面處的LiF分子發(fā)生解離,解離之后通過(guò)與磷酸酯基團(tuán)的配位鍵合或?qū)Ρ韺咏佑|PF-EP分子的n-型摻雜途徑最終改善該界面處電子的注入,與經(jīng)典的Alq3/LiF/Al注入機(jī)理相類似。綜上所述,PFEP/LiF/Al三元復(fù)合陰極結(jié)構(gòu)是一種高效的電子注入結(jié)構(gòu),在優(yōu)化器件陽(yáng)極一側(cè)的PEDOT∶PSS界面修飾層的同時(shí),可望進(jìn)一步提高PLED器件的性能。
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