伏安法測(cè)電阻的誤差數(shù)形分析及其控制的研究
2012-12-31 00:00:00舒象喜
科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào) 2012年24期
摘要：本文對(duì)伏安法測(cè)電阻的兩種方法利用數(shù)學(xué)圖像進(jìn)行了定量的分析，總結(jié)出了待測(cè)電阻、電表內(nèi)阻與測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差的內(nèi)在聯(lián)系及其變化規(guī)律，闡明了如何控制和減小測(cè)量誤差，并對(duì)采用內(nèi)接法或外接法的判別條件進(jìn)行了量化。
關(guān)鍵詞：伏安法 電阻 誤差分析 誤差控制
中圖分類號(hào)：G633.7 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A文章編號(hào)：1674-098X（2012）08（c）-0008-02
