業界首臺變陣列渦流檢測儀（VAECT）問世

2012年7月，由愛德森（廈門）電子有限公司獨創的世界首臺變陣列渦流檢測儀（variable array eddy current testing，簡稱變陣渦流）問世。該儀器具有獨創的128通道任意激勵／接收變換掃描功能，可根據檢測要求隨意設置變換掃描法則，可以快速精確地檢測出任意方向缺陷，單元檢測最高精度達20μm，大大超過了此前業界30μm的極限精度。該功能可進一步擴展至漏磁和磁記憶、聲阻抗的點、線、面陣列調控。

該獨創的功能改變了目前業界較為單一的陣列渦流掃描功能，使陣列渦流具有了與超聲相控陣一樣的可變、多樣、多重性能，形成點、線、面的多頻掃描能力。通過變頻手段，改變渦流在金屬表面的集膚深度，檢測范圍、速度、精度都得到了進一步的提高。該功能具有自主知識產權，功能定義也將寫入相關國家標準中。

附：術語定義

變陣渦流檢測

variable array eddy current testing

點、線、面陣列渦流探頭中各陣元線圈激勵／接收方式可以改變的一種陣列渦流檢測技術。

變陣渦流掃描規則

variable array eddy current scanning rule

根據檢測要求，采用電子切換技術改變和控制陣列渦流探頭中每個陣元的激勵順序及頻率、強度、濾波等參數的激勵／接收方式。