西安電子科技大學(xué)在鐵電場效應(yīng)晶體管（FeFET）存儲和存算技術(shù)領(lǐng)域取得重要進(jìn)展

據(jù)西安電子科技大學(xué)網(wǎng)站，近日，西安電子科技大學(xué)杭州研究院（西電杭研院）韓根全教授課題組在鐵電場效應(yīng)晶體管（FeFET）存儲和存算技術(shù)領(lǐng)域取得重要進(jìn)展，相關(guān)研究成果以“Low-power Edge Detection Based on Ferroelectric Field-Effect Transistor”為題發(fā)表于《自然·通訊》。

傳統(tǒng)的邊緣檢測方法計算復(fù)雜，耗電多，效率低，不適合資源有限的環(huán)境。為了解決這個問題，研究團(tuán)隊基于FeFET芯片實現(xiàn)了一種新的算法和特征匹配技術(shù)，硬件設(shè)計簡單高效，不需要復(fù)雜的卷積計算，也不依賴ADC。通過簡單的接口，系統(tǒng)能直接通過電流信號來區(qū)分信息，大大降低了功耗和硬件復(fù)雜度。實驗表明，該系統(tǒng)在每次操作時只消耗極少的能量，卻能高效完成圖像邊緣檢測，且精度穩(wěn)定。與傳統(tǒng)方法相比，它減少了硬件占用和計算復(fù)雜度，為邊緣計算提供了低功耗的解決方案。

這一成果為解決邊緣智能功耗和性能問題提供了新思路，也對物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備和嵌入式系統(tǒng)的硬件開發(fā)有重要影響。