彈載計(jì)算機(jī)的A/D采集誤差自動(dòng)校正方法研究與實(shí)現(xiàn)＊

孫妍，張淑舫，朱薛洋

彈載計(jì)算機(jī)的A/D采集誤差自動(dòng)校正方法研究與實(shí)現(xiàn)＊

孫妍，張淑舫，朱薛洋

（天津津航計(jì)算技術(shù)研究所，天津 300308）

彈載計(jì)算機(jī)是導(dǎo)彈武器系統(tǒng)內(nèi)的核心部件，A/D采集接口是其重要的對(duì)外接口之一。由于存在外界干擾和電路阻抗匹配性不合理等因素，將會(huì)導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)存在較大誤差。在對(duì)A/D采集系統(tǒng)特點(diǎn)進(jìn)行分析的基礎(chǔ)上，提出了一種基于最小二乘原理的A/D采集誤差自動(dòng)校正方法，并提供了系統(tǒng)設(shè)計(jì)架構(gòu)和具體實(shí)現(xiàn)步驟。經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證該方法簡(jiǎn)便可行，能夠有效地減小A/D采集誤差，提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。

彈載計(jì)算機(jī)；A/D采集；最小二乘法；誤差校正

彈載計(jì)算機(jī)是飛航導(dǎo)彈武器系統(tǒng)的重要電子設(shè)備，可獨(dú)立存儲(chǔ)、運(yùn)算、完成指定解算任務(wù)及數(shù)據(jù)傳輸任務(wù)。彈載計(jì)算機(jī)是導(dǎo)彈控制的核心部件，決定著導(dǎo)彈攻擊任務(wù)的成敗，其作為整個(gè)導(dǎo)彈控制系統(tǒng)的“大腦”，有著較為復(fù)雜的電氣功能及對(duì)外接口[1]。它與機(jī)載指揮儀、慣導(dǎo)系統(tǒng)和舵系統(tǒng)、無(wú)線電高度表、末制導(dǎo)導(dǎo)引頭、彈上電氣系統(tǒng)、遙測(cè)設(shè)備、地面測(cè)試系統(tǒng)、動(dòng)靜壓傳感器、動(dòng)力系統(tǒng)設(shè)備等協(xié)同工作，完成對(duì)導(dǎo)彈的檢測(cè)、測(cè)試和飛行控制等任務(wù)。

數(shù)據(jù)信號(hào)采集是彈載計(jì)算機(jī)獲取信息的重要途徑，是彈載計(jì)算機(jī)與外部世界連接的紐帶[2]。導(dǎo)彈上的模擬量信號(hào)，無(wú)論是以電壓、電流還是電阻的信號(hào)形式，最終都要轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理。而A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)是信號(hào)采集的核心，A/D轉(zhuǎn)換是通過(guò)將輸入的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為輸出信號(hào)為N位二進(jìn)制數(shù)字量的技術(shù)[3-4]。A/D采集接口在處理器模塊的控制下，采集來(lái)自舵機(jī)系統(tǒng)和壓力傳感器等的模擬量信號(hào)，用于導(dǎo)彈射前檢查，完成對(duì)導(dǎo)彈飛行姿態(tài)的控制等。

在實(shí)際使用過(guò)程中，由于各種外界干擾（如電源的波動(dòng)干擾、信號(hào)的電磁干擾）、硬件電路布線不合理、輸入輸出阻抗匹配性差等原因，會(huì)出現(xiàn)較大的數(shù)據(jù)采集與處理誤差，造成整個(gè)導(dǎo)彈系統(tǒng)可靠性和穩(wěn)定性降低，影響導(dǎo)彈在發(fā)射和飛行過(guò)程中的飛行姿態(tài)、航跡、速度等控制，甚至釀成重大事故[5]。本文提出了一種面向彈載計(jì)算機(jī)的A/D采集誤差自動(dòng)校正方法，基于最小二乘法的原理，將A/D采集的實(shí)際值與理論值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，得到誤差校正參數(shù)，利用校正參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行采集數(shù)據(jù)的標(biāo)定。此方法實(shí)現(xiàn)起來(lái)簡(jiǎn)單、便捷，可有效地減小采集系統(tǒng)誤差，提高系統(tǒng)可靠性。

1 系統(tǒng)總體架構(gòu)

彈載計(jì)算機(jī)的A/D接口在彈上通常與舵系統(tǒng)相連，用于采集舵回路反饋位置傳感器等模擬量信號(hào)。在彈載計(jì)算機(jī)出廠前，必須對(duì)其A/D接口的功能和性能進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試系統(tǒng)總體架構(gòu)如圖1所示。

圖1 系統(tǒng)總體架構(gòu)示意圖

測(cè)試設(shè)備選用的是加固便攜式工業(yè)計(jì)算機(jī)，提供CPCI總線擴(kuò)展槽，內(nèi)插自主研制開(kāi)發(fā)的6U CPCI-DA接口板和CPCI-1553B總線接口板。D/A接口板用于模擬舵機(jī)系統(tǒng)，向彈載計(jì)算機(jī)的A/D模塊輸出模擬量信號(hào)，可提供20路﹣10～10 V的D/A輸出激勵(lì)信號(hào)，變化速率為5 V/μs，寫入數(shù)據(jù)至輸出電壓建立時(shí)間最長(zhǎng)為10 μs，單通道連續(xù)采樣時(shí)間不長(zhǎng)于10 μs[6]。CPCI-1553B總線接口板提供符合MIL-STD-1553B標(biāo)準(zhǔn)的通信接口，用于向彈載計(jì)算機(jī)發(fā)送測(cè)試命令和接收A/D采集數(shù)據(jù)。處理器模塊選用Xilinx公司推出的Zynq_7000系列全可編程片上系統(tǒng)（SoC，System on a Chip），其是異構(gòu)架構(gòu)的典型代表，把專用的嵌入式ARM Cortex-A9雙核處理器和通用的大規(guī)模現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列FPGA結(jié)合在單個(gè)芯片中，將專用處理器的串行執(zhí)行和FPGA的并行執(zhí)行完美結(jié)合，靈活地用于各種應(yīng)用場(chǎng)合[7-8]。

測(cè)試流程為測(cè)試設(shè)備首先通過(guò)D/A接口板發(fā)送D/A輸出信號(hào)（﹣10～10 V），再通過(guò)1553B總線接口板發(fā)送“A/D舵反饋接口測(cè)試命令”，處理器模塊接收到測(cè)試命令后進(jìn)行AD采樣，并將A/D采樣數(shù)據(jù)和命令執(zhí)行狀態(tài)加載到1553B的發(fā)送子地址，由測(cè)試設(shè)備進(jìn)行誤差判定和顯示。這樣可以全面地考察A/D接口的功能和性能。

2 A/D采集模塊設(shè)計(jì)

A/D 采集常引入信號(hào)干擾，干擾的存在影響了采集信號(hào)的質(zhì)量，降低了系統(tǒng)控制性能。由于實(shí)際應(yīng)用中不可避免地存在電磁場(chǎng)耦合干擾、電氣設(shè)備干擾、共模干擾等，很難從源頭上消除，因而常采用切斷干擾傳播途徑的方法對(duì)干擾進(jìn)行抑制[9]。通常A/D采集模塊由多路模擬開(kāi)關(guān)、增益放大、A/D轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器、模數(shù)轉(zhuǎn)換控制、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元等部分組成[10]。A/D采集模塊組成如圖2所示。

在模擬信號(hào)進(jìn)入A/D轉(zhuǎn)換器前，需經(jīng)過(guò)信號(hào)調(diào)理電路進(jìn)行轉(zhuǎn)換信號(hào)的調(diào)理、濾波及放大，從而達(dá)到A/D轉(zhuǎn)換器的輸入電平要求，以充分利用A/D轉(zhuǎn)換器的滿量程分辨率。模擬信號(hào)經(jīng)過(guò)一級(jí)有源低通濾波器、一級(jí)運(yùn)算放大器，將信號(hào)調(diào)整到±10 V范圍內(nèi)，之后經(jīng)過(guò)一級(jí)電壓跟隨器至A/D轉(zhuǎn)換器，采集到的信息送給數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元，經(jīng)FPGA可編程邏輯門陣列進(jìn)行信息處理，最終送到中央處理單元進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。

設(shè)計(jì)中使用了信號(hào)放大AD8031芯片、數(shù)據(jù)采樣AD7476芯片、數(shù)據(jù)隔離器ADuM5412芯片。其中，AD8031是一款單電源電壓反饋性放大器，采用2.7～12 V單電源，適合于各種各樣的應(yīng)用[11]。AD7476是一款典型的12位逐次逼近型轉(zhuǎn)換器，采集速率可達(dá)1 MSPS，單電源5 V供電，具有低功耗、低電壓的特點(diǎn)，可用于電池電壓系統(tǒng)的ADC數(shù)據(jù)采樣[12]。ADuM5412是一款集成isoPower隔離式DC-DC轉(zhuǎn)換器的四通道數(shù)字隔離器，能夠調(diào)節(jié)3.15～5.25 V的穩(wěn)壓隔離電源，本設(shè)計(jì)中該芯片用來(lái)將模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)隔開(kāi)。具體電路設(shè)計(jì)如圖3所示。

圖2 A/D采集模塊組成框圖

圖3 信號(hào)調(diào)理和A/D采集電路圖

A/D轉(zhuǎn)換電路工作過(guò)程為，處理器模塊先發(fā)選通道信號(hào)，再發(fā)啟動(dòng)轉(zhuǎn)換信號(hào)，然后讀取A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果。多路單端模擬量輸入經(jīng)多路模擬開(kāi)關(guān)，被選擇通道的模擬量送到A/D轉(zhuǎn)換器的模擬信號(hào)輸入端，在啟動(dòng)轉(zhuǎn)換信號(hào)的控制下，A/D轉(zhuǎn)換器開(kāi)始進(jìn)行轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換時(shí)間為20～35 μs。轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)低12位為轉(zhuǎn)換結(jié)果。

3 誤差校正方法

在實(shí)際控制過(guò)程中，由于電源的波動(dòng)干擾、信號(hào)的電磁干擾、阻抗匹配性差等因素影響，會(huì)出現(xiàn)較大的A/D數(shù)據(jù)采集誤差，因此要獲得穩(wěn)定、可靠、接近真實(shí)值的數(shù)據(jù)就必須要進(jìn)行誤差校正。為了有效地進(jìn)行誤差校準(zhǔn)，通常會(huì)采用各種軟件濾波算法，比如多次采集取平均值的濾波算法、滑動(dòng)平均濾波算法、卡爾曼濾波算法等。以往使用較多的是一種軟件濾波的改進(jìn)算法，比均值濾波算法更加有效。對(duì)每路A/D通道連續(xù)采集多次，首先將采集到的多個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，去掉一個(gè)最大值和一個(gè)最小值，中間剩下的將是比較穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，用這部分?jǐn)?shù)據(jù)再求平均值，將會(huì)得到一個(gè)誤差比較小的有效值[13]。這種濾波算法通常會(huì)起到一定的誤差校正作用，但是在強(qiáng)干擾或是阻抗匹配性較差的情況下，這種濾波算法仍然不能滿足A/D采集的高精度要求。

本文提出了利用最小二乘法的原理，將各個(gè)通道的A/D采集的實(shí)際值與理論值進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合，得到誤差校正參數(shù)，利用校正參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行采集數(shù)據(jù)的標(biāo)定，標(biāo)定后的采集數(shù)值可以更加接近理論值。

4 標(biāo)定步驟

由測(cè)試設(shè)備軟件設(shè)計(jì)一組測(cè)試值，由于測(cè)試電壓值范圍為﹣10～10 V，因此測(cè)試值數(shù)組設(shè)定為ADData[10]=[﹣10，﹣8，﹣6，﹣4，﹣2，0，2，4，6，8，10]（單位為V）。如果被測(cè)彈載計(jì)算機(jī)有N路A/D采集接口，則相應(yīng)的測(cè)試設(shè)備需要有N路D/A輸出接口與其相連接。測(cè)試設(shè)備通過(guò)CPCI-DA接口板依次輸出上述電壓值，由于測(cè)試線纜也會(huì)帶來(lái)一定的誤差，因此要用高精度數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量線纜后端（連接被測(cè)系統(tǒng)端）的電壓值i作為輸入電壓的理想值，測(cè)量A/D采集模塊經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器后采集到的電壓值i作為采樣的實(shí)際值。用i和i兩組數(shù)值經(jīng)過(guò)最小二乘法數(shù)據(jù)擬合完成參數(shù)標(biāo)定。

5 最小二乘法數(shù)據(jù)擬合

最小二乘法是一種數(shù)字優(yōu)化技術(shù)。它通過(guò)使誤差的平方和最小化來(lái)尋找數(shù)據(jù)的最佳函數(shù)匹配。利用最小二乘法可以簡(jiǎn)便地求得未知的數(shù)據(jù)，并使得這些求得的數(shù)據(jù)與實(shí)際數(shù)據(jù)之間誤差的平方和最小[14-15]。

設(shè)（i，i），= 1，2，…，為一組測(cè)量數(shù)據(jù)，i為A/D采集模塊采集到的實(shí)際電壓值，i為輸入電壓的理想值，為數(shù)據(jù)組的個(gè)數(shù)，其近似地滿足以下函數(shù)：

=a+b （1）

式（1）中：常數(shù)a和常數(shù)b為要標(biāo)定的校正參數(shù)[16]。

根據(jù)最小二乘法原理，a和b的選擇是根據(jù)偏差的平方

根據(jù)上述公式，利用MATLAB軟件或Visual C++軟件編程得到校正參數(shù)a和b。

6 校正誤差參數(shù)裝訂方法

假設(shè)彈載計(jì)算機(jī)具有個(gè)A/D采集通道，由于各個(gè)通道是相互獨(dú)立的，每個(gè)通道擬合出2個(gè)校正參數(shù)，則共有2×個(gè)參數(shù)。通過(guò)工具軟件得到的校正參數(shù)通常為double類型的浮點(diǎn)數(shù)，在Zynq-7000處理器底層軟件中將每個(gè)參數(shù)通過(guò)union聯(lián)合的方式轉(zhuǎn)換成4個(gè)UCHAR類型的整型參數(shù)，則共有8×個(gè)整型參數(shù)，將這些參數(shù)生成一個(gè)參數(shù)配置表，寫到對(duì)應(yīng)產(chǎn)品FLASH存儲(chǔ)器的參數(shù)配置區(qū)域。在產(chǎn)品每次上電后，首先從FLASH的參數(shù)配置區(qū)讀取校正參數(shù)，并寫入FPGA提供的參數(shù)配置寄存器中，然后對(duì)參數(shù)進(jìn)行解析，將UCHAR類型的參數(shù)轉(zhuǎn)換成double類型的參數(shù)，得到每個(gè)A/D通道的校正參數(shù)a和參數(shù)b存入全局?jǐn)?shù)組變量中。由A/D采集模塊得到的電壓值，經(jīng)過(guò)公式=a+b計(jì)算后，可得到更理想的電壓值，通過(guò)這種方法可實(shí)現(xiàn)多通道A/D采集誤差的自動(dòng)校正。

7 實(shí)驗(yàn)和驗(yàn)證

7.1 實(shí)驗(yàn)環(huán)境和實(shí)驗(yàn)設(shè)置

本文采用某型導(dǎo)彈武器系統(tǒng)內(nèi)兩種不同類型彈載計(jì)算機(jī)（TYPE1-2）作為驗(yàn)證產(chǎn)品，實(shí)驗(yàn)對(duì)象既包含功能復(fù)雜度高的集成一體機(jī)，也包括功能相對(duì)簡(jiǎn)單的綜合控制計(jì)算機(jī)。其中TYPE1具有4路A/D采集通道，TYPE2具有3路A/D采集通道。

按照?qǐng)D1所示建立驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)，以某臺(tái)產(chǎn)品的某一A/D采集通道為例，按照誤差校正方法詳細(xì)記錄了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，如表1所示。

按照上述公式求得擬合方程式=1.001 43+0.001 27，其他通道實(shí)驗(yàn)記錄方法類似。

針對(duì)這兩型彈載計(jì)算機(jī)分別選取5臺(tái)不同批次產(chǎn)品用于實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目累計(jì)測(cè)試時(shí)間為：常溫拷機(jī)試驗(yàn)100 h（累計(jì)測(cè)試次數(shù)50 000次）、環(huán)篩高低溫試驗(yàn)80 h（累計(jì)測(cè)試次數(shù)40 000次）、功能振動(dòng)試驗(yàn)3 h（累計(jì)測(cè)試次數(shù)1 500次）。實(shí)驗(yàn)考察的指標(biāo)為每個(gè)A/D通道采集的最大誤差值，由測(cè)試設(shè)備軟件將各個(gè)通道CPCI-DA接口板輸出的電壓值與A/D采集的電壓值作對(duì)比并取絕對(duì)值，計(jì)算公式為：

DA－AD

在所有實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目結(jié)束后，對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，找到每個(gè)通道的最大誤差值Max。采用以往的均值濾波改進(jìn)算法和最小二乘標(biāo)定法在同樣的試驗(yàn)條件下分別進(jìn)行測(cè)試。

7.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析

兩型彈載計(jì)算機(jī)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果如表2、表3和表4所示，綜合實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以得出以下結(jié)論：①均值濾波改進(jìn)算法和最小二乘標(biāo)定算法都可滿足最大誤差值不超過(guò)25 mV的技術(shù)指標(biāo)；②基于最小二乘原理的A/D采集誤差自動(dòng)標(biāo)定方法簡(jiǎn)單易行，將參數(shù)標(biāo)定問(wèn)題轉(zhuǎn)換為線性擬合問(wèn)題，數(shù)學(xué)概念明確，可使經(jīng)過(guò)校正后的采集值更加接近真實(shí)值；③對(duì)比以往的均值濾波算法及其改進(jìn)算法，用本文實(shí)現(xiàn)的誤差自動(dòng)校正方法對(duì)兩型彈載計(jì)算機(jī)在不同試驗(yàn)環(huán)境下進(jìn)行檢測(cè)，其最大誤差值均可有效的減小，具有更高的可靠性。

表1 單A/D通道測(cè)量數(shù)據(jù)

i1234567891011 xi(單位：V)﹣9.982﹣7.986﹣5.991﹣3.996﹣1.990﹣0.000 11.9913.9955.9927.9879.983 yi(單位：V)﹣9.995﹣7.996﹣5.997﹣3.998﹣1.99901.9993.9975.9987.9979.996

表2 常溫拷機(jī)試驗(yàn)測(cè)試指標(biāo)

Type校正前采集值均值濾波改進(jìn)算法最小二乘標(biāo)定法 通道DiffMax/mV通道DiffMax/mV通道DiffMax/mV 1117.319.713.3 214.227.622.2 316.939.433.9 416.148.242.1 2120.3112.917.3 219.9211.426.9 319.5312.637.5

表3 環(huán)篩高低溫試驗(yàn)測(cè)試指標(biāo)

Type校正前采集值均值濾波改進(jìn)算法最小二乘標(biāo)定 通道DiffMax/mV通道DiffMax/mV通道DiffMax/mV 1120.7111.415.9 217.929.525.2 319.8312.036.4 419.249.943.9 2123.7114.619.7 223.6211.826.3 323.0313.538.8

表4 功能振動(dòng)測(cè)試指標(biāo)

Type校正前采集值均值濾波改進(jìn)算法最小二乘標(biāo)定 通道DiffMax/mV通道DiffMax/mV通道DiffMax/mV 1124.9115.718.6 222.1213.628.4 324.0318.5312.9 423.7412.746.8 2132.9118.8110.1 231.4215.6210.8 332.6317.4312.3

8 結(jié)束語(yǔ)

本文提出并實(shí)現(xiàn)了一種面向彈載計(jì)算機(jī)的A/D采集模塊誤差自動(dòng)校正方法，采用最小二乘法的原理擬合出校正參數(shù)，并寫入被測(cè)產(chǎn)品的FLASH存儲(chǔ)器中。產(chǎn)品上電后由處理器軟件從FLASH的參數(shù)配置區(qū)讀取校正參數(shù)，根據(jù)擬合公式獲得最終的采集值，可完成誤差的自動(dòng)校正。

經(jīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，此方法簡(jiǎn)單易行，可廣泛應(yīng)用于彈載計(jì)算機(jī)的A/D采集模塊，達(dá)到有效減小采集誤差、提高系統(tǒng)可靠性的目的。

［1］景德勝.基于多核處理器的彈載計(jì)算機(jī)低功耗設(shè)計(jì)研究［J］.微型機(jī)與應(yīng)用，2016，35（10）：28-29，32.

［2］梁葆華，陳欣，呂迅竑.一種支持雙余度CAN總線接口的A/D采集單元設(shè)計(jì)［J］.航空計(jì)算技術(shù)，2008，38（2）：107-110．

［3］馬海潮.超高速數(shù)據(jù)采集技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀［J］.測(cè)試技術(shù)學(xué)報(bào)，2003，17（4）：287-292．

［4］JIN-KUI Z.Common mode interference & differential mode interference and their restraining technologies［J］. Electronics Quality，2006（5）：26.

［5］原兵兵，陳欣，徐敏.一種飛行控制計(jì)算機(jī)高精度A/D采集單元設(shè)計(jì)與研究［J］.電光與控制，2017，24（5）：82-86.

［6］劉憲忠，孫妍，張淑舫.面向彈載計(jì)算機(jī)的ATE通用平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)［J］.計(jì)算機(jī)工程，2018，44（7）：60-66，73.

［7］杜金艷，葉旭鳴.基于Zynq_7000的SRIO高速數(shù)據(jù)傳輸設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)［J］.電子設(shè)計(jì)工程，2017，25（24）：30-33.

［8］何賓.Xilinx all programmable Zynq-7000Soc［M］.北京：清華大學(xué)出版社，2013．

［9］龔征華，龐明，周冠澤，等.基于PIC單片機(jī)的A/D采集模塊實(shí)現(xiàn)［J］.微型電腦應(yīng)用，2016，21（1）：1-3.

［10］董建樹(shù)，孫宏超，王惠，等.一種高分辨率積分輸出的A/D轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計(jì)［J］.導(dǎo)航定位與授時(shí)，2018，5（1）：93-99.

［11］孟青，蘇承啟，任勇峰，等.基于AD8031多通道采編器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)［J］.計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制，2012，20（11）：3057-3062.

［12］王連華.基于FPGA和高速串行接口AD轉(zhuǎn)換器AD7476的接口應(yīng)用［J］.電子制作，2016（22）：6.

［13］黃健，張善文，周端.基于STM32的A/D采樣軟件濾波改進(jìn)算法研究［J］.儀器技術(shù)與傳感器，2016（3）：83-85.

［14］劉穎.基于抗差最小二乘法的諧波狀態(tài)估計(jì)方法研究［D］.北京：華北電力大學(xué)，2012.

［15］何旭平，任保勝，祁玉斌.基于最小二乘法的吸咀吸收壓力的研究［J］.電子工業(yè)專用設(shè)備，2017（4）：56-59.

［16］XU Z M，WEN X Q，ZHENG J，et al.Cooling water fouling resistance prediction of plate heat exchanger based on partial least squares regret -ssion［J］.CIESC Journal，2011，62（6）：1531-1536.

TP23

A

10.15913/j.cnki.kjycx.2019.19.004

2095－6835（2019）19－0012－04

孫妍（1986—），女，碩士研究生，工程師，研究方向?yàn)榍度胧接?jì)算機(jī)軟件設(shè)計(jì)及測(cè)試。張淑舫（1970—），女，碩士，高級(jí)工程師，研究方向?yàn)榭煽啃栽O(shè)計(jì)。朱薛洋（1984—），男，碩士，高級(jí)工程師，研究方向?yàn)榍度胧讲僮飨到y(tǒng)軟件設(shè)計(jì)。

中國(guó)航天科工集團(tuán)公司2011年度可靠性保障工程計(jì)劃（天工技〔2011〕976號(hào)，編號(hào)：B201111）

〔編輯：張思楠〕