金剛石在目前所知的天然物質中具有最高的熱導率,室溫下的導熱系數高達2000Wm-1K-1,是碳化硅導熱系數的四到五倍。作為襯底材料,金剛石可以以數百納米的尺寸沉積在GaN信道內,使晶體管設備在工作時能夠有效散熱。在高頻、大功率GaN 基高電子遷移率晶體管(HEMT)和電路的散熱方面極有應用潛力。
Felix Ejeckam于2003年發明了金剛石上的GaN,以有效地從GaN晶體管中最熱的位置提取熱量。其基本理念是利用較冷的GaN放大器使系統更節能,減少浪費。金剛石上的GaN晶片是通過GaN通道或外延將其從原始的Si襯底中剝離下來,而后通過一個35 nm的SiN界面層結合在CVD合成的金剛石襯底上。這種200°C的GaN通道與CVD形成納米級的金剛石是接近最導熱工業材料,它會大大降低放大器的基板和通道之間的溫度上升。多年來,許多課題組已經量化了上述的熱改善。先將Si基GaN HEMT晶圓片黏貼到一個臨時Si載片上,待原始的硅基板被蝕刻掉,然后利用CVD方法在GaN層下方的35 nm的界面層上沉積金剛石。最后,臨時的Si載體被蝕刻,最終的金剛石上的GaN晶圓被加工為HEMTs或MMICs。
與SiC基GaN相比,如果GaN MMIC產生的熱量可以降低40%到50%,那么就可以將更大的功率密度壓縮到更小的體積空間中。功率是下行數據速率計算的直接參數,功率越高,傳送的信息越多。在非常緊湊的空間中,使用金剛石上GaN可以降低對于冷卻系統的要求。因為與使用標準的SiC基GaN功率放大器相比,金剛石上GaN的使用可以允許環境溫度升高得更高,同時不會降低性能與可靠性。冷卻裝置的減少也意味著重量和尺寸的減少。 (百度新聞)