大型發(fā)電機(jī)定子線圈介質(zhì)損耗因數(shù)測量方法研究

1、前言

發(fā)電機(jī)定子線圈介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）的大小與定子線圈絕緣的固化程度，氣隙含量，材料等材料有關(guān)，是檢驗發(fā)電機(jī)定子線棒制造質(zhì)量好壞的依據(jù)。定子線圈介質(zhì)損耗因數(shù)的大小不僅影響線圈本身壽命，同時也對發(fā)電機(jī)整體絕緣壽命產(chǎn)生至關(guān)重要的影響。

2、測試?yán)碚?/p>

線圈絕緣在不同電壓下的損耗因數(shù)是發(fā)生在絕緣結(jié)構(gòu)中諸多現(xiàn)象的最終結(jié)果。利用不同電壓下介質(zhì)損耗因數(shù)的測試和數(shù)據(jù)分析可以評定絕緣系統(tǒng)優(yōu)劣。介質(zhì)損耗因數(shù)的抬頭值tanδ0.2UN用于評判絕緣系統(tǒng)的固化狀態(tài)。如果固化完全則抬頭值通常與被測絕緣系統(tǒng)材料一致。tanδ0.2UN越小表明絕緣材料越好，絕緣結(jié)構(gòu)內(nèi)部固化程度越高；如果tanδ0.2UN明顯高于正常值說明線圈的絕緣結(jié)構(gòu)內(nèi)部有異常，如絕緣材料成分異?；騼?nèi)部固化不完全。隨著電壓的升高，線圈的tanδ將會發(fā)生變化。固體絕緣中的某些缺陷，如樹脂固化未完全、離子雜質(zhì)成分污染、絕緣分層、浸漬未完全、粘接不牢固以及較大的空間放電損耗，都可能引發(fā)tanδ值隨電壓變化的增加或減小。tanδ是反映絕緣介質(zhì)損耗大小的特性參數(shù)，與絕緣體積大小無關(guān)。如果被測部位絕緣內(nèi)的缺陷不是分布性而是集中性的，則 有時反應(yīng)就不靈敏。被試絕緣的體積越大，或集中性缺陷所占體積越小，那么集中性缺陷處的介質(zhì)損耗占被試絕緣全部介質(zhì)中的比重就越小，總體的tanδ增加的也越少。

3、試驗設(shè)備

3.1高壓電源。試驗時使用的電源應(yīng)為工頻交流電源，電壓波形為正弦波，電壓頻率為工業(yè)頻率50/60Hz，電壓額定容量應(yīng)滿足試品要求，電壓振幅穩(wěn)定性在±1.5%以內(nèi)，電壓波形畸變率應(yīng)符合GB755的規(guī)定?！?br>