新生兒低血糖腦損傷的臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)分析

丁忠蓮

(商丘市第四人民醫(yī)院兒科 河南商丘 476100)

新生兒低血糖腦損傷是新生兒時(shí)期較為常見(jiàn)的中樞神經(jīng)系統(tǒng)疾病，好發(fā)于早產(chǎn)兒或小胎齡兒，臨床癥狀及體征多出現(xiàn)于出生后數(shù)小時(shí)至1周內(nèi)，但其表現(xiàn)并無(wú)特異性，且較多患兒呈無(wú)癥狀性低血糖，故容易導(dǎo)致患兒神經(jīng)系統(tǒng)出現(xiàn)不可逆損傷，進(jìn)而遺留不同程度認(rèn)知障礙、腦癱或癲癇等后遺癥［1］。目前臨床對(duì)于本病重點(diǎn)在于早預(yù)防、早診斷、早治療，但對(duì)于患兒血糖閥值、時(shí)間閥值上則仍存在爭(zhēng)議。腦電圖監(jiān)測(cè)是當(dāng)前被應(yīng)用于反映腦功能狀態(tài)、損傷程度的重要手段，本次研究重點(diǎn)在于探討新生兒低血糖腦損傷的臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)的關(guān)系，具體報(bào)告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取2010年1月至2013年12月商丘市第四人民醫(yī)院收治的30例低血糖性新生兒，均符合《實(shí)用新生兒學(xué)》的相關(guān)診斷標(biāo)準(zhǔn)［2］，血糖水平＜2.2 mmol/L，排除因其他疾病所致的中樞神經(jīng)系統(tǒng)損傷，如新生兒缺氧缺血性腦病、新生兒呼吸窘迫綜合征、新生兒敗血癥或新生兒顱內(nèi)出血等。30例患兒中男17例，女13例，胎齡32～41周，平均(38.7±0.9)周;其中足月兒19例，早產(chǎn)兒11例;新生兒出生體質(zhì)量1800～4500 g，平均(2811.4±344.4)g。根據(jù)患兒有無(wú)癥狀，將其分為癥狀性低血糖組與無(wú)癥狀性低血糖組，各15例。兩組患兒性別、胎齡及出生體質(zhì)量等一般資料比較，差異無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P＞0.05)，具有可比性。

1.2 研究方法 血糖檢測(cè):取患兒末梢血進(jìn)行血糖檢測(cè)，若存在異常則取靜脈血，若兩者檢測(cè)結(jié)果均提示低血糖，即可確診。隨后行動(dòng)態(tài)血糖監(jiān)測(cè)，直至血糖穩(wěn)定，以最后1次所測(cè)低血糖值作為研究數(shù)據(jù)。腦電圖監(jiān)測(cè):腦電圖監(jiān)測(cè)儀器為南京偉思科技16導(dǎo)數(shù)字腦電圖機(jī)，于發(fā)現(xiàn)血糖低的24～48 h內(nèi)進(jìn)行腦電圖監(jiān)測(cè)，并根據(jù)監(jiān)測(cè)結(jié)果的異常程度將腦損傷分為正常、輕度、中度及重度4個(gè)等級(jí)。

1.3 觀察指標(biāo) 觀察兩組患兒血糖檢測(cè)結(jié)果及不同血糖水平、低血糖持續(xù)時(shí)間及有無(wú)癥狀等臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)異常率的關(guān)系［3］。

1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法 本研究采用SPSS 18.0統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件進(jìn)行處理，定量資料采用均數(shù)加減標(biāo)準(zhǔn)差()表示，行t檢驗(yàn)，定性資料采用χ2檢驗(yàn)，P＜0.05為差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

2.1 血糖檢測(cè)結(jié)果 癥狀性低血糖組與無(wú)癥狀性低血糖組的入院血糖水平分別為(0.8±0.3)mmol/L、(1.6±0.2)mmol/L，持續(xù)時(shí)間分別為(46.2±19.4)h、(20.8±11.6)h，組間比較，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P＜0.05)。

2.2 低血糖臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)結(jié)果的關(guān)系 血糖水平＞1.7 mmol/L、持續(xù)時(shí)間＞12 h、有癥狀性低血糖患者的腦電圖異常率均明顯高于血糖水平≤1.7 mmol/L、持續(xù)時(shí)間≤12 h、無(wú)癥狀性低血糖患者，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P＜0.05)。見(jiàn)表1。

表1 低血糖臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)結(jié)果關(guān)系(n，%)

3 討論

新生兒低血糖癥是兒科臨床較為常見(jiàn)的代謝紊亂性疾病，經(jīng)研究認(rèn)為，孕產(chǎn)婦圍生期與胎兒期各種因素均可能影響新生兒的糖代謝，致使新生兒低血糖的發(fā)生［4］。新生兒低血糖癥會(huì)對(duì)新生兒的中樞神經(jīng)系統(tǒng)造成破壞，輕者可能出現(xiàn)腦損傷，重者可能死亡。故早期發(fā)現(xiàn)低血糖，探尋有效的早期評(píng)價(jià)腦損傷的診斷方法尤為重要。

多數(shù)學(xué)者研究認(rèn)為，新生兒低血糖對(duì)腦組織的損傷與低血糖的嚴(yán)重程度、持續(xù)時(shí)間及有無(wú)癥狀密切相關(guān)［5］。本研究結(jié)果顯示，有癥狀性低血糖組的血糖水平明顯低于無(wú)癥狀性低血糖組，持續(xù)時(shí)間明顯長(zhǎng)于無(wú)癥狀性低血糖組。由此可見(jiàn)，血糖越低、持續(xù)時(shí)間越長(zhǎng)、癥狀越明顯，腦損傷越嚴(yán)重，這與國(guó)內(nèi)外多家報(bào)道基本相同［6］。但目前臨床上對(duì)于患兒血糖閥值、時(shí)間閥值仍存在爭(zhēng)議。血糖水平＞1.7 mmol/L、持續(xù)時(shí)間＞12 h、有癥狀性低血糖患者的腦電圖異常率均明顯高于血糖水平≤1.7 mmol/L、持續(xù)時(shí)間≤12 h、無(wú)癥狀性低血糖患者(P＜0.05)，提示臨床診斷亦可參照上述閥值進(jìn)行，以準(zhǔn)確評(píng)估患兒腦損傷程度，為制定確切治療方案提供參考。

綜上所述，新生兒低血糖性腦損傷患兒的血糖越低、持續(xù)時(shí)間越久、臨床癥狀越明顯，腦電圖異常率越高表示腦損傷越嚴(yán)重，可見(jiàn)腦電圖監(jiān)測(cè)可作為診斷腦損傷與評(píng)估預(yù)后的重要手段。

［1］黃楠楠，張長(zhǎng)軍，王品品.腦電圖監(jiān)測(cè)評(píng)價(jià)新生兒低血糖腦損傷的臨床分析［J］.中國(guó)醫(yī)藥指南，2015，13(2):165 －166.

［2］梁志明，尤金英，梁辰宇，等.腦電圖監(jiān)測(cè)在新生兒低血糖腦損傷診斷及預(yù)后中的應(yīng)用研究［J］.江西醫(yī)藥，2014，49(12):1352－1356.

［3］陳細(xì)香.新生兒低血糖腦損傷臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)探討［J］.中國(guó)醫(yī)藥導(dǎo)報(bào)，2013，15(1):145 －146.

［4］尤金英，李建國(guó)，郭景華.新生兒低血糖腦損傷臨床特征與腦電圖監(jiān)測(cè)［J］.臨床兒科雜志，2012，30(3):230 －233.

［5］王明華.新生兒腦損傷的早期診治干預(yù)探析［J］.河南醫(yī)學(xué)研究，2014，23(10):69 －70.

［6］姚大洲.新生兒低血糖引起腦損傷的臨床特征及危險(xiǎn)因素分析［J］.重慶醫(yī)學(xué)，2014，43(19):2505 －2507.