低溫等離子體原子熒光光譜法直接測定固體樣品中的汞
2012-04-12 00:00:00楊萌薛蛟李銘李佳黃秀邢志
分析化學 2012年8期
摘 要 建立了低溫等離子體(LTP)與原子熒光光譜儀(AFS)聯用直接檢測ABS 固體樣品中Hg 的方法。實驗采用介質阻擋放電(DBD)方式產生低溫等離子體，剝蝕固體樣品后產生的元素蒸氣引入到原子熒光光譜儀進行檢測。優化的實驗條件為:DBD 外接電源的放電功率為16～18 W，放電氣體流速為400 mL/min;采樣距離為1～5 mm;原子熒光光譜儀的原子化器高度為10 mm。本系統測定Hg 的檢出限為0.91 mg/kg，線性范圍為91.5～1096 mg/kg;精密度(RSD，n=7)為1.9% ～2.3% ，并對標準樣品以及實際樣品進行測定，測定結果與標準值與ICPMS 及CVG-AFS 一致，表明本方法可作為直接檢測固體樣品的新型元素分析技術。
關鍵詞 低溫等離子體;介質阻擋放電;汞;原子熒光;塑料
