摘 要 建立了低溫等離子體(LTP)與原子熒光光譜儀(AFS)聯(lián)用直接檢測ABS 固體樣品中Hg 的方法。實(shí)驗(yàn)采用介質(zhì)阻擋放電(DBD)方式產(chǎn)生低溫等離子體，剝蝕固體樣品后產(chǎn)生的元素蒸氣引入到原子熒光光譜儀進(jìn)行檢測。優(yōu)化的實(shí)驗(yàn)條件為:DBD 外接電源的放電功率為16～18 W，放電氣體流速為400 mL/min;采樣距離為1～5 mm;原子熒光光譜儀的原子化器高度為10 mm。本系統(tǒng)測定Hg 的檢出限為0.91 mg/kg，線性范圍為91.5～1096 mg/kg;精密度(RSD，n=7)為1.9% ～2.3% ，并對標(biāo)準(zhǔn)樣品以及實(shí)際樣品進(jìn)行測定，測定結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值與ICPMS 及CVG-AFS 一致，表明本方法可作為直接檢測固體樣品的新型元素分析技術(shù)。

關(guān)鍵詞 低溫等離子體;介質(zhì)阻擋放電;汞;原子熒光;塑料