國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”通過驗收

國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”通過驗收

2011年6月21日,由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭,中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”(編號:2006BAK03A21)在京順利通過驗收。課題驗收會國家質檢總局科技司主持召開,來自科技部、質檢總局、北京市、教育部、中國科學院、總裝備部和國土資源部等部門的20名專家,領導出席了會議。驗收專家組審閱了課題組提供的驗收資料和測試專家組提供的測試報告,聽取了課題執行情況自評價報告和課題研究等報告,經質詢和討論,專家組一致同意項目通過驗收。

課題取得了有關SIMS和TOF串聯質譜新技術、新產品、新裝置和計算機軟件等方面的成果共19項,其中5項已在相關領域成功應用。課題申請國內發明專利24項、國際發明專利6項。發表論文29篇,其中國際刊物 5篇。課題圓滿完成了大型質譜儀器研發綜合平臺、離子源研發試驗平臺和自動換樣及三維微聚焦系統試驗平臺的搭建,一次氣體離子源、自動換樣系統和三維微聚焦系統以及相應的供電和自動控制系統的研發,受到了驗收專家領導的一致好評。

本刊編輯部 采編