惠瑞捷推出業內首創可擴展測試機臺系列V93000 Smart Scale平臺

2011年 9月 19日，Advantest集團旗下企業惠瑞捷發布了業界首創可擴展、高性價比的測試機臺系列，可用來測試28 nm及更小尺寸工藝和3D架構的芯片。

Smart Scale系列是具備先進通道卡功能的創新一代“智能”測試機臺，與惠瑞捷久經大生產考驗的V93000平臺完全相容。智能測試意味著每個通道卡具有獨立的時鐘域，通過匹配受測器件的準確數據率要求，實現全面的測試覆蓋率。配合電源調制、抖動注入和協議通訊等其他重要特性，系統級壓力測試如今可在ATE層執行，提高了故障模型覆蓋范圍。

“憑借創新的V93000 Smart Scale系列測試系統和通道卡，惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領先地位。這些方法提供了定制的解決方案，可以為客戶降低測試成本?！被萑鸾萜舷到y測試部執行副總裁Hans-Juergen Wagner表示。

四個等級的 Smart Scale測試機臺分別有不同的測試頭尺寸，使惠瑞捷可為每個客戶提供最高效的特定應用解決方案。

Wagner補充道：“由于每個等級的測試機臺彼此完全兼容，當芯片的產量在設備生命周期內變更時，用戶可快速輕松地將半導體器件從一個等級移至另一等級的Smart Scale機臺。目前沒有其他自動測試設備供應商有能力生產具有此功能的機臺?！?/p>

惠瑞捷的獨特技術提高了并行測試的能力，并帶來了行業內第一個針對晶圓測試的全性能的解決方案,可以滿足高階的片上系統器件、系統級封裝器件和晶圓級芯片尺寸封裝的重要性能的測試需求。

V93000 Smart Scale測試機臺推出同時，惠瑞捷還發布了三款新的數字通道卡。

新的Pin Scale 1600數字卡和Pin Scale 1600-ME卡為每個數字通道提供了行業最廣泛的能力范圍。除了提供從DC到1.6 Gb/s的數據率范圍，這些通道卡還達到了先前通道卡密度的兩倍或四倍。

惠瑞捷的新款Pin Scale 9G卡使實速測試具備了經濟性，支持所有通道的雙向功能以及單端和差分模式。還可執行有向量和無向量測試，滿足絕大多數測試需要，包括面向設計驗證的并行I/O測試，以及大批量生產中的串行物理層(PHY)測試。