對稱性降低的SiO₂/Ag核殼結構納米粒子的制備及表面增強拉曼活性研究

摘 要 采用濕化學還原法在自組裝的單層陣列二氧化硅納米粒子表面沉積銀膜制備了SiO₂核/Ag帽復合納米結構。通過透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、X射線衍射(XRD)和紫外可見分光光度計(UV/Vis)研究和表征了該復合納米結構的表面形貌、結構及光學性質。所制備的復合納米粒子表面粗糙，其表面呈現無數納米級谷粒狀結構，SiO₂內核粒徑為350 nm的銀納米帽的表面等離子共振吸收的2個共振峰分別位于382和689 nm處。以亞甲基藍作為探測分子研究了SiO₂粒徑為350和450 nm的SiO₂/Ag帽狀復合納米粒子的表面增強拉曼散射(SERS)活性，增強因子分別為3.6×109和3.9×109。結果表明，濕化學還原法制備的SiO₂核/Ag帽復合納米結構是很好的拉曼活性基底。

關鍵詞 銀納米粒子； 表面等離子共振； 亞甲基藍； 表面增強拉曼散射