摘要:采用直流磁控濺射方法,制備出沉積在不同溫度襯底上的NiTi薄膜.應用X射線衍射、小角X射線散射和差熱掃描量熱法研究了兩種襯底溫度(室溫和573K)濺射的NiTi合金薄膜晶化溫度和在763 K退火1 h的晶化程度.
關鍵詞:NiTi薄膜;晶化溫度;差熱掃描量熱法
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中圖分類號:O484.4
文獻標識碼:A
文章編號:1671—5489(2005)02-0197-04
吉林大學學報(理學版)2005年2期
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