中圖分類號:U463.62 文獻標識碼:A 文章編號:1003-8639(2025)06-0087-03
ResetCircuitDesign ofAutomotiveMCUs
ChangJun,YeDan,Ju Feng(Dalian Neusoft Smart Co.,Ltd.,Dalian ,China)
【Abstract】The development of theautomotive industry promotes the wideapplicationof MCU in the automotive field,and itsstableoperation dependsonthereset circuit.Althoughthe traditionalRCreset circuit is simpleand low costit has some disadvantages such aspower supply burr,slow edge response,por driving abilityand weak antiinterference,so itisnotsuitable for complexvehicleenvironment.ROHM'sBU42xx andBU43xx seriesof IC voltage detectorsofferawiderangeoffeaturesfortheautomotiveindustry.Thispaper mainlyintroducesitsoperationdescription, power-ondelaycalculation,working state waveform,and gives the practical application circuit and test results.Hope to provide some reference forrelated industries.
【Keywords】vehicle-mounted MCU;reset circuit;reliability
0 引言
復位引腳需至少保持 600ns ,才能確保系統可靠復位,最小復位電路如圖1所示。
近年來,汽車行業的高速發展推動了集成電路IC產業的繁榮,微控制器MCU在汽車領域的應用愈發廣泛。從車身電腦、儀表、網關,到發動機、底盤等車輛組件,MCU在車身域、動力域、底盤域、座艙域及智駕域均發揮著關鍵作用。
MCU穩定、可靠運行離不開復位電路的支持。盡管復位電路結構并不復雜,且存在多種參考電路形式,但傳統RC復位電路抗干擾能力欠佳,難以滿足汽車系統的實際需求。復位電路是易受噪聲干擾的敏感部位,在車輛復雜的電磁兼容環境下,一旦復位電路遭受異常干擾,MCU就可能發生錯誤復位,從而導致非預期的后果。因此,在設計復位電路時,不僅要確保整個應用系統能夠可靠復位,還需賦予復位電路良好的抗干擾能力。本文將對RC復位電路存在的問題及解決方案展開探討。
1復位電路組成及參數選擇

當采用圖1所示的RC低電平上電復位電路時,基于電容兩端電壓不能突變的特性,上電瞬間RE-SET端電位近似為GND,通過R1電阻對C1電容進行充電,此時RESET復位引腳為低電平,MCU進入復位狀態。數毫秒后,電容器充滿,近似斷路,電流降為0,電流經電阻R1流入RESET復位引腳,引腳電平變為高電平,MCU隨即進入正常工作狀態。在此電路中,R1取值范圍為 1~10kΩ ,C1取值范圍為1~10nF 。
車載MCU通常采用自動上電復位電路。以RH85032位汽車微控制器MCU為例,其RESET引腳為復位信號輸入端,低電平有效。在上電自動復位過程中,簡易型的RC復位電路具有以下幾點弊端。
1)電源毛刺問題。RC復位電路在頻繁開關過程中,電容C可能無法及時放電,導致設備無法啟動。這是因為該電路在應對電源毛刺時存在局限性,難以有效消除突發的電壓波動。
2)邊沿響應緩慢。RC電路的充放電過程相對緩慢,致使邊沿響應速度欠佳,這在對響應速度要求較高的系統設計中是明顯的短板。
3)驅動能力較差。相較于專用復位芯片,RC復位電路驅動能力較弱,可能無法穩定驅動高負載電路,導致實際應用難以達到預期效果。
4)抗干擾能力差。在復雜電磁環境下,來自電源正極或地的噪聲會引人RESET引腳,增加了MCU工作的不穩定風險。
盡管RC復位電路具有電路簡單、成本低廉的優勢,在對穩定性要求不高的應用場景中較為經濟實用,但對于對穩定性要求更高、電磁環境更復雜的車載應用而言,專用復位芯片是更優選擇。
2 新型復位電路
ROHM公司的 BU42xx 和 BU43xx 系列IC是高精度、低電流消耗的電壓檢測器,具備可調輸出延遲、N溝道開漏極型、CMOS輸出型、寬溫、增量為 0.1V 、超低電流消耗等特性,適用于車載行業。
2.1 操作說明
無論是開漏型還是CMOS輸出型,檢測電壓和釋放電壓均作為閾值電壓。當施加在 VDD 引腳上的電壓達到適用閾值電壓時, Vour 端子電壓會從高切換到低,或從低切換到高。 BU42xx 和 BU43xxx 系列具備延遲時間功能,可通過外接電容(
)設置 TPLH 。由于 BU42xx 系列采用開漏輸出類型,需外接上拉電阻連接到 VDD 電源。芯片內部BLOCK圖(圖2)及主要引腳使用方法如下: VDD 引腳為供電電壓,最大至7V;GND引腳為地腳;CT引腳為外接延時電容;VoUT 引腳為復位輸出。

2.2 上電延時計算
在 VDD 上升期間,該檢測IC的延時時間可通過CT引腳外接電容進行設置。 VDD TPLH 即上升延遲時間,指 VDD 電壓上升至( VDET+ΔVDET) )后, Vour 上升至1/2VDD 所需的時間。計算公式如下:

式中: Ccr CT Pin 外接延時電容; Rcr (204號CT Pin 內部延時電阻, 10MΩ ; VCTH CT Pin 閾值電壓,為 0.5×VDD 。
2.3具體工作狀態波形
圖3波形展示了輸入 VDD 電壓抬升和下降時,輸入 VDD 電壓、CT終端電壓 VCT 和輸出 VoUT 三者的關系。各階段含義如下所述。

1)電源接通后,從電壓超過最小工作電壓 Vopl (0.7\~0.9V)到 tPHL ,輸出處于不穩定狀態。此外,若VDD 的上升時間比 tPHL 過快,可能無法輸出復位信號。2)當 VDD 大于 Vopl 但小于復位釋放電壓( VDET+ ΔVDET )時,CT端子電壓( Vcr )和輸出電壓( VoUT )都是 L 電平。3)如果 VDD 超過復位釋放電壓( VDET+ΔVDET) ,Vout 從 L 切換到 H (對CT端子有延遲)。4)當電源斷電或有電源波動時,如果 VDD 降至檢測電壓( VDET) 下時, Vour 輸出切換到 L (延時 tPHL) 。5)檢出電壓和解除電壓之間的電位差稱為檢出寬度( ΔVDET) 。該檢出寬度設計的目的是使系統輸出不會隨電源波動而切換,從而防止因噪聲引起的故障。
3 實際應用電路
結合實際項目,設計了具體應用電路,如圖4所示。各電路元件參數如下:CT引腳(P5)外接延時電容C702,電容值為 0.01μF ; Vour (P1)引腳輸出上拉電阻R710,阻值為 10kΩ ;其他電容C706、C707為濾波電容,電容值均為 0.1μF ;IC702選定檢測電壓為 2.8V 。結合具體電路元件參數,依據Data-sheet手冊,理論檢出/解除電壓值計算如表1所示。
上電延時測試波形如圖5所示。該IC具有以下優勢:檢出和解除電壓時均有延時,能夠濾除一定頻率范圍的噪聲;檢出電壓與解除電壓之間存在ΔVDET ,當電源噪聲落入此區間時, VoUT 輸出不會波動,可有效抵御一定范圍內的噪聲干擾。



4結論
實踐證明,MCU復位電路的選型需結合具體應用環境,選擇適配性和抗擾性良好的電路,以提升系統設計的穩定性。本文提供的設計、分析、選型思路,可為相關行業應用提供參考。
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(編輯凌波)