中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所邵宇川研究員團(tuán)隊(duì)，基于脈沖電壓法提出了對鈣鈦礦器件偏壓下電流漂移現(xiàn)象的理解，并實(shí)現(xiàn)X射線探測器件在高偏壓下的穩(wěn)定探測性能。相關(guān)成果發(fā)表于《ACS光子學(xué)》（ACS Photonics）。金屬鹵化物鈣鈦礦作為最具潛力的X射線探測材料之一，其光電性能已大幅超越傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料，但是電場下的穩(wěn)定性嚴(yán)重限制了其在商業(yè)上的應(yīng)用。新研究通過脈沖電壓法研究器件在電場作用下的電流漂移現(xiàn)象，發(fā)現(xiàn)隨著等待時(shí)間的加長，電流漂移逐漸從正向漸增漂移變?yōu)樨?fù)向漸減漂移，并逐漸趨近于零漂移，且在不同電壓下呈現(xiàn)負(fù)向漂移的飽和現(xiàn)象，這一現(xiàn)象與鈣鈦礦材料的“軟”晶格特性緊密相關(guān)。
