基于近場電磁掃描系統(tǒng)的電磁超透鏡實驗表征

摘 要 透鏡是光學實驗中常見的元件，也是成像系統(tǒng)中必不可少的一環(huán)。然而隨著集成成像等新型光學成像技術的發(fā)展，傳統(tǒng)光學透鏡因其體積大等劣勢難以實現微型化和集成化。近年來，超透鏡作為平面光學元件，通過設計亞波長尺寸的單元結構可以實現對光的偏振、振幅、相位等方面的調控，這些獨特的光學特性也使超透鏡成為了近些年來微納光學領域的研究熱門。為了激發(fā)學生對前沿課題的研究興趣，本文將介紹超透鏡的工作原理，并設計了一種會聚型電磁超透鏡，通過數值仿真與實驗表征驗證了超透鏡的聚焦性能與反常色散特性，幫助學生更好地理解超透鏡，推動教學與科研的結合。

關鍵詞 超構光學;超透鏡;近場電磁掃描系統(tǒng)