新生兒低血糖與腦易損性的相關性研究

李晴晴

開封市兒童醫院兒科 (河南 開封 475000)

低血糖癥是一種常見的新生兒疾病，在33周之前出生的嬰兒，出現低血糖的概率接近34%。研究發現，新生兒在出生后血糖值的短暫下降是過渡代謝適應的一部分，通常在出生后的最初72～96h內，隨著血糖水平逐漸升高，達到成人的血糖值(血糖>70mg/dL)，這種過渡代謝適應就會消失[1-2]。但仍然有少數新生兒經歷長期嚴重的低血糖，對新生兒的生長發育造成了一定的影響。目前，已有研究證實嚴重且持續的低血糖會對新生兒神經發育結果產生不良影響，雖然“神經安全”的血糖閾值尚未確定，但已經根據經驗建立了對低血糖新生兒的最佳檢測和及時治療指南，以避免神經系統后遺癥[3-4]。因此，本研究選取了100例新生兒低血糖癥患兒，探究新生兒低血糖與腦易損性的相關性，以期為促進新生兒快速康復提供理論支持。

1 資料與方法

1.1 研究對象選擇2019年2月至2022年2月我院收治的新生兒低血糖癥患兒100例，其中男性患兒68例，女性患兒32例，日齡<28天。納入標準：均復合符合《實用新生兒學》第4版的標準，即血糖<2.2mmol/L；患兒資料完整準確，且無其他疾病；所有患兒及其父母均已簽署知情同意書。排除標準：存在宮內異常的；有遺傳性疾病的；由于各種原因不能配合本研究的。所有患兒的臨床資料之間不存在統計學差異(P>0.05)。

1.2 方法

1.2.1 研究分組 對100例患兒進行腦部MRI檢查，根據其是否有腦部損傷將100患兒分為腦損傷組(n=34)和無腦損傷組(n=66)組。

1.2.2 新生兒血糖監測 在新生兒出生后采集其足后跟血，測定血糖水平，其中血糖<2.2mmol/L即可判斷為低血糖癥。

1.2.3 腦損傷 對新生兒頭部進行MRI檢查，標準序列包括矢狀和軸向自旋回波(SE)T1圖像、雙回波軸向SE質子密度(PD)和T2圖像、冠狀快速自旋回波(FSE)T2圖像和軸向擴散加權(DWI)圖像[5]。

1.3 觀察指標

1.3.1 血糖水平 根據1.2.2檢測方法，測定新生兒的血糖水平，同時記錄低血糖的持續時間和首次診斷的時間。