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煅燒溫度對濕化學法制備AlN粉體的影響

2022-09-14 11:32:18姚向陽紀君宇汪衛(wèi)華
人工晶體學報 2022年8期

姚向陽,蘆 偉,紀君宇,汪衛(wèi)華

(安徽大學,物質科學與信息技術研究院,合肥 230601)

0 引 言

AlN具有高熱導率、低熱膨脹系數(shù)、寬帶隙、高電阻、高介電常數(shù)、高紫外透明度和耐磨損等各種優(yōu)異的物理化學性能,被廣泛應用于太陽能電池[1-2]、發(fā)光二極管[3]、薄膜體聲波器件[4]、鋼和合金部件表面的抗蝕保護[5-6]及壓電材料[7-12]。此外,AlN與SiC結合產(chǎn)生的AlN/SiC復合材料在高溫下具有出色的熱電性能[13],近期的研究表明AlN還具有高的阻氚因子和耐液態(tài)PbLi侵蝕,使得AlN在作為聚變反應堆中固態(tài)或液態(tài)包層的阻氚涂層中也有廣泛的應用前景[14-15]。

制備出高純度、粒徑均一、狀態(tài)穩(wěn)定的AlN粉體,是獲得性能優(yōu)良AlN材料的基礎。AlN粉體的制備工藝種類繁多,部分制備工藝已被運用于工業(yè)生產(chǎn),但仍存在許多不足:直接氮化法所需生產(chǎn)溫度高,產(chǎn)物中伴隨Al雜質[16-17];碳熱還原法需要過量的碳來完成氮化,產(chǎn)物中存在殘?zhí)疾⑴欧糯罅緾O污染環(huán)境[18-19];自蔓延高溫法產(chǎn)物純度較低,且需要在高壓條件下進行[20-21];機械化學法所需研磨反應時間較長,顆粒存在殘余應力[22-23];化學氣相沉積法所需設備復雜,成本高,且生產(chǎn)效率低[24]。此外,對于一些需要兩種甚至多種方法相結合的多流程制備AlN粉體的工藝來說,獲得高純AlN粉體仍然是一個挑戰(zhàn)。

Qiu等[25]報道了濕化學法合成金屬氮化物材料,該方法具有工藝流程簡單、原料廉價、可制備出納米粒徑AlN粉體的特點。Gao等[26]探究了R值(尿素/六水合氯化鋁的摩爾比)對合成的AlN粉體的純度、微觀形貌和生長機理的影響,Cheng等[27]以雙氰胺為氮源,報道了R值對AlN粉體純度、結晶度和光學性能的影響。以上均在惰性氣氛下合成AlN粉體,依賴于尿素分解產(chǎn)生的NH3,對尿素含量的控制要求較高,容易產(chǎn)生氧化鋁雜相;同時,當煅燒溫度在800~900 ℃時,產(chǎn)物中會出現(xiàn)碳質雜相。

本文在NH3氣氛下,采用濕化學法制備了AlN粉體,研究了煅燒溫度對AlN粉體的純度、相組成、表面形貌等微觀特征的影響,分析了粉體中可能存在的非晶相雜質的成分,提出AlN粉體中雜質來自于表面水解產(chǎn)生的Al(OH)3。

1 實 驗

1.1 AlN粉體制備

AlN粉體的制備流程如圖1所示,取1.0 g六水合氯化鋁(AlCl3·6H2O,AR 97%)和1.49 g尿素(CO(NH2)2,GR 99%)溶于5 mL無水甲醇(CH3OH,AR 99.5%)中,50 ℃下磁力攪拌加熱20 min,得到前驅體溶液,將前驅體溶液在干燥箱中(55 ℃)干燥300 min得到前驅體粉,將前驅體粉轉移至管式爐中,氨氣保護氣氛下,在不同溫度(800~1 000 ℃)中煅燒480 min。采用數(shù)字流量計精確控制氨氣流量為10 sccm(標準狀況下 10 mL·min-1),升/降溫速率均為3 ℃·min-1。

1.2 產(chǎn)物表征

采用Rigaku TTRIII型X射線衍射(XRD)儀對AlN粉體進行物相分析;REGULUS8230型掃描電子顯微鏡對AlN粉體進行形貌觀察和能譜(EDS)分析; Nano ZS90型馬爾文納米激光粒徑儀對AlN粉體進行粒徑分布分析;JEM-F200型高分辨率透射電子顯微鏡對AlN微觀結構進行表征,包括形貌像(Morphology)、高分辨像(HRTEM)、選區(qū)電子衍射(SEAD)及掃描透射能譜元素面掃描(EDS maping);Invia-Reflex型激光拉曼光譜儀分析儀檢測AlN粉體中的含碳副產(chǎn)物;AlN的平均晶粒尺寸由MDI Jade 6.0軟件計算;AlN粉體晶面間距由DigitalMicrograph軟件分析測量。

2 結果與討論

2.1 物相分析

以AlCl3·6H2O和CO(NH2)2為反應物采用濕化學法制備AlN納米粉體的反應過程可用式(1)~(9)來概括[25-26]。一定溫度下,AlCl3·6H2O和CO(NH2)2在甲醇溶液中形成Al(CON2H4)6Cl3配合物,首先Al(CON2H4)6Cl3配合物受熱分解為AlCl3和CO(NH2)2,然后,AlCl3與CO(NH2)2分解產(chǎn)生的NH3結合形成AlCl3·NH3,隨著溫度升高,AlCl3·NH3分解產(chǎn)生的化合物(ClAlNH)4和(ClAlNH)6,(ClAlNH)4和(ClAlNH)6分別生成c-AlN(cubic aluminum nitride)和h-AlN(hexagonal aluminum nitride),最后,高溫條件下c-AlN轉變?yōu)閔-AlN。

Al(CON2H4)6Cl3→AlCl3+6CO(NH2)2

(1)

CO(NH2)2→HCNO+NH3

(2)

CO(NH2)2→H2CN2+H2O

(3)

AlCl3+NH3→AlCl3·NH3

(4)

AlCl3·NH3→1/2(Cl2AlNH2)2+HCl

(5)

1/2(Cl2AlNH2)2→1/n(ClAlNH)n+HCl

(6)

1/4(ClAlNH)4→c-AlN+HCl

(7)

1/6(ClAlNH)6→h-AlN+HCl

(8)

c-AlN→h-AlN

(9)

圖2顯示了煅燒溫度在800~1 000 ℃時獲得產(chǎn)物的XRD圖譜,煅燒溫度在800 ℃和850 ℃時,AlN粉體衍射峰強度相對較弱,通過卡片PDF#88-2250(cubic aluminum nitride, c-AlN)和PDF#25-1133(hexagonal aluminum nitride, h-AlN)確定此時AlN由c-AlN和h-AlN混合組成,而隨著煅燒溫度升高至900 ℃及以上時,c-AlN對應的衍射峰消失,只存在h-AlN對應的衍射峰,說明c-AlN相是亞穩(wěn)定相,高溫下轉變?yōu)榉€(wěn)定的h-AlN相。值得注意的是,與文獻[28-29]報道不同,在氨氣氣氛下當煅燒溫度在800 ℃和850 ℃、2θ在20°~30°時,產(chǎn)物的XRD圖譜中不會出現(xiàn)由“類富勒烯或碳化物”等碳質殘留物引起的衍射峰。

2.2 顆粒形貌分析

圖3顯示了經(jīng)不同溫度煅燒后所制備的AlN粉體的SEM照片,在800 ℃,AlN粉體聚集成大的塊狀或者薄片狀結構,當溫度到達900 ℃和1 000 ℃,AlN粉體呈現(xiàn)出球形特征,同時薄片狀結構消失,結合XRD圖譜分析,該形貌的改變可能是由晶粒生長引起的,單個AlN粉體顆粒尺寸小于100 nm。

2.3 粉體粒徑分析

圖4顯示了經(jīng)不同溫度煅燒后所制備AlN粉體的粒度分布,AlN粉體粒度呈現(xiàn)正態(tài)分布特點,粒徑分布范圍較窄,依次在68~142 nm、78~164 nm 和 100~200 nm的范圍,平均粒徑(D50)分別為95.8 nm、107.6 nm和159.5 nm。

圖5顯示了經(jīng)不同溫度煅燒后所制備AlN粉體的平均晶粒尺寸和平均粒徑的大小,當煅燒溫度在800 ℃時AlN粉體的平均晶粒尺寸為4.0 nm,而當煅燒溫度上升至1 000 ℃時平均粒徑增大至17.0 nm,與此同時,平均粒徑(D50)從95.8 nm增加至159.5 nm,AlN粉體的平均晶粒尺寸和平均粒徑的大小都表現(xiàn)出隨煅燒溫度上升而增大的趨勢,且平均粒徑要大于平均晶粒尺寸一個數(shù)量級。

2.4 微觀結構分析

圖6(a)為煅燒溫度在1 000 ℃時所制備的AlN粉體的TEM照片,可以看出AlN粉體是由粒徑小于100 nm的微小顆粒組成的,與上述SEM觀察到的現(xiàn)象一致。圖6(b)顯示了AlN粉體的HRTEM照片,通過DigitalMicrograph測量得到AlN粉體的(100)晶面間距為0.267 8 nm,相應的選區(qū)電子衍射SEAD圖(見圖6(c))顯示了AlN粉體典型的衍射環(huán),這些尖銳衍射環(huán)從里到外依次與h-AlN(PDF#25-1133)的(100)、(002)、(101)、(102)、(110)、(103)、(200)、(112)晶面良好匹配。此外,圖中還存在由無定形雜質引起的擴散環(huán),提示顆粒中可能有無定形態(tài)的雜質存在。根據(jù)之前文獻報道在AlN粉體的XRD圖譜中出現(xiàn)了由“類富勒烯和碳化物”引起的衍射峰[28-29],且Rounaghi等[30]也在AlN粉體中檢測到了含碳副產(chǎn)物,雖然圖2的XRD圖譜中沒有出現(xiàn)由這些雜質引起的衍射峰,但是這些雜質仍可能以無定形或非晶結構存在。因此,通過拉曼光譜進一步檢測AlN納米粉體中可能存在的含碳雜質。532 nm波長的拉曼光譜表征結果如圖6(d)所示,圖中并未發(fā)現(xiàn)由碳材料引起的D(缺陷)和G(石墨)特征峰,表明AlN粉體中存在的非晶相雜質并不是含碳副產(chǎn)物,而可能為其他物質。

2.5 含氧雜質分析

圖7為煅燒溫度在1 000 ℃時所制備的AlN粉體的STEM-EDS 元素面掃描圖像及SEM的EDS點掃描能譜。由圖7(a)、(b)可以知,AlN納米顆粒中N和Al的分布趨勢高度一致,無論是在中心位置還是邊緣位置都沒有發(fā)生元素分離現(xiàn)象,說明AlN粉體中的N和Al原子結合良好。圖7(c) 所示的EDS點掃描能譜中存在Al、N、C、O、Au元素,其中Al和N峰的出現(xiàn)可以歸因于AlN的形成,能譜中存在O元素提示AlN粉體中可能存在含O非晶雜質,推測可能來源于如下過程:AlN粉體在轉移、制樣過程中不可避免地接觸到水汽,且在空氣中會發(fā)生式(10)和(11)的水解反應[31-33]:

AlN+2H2O→AlOOHamorph+NH3

(10)

AlOOHamorph+H2O→Al(OH)3

(11)

文獻[34]表明,AlN粉體水解時,首先在表面形成無定形的AlOOH,作為中間產(chǎn)物的AlOOH一段時間后向Al(OH)3轉化。因此可以推測Al(OH)3在AlN納米顆粒面成核和生長,將未反應的AlN包裹在內部,最終在AlN納米顆粒表面形成一層無定形的Al(OH)3,如圖8所示,由此可以解釋圖6(c)SEAD衍射圖譜中出現(xiàn)的擴散環(huán)。隨后也從暴露在空氣中的AlN納米粉中檢測到氨的存在,從而推測出AlN納米粉會與空氣中的水汽發(fā)生微弱的水解反應。水解速率隨溫度和相對濕度的變化規(guī)律還需要在下一步實驗中進行詳細地研究。

3 結 論

在NH3氣氛下通過濕化學法合成了納米尺寸的AlN粉體,研究了煅燒溫度對AlN粉體純度、形貌、平均晶粒尺寸和平均粒徑的影響。結果發(fā)現(xiàn):煅燒溫度在900 ℃以下時,AlN由c-AlN相和h-AlN相組成,產(chǎn)物的XRD圖譜中不會出現(xiàn)由雜相引起的衍射峰,而當煅燒溫度到達900 ℃及以上時,c-AlN相完全轉變?yōu)閔-AlN相,AlN粉體是由粒徑小于100 nm的球形納米顆粒組成,拉曼光譜沒有檢測到殘留的碳質副產(chǎn)物,推測AlN粉體中的無定形雜質可能來自于表面水解產(chǎn)生的Al(OH)3。

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