“K”反射系數(shù)法在低電阻率地質(zhì)背景下的應(yīng)用研究

鄔健強(qiáng)，劉 磊，洪旭程，劉道涵*，劉永亮

1.中國地質(zhì)調(diào)查局武漢地質(zhì)調(diào)查中心（中南地質(zhì)科技創(chuàng)新中心），湖北 武漢 430205；2.浙江省工程物探勘察設(shè)計院有限公司，浙江 杭州 310000；3.中國地質(zhì)科學(xué)院巖溶地質(zhì)研究所，廣西 桂林 541004

在湖南等地，廣泛分布有中生界白堊紀(jì)和侏羅紀(jì)的紅層（鐘共清，2002；程強(qiáng)等，2004；賈龍等，2016），巖性主要由砂巖、粉砂巖、泥巖、礫巖等組成，整體表現(xiàn)為明顯的低阻特征（王宇等，2008；鄔健強(qiáng)等，2018）。由于其電性差異小，僅通過高密度電阻率法（王懷坤等，2008；焦彥杰等，2011；劉道涵等，2020）測得的結(jié)果來分辨異常是很困難的。因此，需要研究是否能通過數(shù)據(jù)處理來突出有效異常，基于這種思路，筆者擬采用“K”反射系數(shù)法對兩個不同地質(zhì)背景的實例進(jìn)行應(yīng)用研究。

“K”反射系數(shù)法是由孫經(jīng)榮（1980）先生首先提出的，夏建平（1991）和劉煜洲等（1991）對該方法的實質(zhì)及理論進(jìn)行了探討，之后廣泛應(yīng)用于水利水電工程、水文地質(zhì)、巖溶探測、煤層采空區(qū)探測等領(lǐng)域（王俉軍等，1993；劉康和，1993；賈東新和李煒，1998；陳紹求等，2000；李保國，2001；田宗勇等，2002；敬榮中等，2002；楊永明等，2004；黃勝華等，2007；王國瑞，2007；劉繼光等，2008；李光輝和梁樹昌，2009；薛建球等，2009；潘衛(wèi)東和韋濤，2021）都取得了不錯的效果。

劉海濤等（2013）將“K”剖面法處理的結(jié)果與RES2DINV 軟件反演處理的結(jié)果進(jìn)行了比較，發(fā)現(xiàn)“K”剖面法勘測的深度大大增加。崔德海（2014）通過對武廣高鐵路基巖溶勘探的野外工作實踐，論述了電測深反射系數(shù)分析法的實際應(yīng)用效果，認(rèn)為反射系數(shù)法能突出弱異常。沙麗（2015）將“K”剖面法應(yīng)用到高密度電法資料的處理中，圈定異常，取得了一定的效果?！?br>