胼胝體發育不全導致智力低下CT 征象分析

牛迎春

在臨床中,胼胝體發育不全是中樞神經系統十分普遍的先天性發育畸形,包括了完全性發育不全、部分性發育不全,可以單獨出現,也會引發其余顱內發育異常、中樞神經系統畸形等,病情十分嚴重,所以,臨床中需要對其給予更多的關注,盡早對其進行明確診斷,并應用更具針對性的治療方案,以保障這類患者的預后［1］。本研究特選取本院18 例胼胝體發育不全引發智力低下患者,分析并研究胼胝體發育不全引發智力低下的CT 征象。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取2019 年11 月～2020 年12 月本院接收并治療的18 例胼胝體發育不全引發智力低下患者,依各項癥狀與表現不同分為對照組(單純智力低下,11 例)和觀察組(智力低下合并其余神經系統表現與癥狀,7 例)。18 例患者中男10 例,女8 例；年齡23～45 歲,平均年齡(34.81±8.20)歲。兩組一般資料比較,差異均無統計學意義(P>0.05)。見表1。

表1 兩組一般資料比較［,n(%)］

表1 兩組一般資料比較［,n(%)］

注：兩組比較,P>0.05

1.2 方式

1.2.1 CT、圖像重建 借助16 排CT 機(型號：西門子Emotion),輔助患者處在仰臥體位,由聽眥線直到顱頂進行掃描。各項參數：準直器設定成64×0.625 mm；層厚設定成5 mm,間隔設定成5 mm,X 線管旋轉速度設定成0.5 s/圈,螺距設定成0.391,矩陣設定成512×512,視野設定成350 mm,管電壓設定成120 kV,管電流設定成300 mAs。在掃描結束后,對各類原始數據加以重建,層厚設定成2 mm,間隔設定成2 mm。

1.2.2 圖像后處理與各項CT 征象 將所得到的圖像傳至工作站,借助多平面重建(MPR)對其進行后處理。兩位醫生對各項CT 征象進行研究、分析,如果出現了不一致,第三位醫生進行評判。

1.3 觀察指標及判定標準 比較兩組CT 征象分型、其余神經系統方面的征象。CT 征象分型：胼胝體缺如為Ⅰ型,部分缺如為Ⅱ型,具有完整性但是體現出整體性或是部分性變細、變薄、變小為Ⅲ型。

1.4 統計學方法 采用SPSS22.0 統計學軟件處理數據。計量資料以均數±標準差()表示,采用t檢驗；計數資料以率(%)表示,采用χ2檢驗。P<0.05 表示差異有統計學意義。

2 結果

兩組CT 征象分型比較,差異無統計學意義(P>0.05)。見表2。對照組其余神經系統方面的征象有3 例,其中腦穿通畸形占33.33%(1/3)、帶狀灰質異位合并腦回畸形占33.33%(1/3)、腦裂發育畸形合并透明隔缺如占33.34%(1/3)；觀察組其余神經系統方面的征象有4 例,其中灰質異位占25.00%(1/4)、腦裂發育畸形占25.00%(1/4)、透明隔缺如占25.00%(1/4)、脂肪瘤占25.00%(1/4)。兩組其余神經系統方面的征象比較,差異無統計學意義(P>0.05)。

表2 兩組CT 征象分型比較［n(%)］

3 討論

對于胼胝體而言,其處在大腦的縱裂底部,是雙側大腦半球之間最大的纖維連接,也是傳送各類信息最為關鍵的通路［2］。胼胝體生成于孕3～4 個月,最早是在孕第8 周；處于腦發育腹側誘導晚期,新形成的端腦嘴側壁的背側有所增厚,且出現了內陷,朝后沿沒有得到發育、生長的大腦半球間裂逐步出現延伸,在2 個月后,生成聯合板,即為胼胝體中的細胞框架,之后,胼胝體就得到了生長、發育,最先是膝部,接下來即為體部、壓部,最后嘴部,在胚胎的第五個月構成最為基礎的形態,但是,發育與生長并未停止,持續性地變厚、變寬、變長,直到胎兒被娩出。

對于胼胝體發育不全有關的病因,現階段臨床中依舊沒有完全確定,極有可能是因為創傷、先天性遺傳、感染等方面的因素所引發的,還有可能是由于前體在生長、發育期間受到損傷所引發的,在前體中,終板有所增厚而生成再聯合板,再生成聯合塊,聯合塊引導大腦半球生成胼胝體［3］。在早期,如果胼胝體受到各類損傷,就會引發發育不全；在晚期,在其完全生成后,各類損傷只會引發萎縮、狹窄,胼胝體具有相應的完整性,但是,其整體性或是部分性會逐步出現變細、變薄、變小。

處于CT 橫軸位下的冠狀、矢狀多個平面重組可以全方位地顯示出顱內的各個解剖結構,正中矢狀位可以全方位地顯示出胼胝體總體形態,是顯示胼胝體最為理想的方位。對于胼胝體發育不全而言,其各項CT 表現為：①直接征像：對處于正常狀態下的胼胝體能夠十分清楚地顯示出來,若具有胼胝體發育不全,其所出現的缺損、變薄等也可以被顯示出來［4］。②間接征像：CT 橫軸位顯示兩側大腦半球間的間隙、透明隔間腔彼此相通,能夠直達至第3 腦室的前部。這是因為處于胚胎期,雙側腦室間所具有的透明隔間腔呈現出束袋狀,與半球間的間隙彼此相通。若胼胝體嘴部沒有得到生長與發育,會使得半球間隙、透明隔間腔彼此相通,呈現出直達至第3 腦室的前部。這是因為胼胝體能夠構成側腦室頂壁,其任一位置出現缺如都會減少聯合纖維,使得其橫向約束力有所下降,而兩側側腦室呈現出分離且平行排列,額角有所分離且較小,側腦室中的三角區、顳角有所擴大；又因為胼胝體發育不全會引發深部白質發育不良,使得第3 腦室有所擴大、上移,上插至側腦室體部間［5］。

對于胼胝體發育不全而言,其有關的表現、癥狀不夠典型,許多都是與腦伴發的其余畸形間緊密相連,僅憑借各項癥狀、表現較難進行明確診斷,借助CT 能夠檢出。CT 具有相應的無創性,且其更為迅速、精準,能夠全方位地顯示出胼胝體發育不良的各個位置,以及顱腦所伴發的各類畸形。不過,對于十分嚴重的胼胝體發育不全患者而言,其CT 有關的癥狀、表現十分典型,更易進行診斷,而對部分輕度患者來說,極有可能出現漏診。所以,臨床中在對輕度胼胝體發育不全患者進行診斷期間,如果條件準許,可以應用核磁共振成像(MRI),其能夠由多個方位、多個序列進行成像,且其軟組織分辨率也更高,特別是處于矢狀位圖像下,可以全方位地顯示出胼胝體所呈現的部分或是完全缺如,以提升診斷的總檢出率［6］。所以,在臨床中,對具有智力障礙與有關神經表現、癥狀的患者而言,CT 橫斷位指出疑似是胼胝體發育不良,如果無法進行MRI,可以借助CT 進行薄掃加冠、矢狀重建,防止漏診。

綜上所述,胼胝體發育不全引發智力低下應用CT檢測能夠對相應的種類、伴發畸形給予更多的參照；不同表現、癥狀患者的CT 征象不具有差異性。