高可靠性人工突觸半導體器件問世

張夢然

韓國科學技術研究院（KIST）神經形態工程中心研究團隊宣布開發出一種能進行高度可靠神經形態計算的人工突觸半導體器件，解決了神經形態半導體器件憶阻器長期存在的模擬突觸特性、可塑性和信息保存方面的局限。研究成果近日發表在《自然·通訊》雜志上。