開關(guān)電源芯片的失效分析與可靠性研究

陳中煒

摘 要：隨著科技的飛速發(fā)展，電器設(shè)備的使用越來越廣泛，功能也越來越強(qiáng)大，體積也越來越小，導(dǎo)致了對電源模塊要求在不斷增加。開關(guān)芯片在應(yīng)用中失效，經(jīng)分析為電路設(shè)計本身可靠性差，導(dǎo)致開關(guān)芯片失效。本文通過增加放電與限流貼片電阻，對電路設(shè)計優(yōu)化更改，使電路工作可靠性明顯提高，滿足電路設(shè)計需求，改善后應(yīng)用失效大幅度減低。

關(guān)鍵詞：弱電端短路；過電損傷；放電電阻；限流電阻；可靠性

0 引言

現(xiàn)代電子設(shè)備對電源模塊的工作效率、體積以及安全要求等技術(shù)性能指標(biāo)要求越來越高，開關(guān)電源電路憑借良好的性能在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。開關(guān)芯片作為開關(guān)電源電路的重要組成器件，決定了開關(guān)電源的質(zhì)量。開關(guān)芯片在各種設(shè)備電源模塊、以及家用電器均有使用。隨著開關(guān)電源電路的大量使用，售后失效控制原因中因開關(guān)芯片導(dǎo)致的失效也是逐年呈上升趨勢，每年因開關(guān)芯片失效導(dǎo)致控制器失效的維修成本也在不斷上升。

1 背景

1.1 背景及意義

2020年7月中國家用空調(diào)新能效標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布，新能效實施對全球能效結(jié)構(gòu)趨勢的影響成為大家關(guān)注的焦點。從新實施的能效結(jié)構(gòu)來看，未來新1級和新3級能效空調(diào)產(chǎn)品將是市場主導(dǎo)，尤其是新1級能效，預(yù)計市場份額還將持續(xù)擴(kuò)大。變頻空調(diào)開關(guān)電源電路使用開關(guān)芯片在實際應(yīng)運中出現(xiàn)多單失效，嚴(yán)重影響產(chǎn)品使用可靠性，此問題急需進(jìn)行分析研究解決。本文重點研究PI廠家開關(guān)芯片的可靠性及其失效機(jī)理，通過售后失效數(shù)據(jù)采集，對其進(jìn)行專項優(yōu)化整改。

1.2 開關(guān)芯片失效數(shù)據(jù)匯總

現(xiàn)市場使用的主流開關(guān)芯片廠家主要有美國的PI與ON（安森美），以及日本的SK。因其三個廠家開關(guān)芯片可靠性高、電路設(shè)計成熟、應(yīng)用范圍廣等特點，在開關(guān)電源電路中得到大批量使用。開關(guān)芯片從2014年開始不斷大批量使用以來，售后失效數(shù)量也在成倍增長。統(tǒng)計2019年開關(guān)芯片售后失效數(shù)據(jù)，見下表1，主要是PI廠家失效，占比總失效數(shù)73.8%，故障率高達(dá)262PPM。ON與SK廠家失效占比較少，故障率相對較低，通過數(shù)據(jù)顯示PI廠家開關(guān)芯片失效尤其突出。

1.3 PI廠家開關(guān)芯片失效數(shù)據(jù)分析

統(tǒng)計PI廠家開關(guān)芯片售后失效數(shù)據(jù)，最近兩年出現(xiàn)失效增多，已經(jīng)有300多單，主要失效3腳及弱電側(cè)對地值小或短路。具體失效統(tǒng)計數(shù)據(jù)見下表2。

1.4 開關(guān)電源的基本工作原理

1.4.1 開關(guān)電源描述

開關(guān)電源是電源模塊發(fā)展的根本，是電源發(fā)展的趨勢，選用功率半導(dǎo)體元器件作為軟啟動開關(guān)，利用晶體管的占空比實現(xiàn)電路的導(dǎo)通和關(guān)斷，以便對輸出實現(xiàn)在不同工作下的穩(wěn)定調(diào)整輸出。

1.4.2 基本工作原理

開關(guān)電源電路由DC-DC 轉(zhuǎn)換器，驅(qū)動器，信號源，比較放大器，負(fù)載等組成，圖1是它的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)框圖。開關(guān)電源不同于普通工頻變壓器電源，主要是通過在初級繞組回路中串入開關(guān)管，通過高頻可調(diào)占空比地開關(guān)，從而使加在初級繞組兩端的HVDC在電路中形成脈沖變化的電流，將能量通過磁芯傳至次級繞組，再通過半波整流和濾波，配合電壓、電流反饋，最終形成我們所需要的低壓直流電源。

1.5 PI廠家開關(guān)芯片簡述

PI廠家TOP264（編碼：360001000027）與TOP267（編碼：36008024）開關(guān)芯片引腳排布均相同，管腳功能描述相同，只是其功率不一樣。各引腳外觀圖如圖2所示。PI廠家TOP264-271系列開關(guān)芯片各管腳定義描述，見下表3。

2 開關(guān)芯片的失效故障原因及失效機(jī)理分析

開關(guān)電源電路設(shè)計是一個完整的閉環(huán)電路，單個器件失效要從整個電路分析。出現(xiàn)開關(guān)電源芯片失效有可能是芯片本身問題，或者電路設(shè)計存在問題以及出現(xiàn)磁飽和。開關(guān)電源磁飽和與開關(guān)電源電路中器件配合有直接關(guān)系，開關(guān)電源芯片、高頻變壓器、輸入電源、應(yīng)用環(huán)境、測試過程等都是影響開關(guān)電源可靠性關(guān)鍵問題。一般磁飽和會導(dǎo)致芯片漏極產(chǎn)生瞬間過壓沖擊從而擊穿芯片，主要表現(xiàn)為芯片表面燒毀及炸裂，本次出現(xiàn)的失效模式與此有所不同，針對產(chǎn)生疑問進(jìn)行分析驗證。

2.1 開關(guān)芯片單體分析

2.1.1 電參數(shù)測試分析

對失效主板檢測芯片3腳對地短路，3、4腳短路，失效主板更換芯片測試正常，芯片集中在弱電側(cè)失效，強(qiáng)電側(cè)MOSFET沒有擊穿失效及受損現(xiàn)象。失效樣品引腳I-V特性曲線，見圖3，測試第3腳對芯片源極短路，其余引腳特性無異常。

2.1.2 X光透射分析

觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)，見圖4，對不良品進(jìn)行X-RAY透視顯示不良品焊線正常、弧度正常，通過觀察未發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)性異常。

2.1.3 開封解析

取其中5個故障樣品進(jìn)行開封觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)，見圖5所示，可以看到內(nèi)部晶片有大面積過電燒毀的痕跡，未見產(chǎn)品晶元制造不良。

分析結(jié)果：對PI廠家失效芯片分析，確認(rèn)芯片無制造不良，為過電導(dǎo)致內(nèi)部晶片損傷。

2.2 應(yīng)用電路磁飽和測試分析

過載測試漏極瞬間開通電流峰值，通電50次測試最大電流峰值1.8 A。穩(wěn)定后平均電流值約900 mA，通電50次測試平均電流值在800 mA-1.2 A。測試波形如圖6所示。

分析結(jié)果：經(jīng)過對失效主板進(jìn)行整機(jī)分析驗證及過載波形分析測試確定電源芯片失效非磁飽和問題導(dǎo)致。實際開關(guān)電源漏極耐壓設(shè)計余量充足。整體測試開通瞬間漏極峰值電流小于設(shè)計值60%。

2.3 ESD、EOS過電隱患排查

經(jīng)過對芯片弱電腳進(jìn)行ESD測試確定芯片ESD極限水平均超過10 kV，綜合評估非芯片ESD等級低。PI廠家開關(guān)芯片售后失效分體機(jī)主板集中在3腳失效問題做ESD測試，施加最高電壓10 000 V，主板只出現(xiàn)芯片短暫復(fù)位，主板無失效，測試確認(rèn)ESD放電回路設(shè)計合理，沒有出現(xiàn)在光耦附近有放電現(xiàn)象，放電是在K1＼K2繼電器位置。目前廠內(nèi)主要使用36008024 TOP267VG和360001000027 TOP264VG2款開關(guān)芯片，其中TOP267VG型號芯片主要使用在柜內(nèi)機(jī)以及商用機(jī)主板上，TOP264VG型號芯片主要使用在分體內(nèi)機(jī)主板上，從售后失效數(shù)據(jù)看這2款芯片均有失效，且集中在第3腳，其中TOP264VG型號芯片失效最為突出。

2.3.1 電路對比分析

2款芯片在電路設(shè)計上均在芯片4腳頻率引腳（F）與6腳漏極引腳（D）之間開有避火槽，符合控制器設(shè)計規(guī)范，具體見圖7。對比目前班組生產(chǎn)分體機(jī)主板（300002060781），開關(guān)電源芯片TOP264VG第3腳經(jīng)過J2跳線直接連接在U101（P785）光耦3腳上，無防護(hù)元件，電路設(shè)計上存在缺陷。柜機(jī)主板（300002060015）開關(guān)電源芯片第3腳有C76片狀電容104 K/50 V防護(hù)。

2.3.2 測試過電排查

從生產(chǎn)過程排查情況看，其中450 V/150 μF電解電容在未使用放電板放電前殘留電壓較高在3 V左右，450 V/47 μF電解電容殘留電壓較低，生產(chǎn)過程已均使用放電板放電后進(jìn)行插裝。功能自動測試均自帶有放電電路，測試后電解電容殘留電壓低于芯片安全電壓3 V。

對PCB板設(shè)計電路核查，見圖8所示，發(fā)現(xiàn)有三處點距離較短，有短路隱患，具體如下。

（1）ESD放電回路最小間距點放電擊穿問題，次級供電電路與開關(guān)芯片信號反饋電路測試點距離很近。

（2）開關(guān)芯片3腳測試過孔與地之間存在最短距離點。

（3）光耦輸出級短路隱患，自插光耦需要注意測試不能出現(xiàn)3.4腳短路隱患，光耦輸出級短路開關(guān)芯片弱電失效概率很高。

圖9所示測試植針點分布圖，經(jīng)查此3個位置范圍內(nèi)未植針，不存在短路隱患。FCT測試工裝在開關(guān)電源電路上無定點，不存在探針短路導(dǎo)致開關(guān)電源芯片失效隱患。

2.3.3 儲存電荷放電排查

使用示波器對300002000905主板C126電容進(jìn)行驗證，在電容接上放電回路在640 ms內(nèi)電壓從15 V放到0 V，見圖10；不接放電回路，在17分鐘電壓還有9 V以上（開關(guān)芯片36008024控制接腳電壓范圍：-0.3 V—9 V），見圖11。

（1）電容兩腳接上放電回路，測試完成后在640 ms內(nèi)電壓從15 V放到0 V。

（2）電容兩腳不接自然放電，在17分鐘還沒有降到芯片的安全電壓9 V內(nèi)。

分析結(jié)果：排查測試過程測試點分布未發(fā)現(xiàn)明顯測試點短路隱患，測試工裝對控制器測試無完后，反饋光耦兩端關(guān)閉，在不接放電回路情況下C126反饋端電解電容放電很慢，17分鐘都沒下降到9 V，電容長期帶電存在很大隱患。

結(jié)論：分析開關(guān)芯片失效為過電損傷失效，非開關(guān)芯片本身異常。控制器測試完后反饋端電容不能有效放電，電容部放在流水線或是人接觸等因素會導(dǎo)致電容放電損壞開關(guān)芯片弱電引腳，導(dǎo)致開關(guān)電源芯片內(nèi)部晶圓軟損傷。分析此次開關(guān)電源開關(guān)芯片失效為設(shè)計缺陷導(dǎo)致，為應(yīng)用電路設(shè)計不合理，沒有對電解電容有效放電。

3 開關(guān)芯片失效的解決方案

3.1 測試工裝增加放電工裝

電解電容增加放電工裝，對控制器開關(guān)芯片電源電路次級輸出供電光耦電路47 μF電容（300002000905主板對應(yīng)是C126）增加放電處理，見圖12，驗證放電效果顯著。此種放電影響測試效率，且放電工裝與放電部點損壞短路也會導(dǎo)致開關(guān)芯片失效，不能有效監(jiān)控，只能作為臨時措施。

3.2 增加放電20 kΩ電阻

開關(guān)芯片集中在弱電側(cè)控制端失效，弱電側(cè)失效多數(shù)跟主板線路設(shè)計走線及過程ESD、過程測試放電管理存在很大關(guān)系，分體機(jī)中PI的開關(guān)芯片電路設(shè)計存在不足，在主板測試完，光耦輸出級處于開路狀態(tài)，電解電容儲存電量是沒有負(fù)載回路進(jìn)行消耗，如果過程管理不當(dāng)很容易出現(xiàn)操作、周轉(zhuǎn)等異常因素導(dǎo)致芯片過電損傷。根據(jù)相關(guān)電路分析，模擬在光耦供電電路C502電解電容（如圖13）兩端并聯(lián)20 kΩ片狀電阻放電，以便能更好快速消耗電解電容儲存的電量，結(jié)果顯示儲存電量4秒內(nèi)時間消耗完畢，放電效果顯著。

3.2.1 增加放電電阻驗證

TOP264開關(guān)芯片在光耦輸出端電解電容增加20 kΩ放電電阻，測試電容放電情況。加上R23（20 K）放電時間約4秒。

3.2.2 去掉放電電阻驗證

去掉電路R23放電電阻，2單故障板未增加20 kΩ放電電阻，測試光耦輸出端電解電容放電情況，放電時間超過5分鐘，單個控制器從測試到打包完成在2分鐘內(nèi)，主板一直生產(chǎn)過程后工序一直帶電。

3.3 增加100 Ω限流電阻

由于2019年P(guān)I廠家的TOP264電源芯片在售后故障率較高，針對失效點主要集中于3腳對地短路問題，從設(shè)計基礎(chǔ)增加了20 kΩ放電電阻，整改后失效大幅度降低，但還是有失效。實際多次模擬驗證過程測試完成后，測量開關(guān)芯片線路C106電容在4秒內(nèi)可以降低到1 V以下，見圖16所示，測試后放電未發(fā)現(xiàn)異常情況。

經(jīng)過對電路分析研究，發(fā)現(xiàn)放電只是一部分，當(dāng)外部有比較大的浪涌電壓與出現(xiàn)瞬間短路放電，將直接到開關(guān)芯片3腳控制端，此電壓短時間內(nèi)有損傷3腳的隱患。研究發(fā)現(xiàn)在開關(guān)電源芯片3腳對地增加100 Ω限流電阻（R74），見圖17所示，可以有效起到限流作用，且可縮短放電時間。通過模擬空載上電驗證，電路優(yōu)化后放電時間減少到3秒，且當(dāng)外部有浪涌電壓時此電阻可以有效泄放。

4 失效整改總結(jié)及意義

本次售后出現(xiàn)開關(guān)芯片失效，經(jīng)多方面分析驗證得出非芯片本身出現(xiàn)異常，屬于開關(guān)電源電路電路設(shè)計缺陷，在電路設(shè)計開發(fā)時未能有效考慮測試開關(guān)電源放電設(shè)計，電路設(shè)計缺陷評估不充分導(dǎo)致實際應(yīng)用出現(xiàn)失效。整改通過優(yōu)化電路設(shè)計，在電容端增加20 kΩ放電電阻，在3腳增加100 Ω放電電阻。整改后電路經(jīng)過實際試驗驗證確定可以有效解決問題，實際應(yīng)用效果顯著，開關(guān)芯片失效大幅度減少。

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