AIMS望遠鏡8～10微米成像終端系統裝調檢測方法 *

王雅琦，馮志偉，白先勇,3，張志勇,3*，孫英姿，荀 輝，沈宇樑，鄧元勇,3

(1. 中國科學院國家天文臺，北京 100101；2. 中國科學院大學，北京 100049；3. 中國科學院國家天文臺太陽活動重點實驗室，北京 100101；4. 中國科學院國家天文臺天文光學重點實驗室，北京 100101；5. 中國科學院上海技術物理研究所，上海 200083)

正在建設的 “用于太陽磁場精確測量的中紅外觀測系統” 項目(簡稱AIMS)是我國自主研制的第1臺專門用于中遠紅外波段太陽觀測的大型設備。其中，8～10 μm波段成像觀測系統是該望遠鏡的重要終端設備之一，用于系統研究太陽活動的中紅外響應[1-2]，以新的視角開拓新的領域，創造新的科學機遇。

然而，創造新的機遇也意味著面臨更多的技術挑戰?？茖W觀測要求8～10 μm終端系統的成像質量須達到衍射極限。而常溫的黑體輻射峰值在8～10 μm，為抑制環境背景，提高信噪比，系統需要工作在100 K的真空制冷環境中。在低溫環境中光學元件曲率和折射率的變化，以及結構的形變嚴重影響系統像質。低溫環境導致的變化比較復雜，目前還沒有成熟的經驗可循，所以必須對終端系統進行精密檢測，并根據檢測結果指導系統裝調。

在可見光波段已有成熟的裝調檢測方法和儀器，如ZYGO干涉儀[3]、4D干涉儀以及夏克-哈特曼波前傳感器等，可以實現峰值與谷值的差值(Peak to Valley, PV)λ/20以上的高精度檢測。但由于本終端系統為了盡量減小真空艙的體積，采用透射式光學設計，可見光不能透過，因而可見光波段的檢測儀器和方法無法直接應用?！?br>