電壓反饋型運放電參數可靠性測試方法?

李明煜 呂 樂

（中國航天科工防御技術研究試驗中心 北京 100854）

1 引言

在可靠性要求較高的行業，電參數可靠性分析研究至關重要［1-2］。集成運放因其具有成本低、動態范圍寬和高可靠性的優點，被廣泛用于各種模擬應用領域［3～4］，目前有較多運放自身電路設計的研究［5～8］，但對運放可靠性測試方法綜述類的文章較少［9～13］。

本文較為全面地梳理運放典型參數測試方法。從運放環測試原理出發，結合模擬電路原理［14～15］對比分析國內外多個測試機臺電壓反饋型運放板卡的設計，給出電壓反饋型運放通用測試電路，并對單/多運放、單/雙電源下十余項靜態、動態參數測試目的、測試原理、測試方法及調試方法進行梳理總結。最后基于本文所述測試方法編寫程序，通過設計一款適用于某型號ATE的運放環電路對比配套運放環，對AD公司較為復雜的高速雙電源、雙運放AD8066ARZ進行電參數測試，驗證本文設計方法的正確性。本文的研究對從事運放可靠性測試及測試電路設計的工作者具有一定的指導意義。

2 運放測試電路模型

2.1 運放基本測試模型

圖1為運放環電路抽象通用模型。圖中，DUT代表被測運放，AMP代表輔助運放。多運放測試時通過繼電器切入待測運放逐一測試。八個繼電器來切換待測運放，其中每兩個繼電器，分別對應1-4運放接入狀態。采樣電阻RM組為RI擋、VIN輸入源設置。波形發生器AWG、時間測量單元OTMU測SR用。運放供電源VS組為DUT、AMP供電源及表，測試每個參數都使用。K測試電路切換開關，選擇開環/閉環/輔助運放閉環測試電路。……