光源角度對金屬表面圖像邊緣的影響分析

甘 勇，于江豪，薛 菲，曾勃喬

（桂林電子科技大學 機電工程學院，廣西 桂林 541004）

引言

隨著圖像處理技術的日益發展，從圖像中直接獲取所需要的特征數據技術也更加成熟。但是，圖像成像質量的優劣直接影響著數據的可用性。為了獲得更好的圖像質量，就需要良好的圖像采集系統，其中光源的狀態直接影響著物件圖像的相關特征。因此，在圖像采集系統中穩定可靠的光源顯得尤為重要。目前國內學者主要針對機器視覺系統光源的光斑以及發光強度對圖像的影響開展了一系列研究，對于光源角度對圖像的影響研究較少。王彥、王克逸、趙帥等人為了測量光線入射角度設計了一種錐形透鏡，經過折射等變化得到圖像光斑，測量精度高[1]。龔聰、徐杜針對光源強度對圖像檢測精度的影響做了分析研究，減小光源強度變化能夠提高圖像尺寸的測量精度[2]。龔志遠等人提出了不同的光源角度對蘋果糖度近紅外光譜的影響，實驗分析得到在45°時模型精度更高[3]。Regina Eckert，Zachary F.Phillips，Laura Waller 等人根據收集的數據和照明設置參數，在圖像處理的基礎上對明亮視野進行了照明角度的估計[4]。Jan Mescher，Adrian Mertens，Amos Egel 等人研究了典型的有機光電器件中光入射角度、吸收層厚度和光子捕獲效率之間的相互依賴關系，光照的入射角度決定了吸收層的厚度[5]。郭靜、馮鵬、鄧露珍等人針對如何降低X 射線熒光CT 的康普頓散射噪聲，模擬4 個角度下的射線投影數據，得到了有效的角度值[6]。馬致臻、蔣上海、羅彬彬等人針對X 射線的探測角度對圖像質量的影響，分析對比了3 種算法的成像質量效果，實驗結果表明，優化探測角度結合合適的算法可以有效提升圖像質量[7]。……