綜合物探手段在前道礦山勘查中的應(yīng)用

曲 景

（河北圍場滿族蒙古族自治縣國豪礦業(yè)有限公司，河北 承德 068350）

1 礦區(qū)電性特征

本次物性測量工作，共采集巖、礦石標(biāo)本60塊，經(jīng)過統(tǒng)計分析后獲得該區(qū)巖、礦石磁性與電性特征，物性參數(shù)統(tǒng)計表見1、表2。

表2 巖（礦）石電性參數(shù)統(tǒng)計表

統(tǒng)計結(jié)果表明礦區(qū)圍巖-花崗巖表現(xiàn)為中高阻高磁性特征，礦體表現(xiàn)為高阻低磁特征。此外，含圍巖角礫的礦（化）體電阻率相對較低，含硅化的礦（化）體電阻率相對高，裂隙發(fā)育情況下，電阻率偏低[1]。電阻率因巖石結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、風(fēng)化程度以及所含成分的不同出現(xiàn)較大變化范圍。

2 數(shù)據(jù)采集

2.1 高精度磁法測量

本次高精度磁法測量工作投入儀器為加拿大GEM公司產(chǎn)GSM-19T，數(shù)量3臺。該儀器具有輕便、高靈敏性，分辨率為0.0nT，在全溫度范圍內(nèi)，絕對精度達(dá)到0.2nT。其系統(tǒng)主要特點(diǎn)：①微處理器控制，存儲量（可擴(kuò)展到32Mbytes）。②與基點(diǎn)站保持同步，并對磁場的偏差自動進(jìn)行日校正。③采集的數(shù)據(jù)與計算機(jī)之間的數(shù)據(jù)讀取采用RS-232-C串行口。④在線實(shí)時傳輸（RTT）和后操作傳輸。⑤梯度方式對兩個磁場的間隔測量和同時測量進(jìn)行精密的控制。⑥兼容磁力和梯度儀的VLF測量，要選擇VLF測量時需要選擇VLF（超低頻）傳感器。

2.2 高密度電阻率法測量

本次高密度電阻率測量投入重慶地質(zhì)儀器廠產(chǎn)DUK-2A測量系統(tǒng)（120道）。如圖1所示。該系統(tǒng)具有輕便，易于搬運(yùn)；抗干擾能力強(qiáng)，觀測精度高；電極布設(shè)一次完成，無需人工跑極；成本低，效率高等特點(diǎn)。

圖1 DUK-2A高密度測量系統(tǒng)

3 數(shù)據(jù)處理和解釋

3.1 磁異常特征與解釋推斷

本次高精度磁法測量的目的是圈定控礦構(gòu)造。斷裂構(gòu)造常具有線性梯度帶、等值線扭曲變異帶、串珠狀異常帶等磁異常特征。由圖2可知，礦區(qū)含礦斷裂構(gòu)造2條，即F1、F2，其中F1走向北東東，長約290m；F2走向北東東，長約140m；ΔT表現(xiàn)為負(fù)磁條帶或線性梯度帶特征，其值介于-20nT～0nT之間。由解析延拓（上延）可知，斷裂構(gòu)造延伸較淺。花崗巖為正磁異常，ΔT多在0nT～40nT之間。

圖2 總強(qiáng)度磁異常等值線平面圖

3.2 高密度電阻率法剖面解釋推斷

依照前道礦區(qū)礦體分布范圍與推測F1、F2斷裂的展布情況，同時考慮地形對工作布置的影響，礦區(qū)內(nèi)布設(shè)3條高密度電阻率剖面，即0號、2號、8號剖面。如圖3。

圖3 前道礦區(qū)工程布置圖

0號剖面1號～58號電極（剖面距離約0m～420m）間，視電阻率值相對較低，介于280Ωm0～4000Ωm，屬于花崗巖的響應(yīng)。58號～120號電極間，視電阻率較高，介于4000Ωm～5600Ωm，結(jié)合電性參數(shù)特征，推測是由致密花崗巖體或硅化引起。4號剖面58號～73號電極下方存在一高阻異常體，其阻值介于4400Ωm～7600Ωm，傾向北，傾角約70°，處于標(biāo)高980m～1210m。根據(jù)本區(qū)巖性參數(shù)特征，推測此高阻體為硅化體或致密花崗巖體。8號剖面55號～76號電極下方存在一高阻異常體，其阻值介于4800Ωm～7600Ωm，傾向南，傾角約64°，處于標(biāo)高1020m～1210m。根據(jù)本區(qū)巖性參數(shù)特征，推測此高阻體為硅化體或致密花崗巖體。

綜上所述，F(xiàn)2斷層在0號、2號剖面上的電阻率響應(yīng)明顯，連續(xù)性較好，可追蹤，且深部延伸較大，具有較好的深部找礦前景。F1斷層在0號、2號、8號剖面上的連續(xù)性較好，走向延伸較長，但深部延伸不大，且在其走向上斷層傾向發(fā)生變化，為扭性斷裂，具有一定的找礦前景。此外，在8號剖面中還推測3條，即Fa、Fb、Fc，均傾向南，規(guī)模較小，深部延伸不大，呈雁行展布。

4 結(jié)論和建議

通過高精度磁法測量工作，推測斷裂構(gòu)造2條，即斷層F1、F2，走向北東東，其中F1長約0.29km，F(xiàn)2長約0.14km。通過高密度電阻率法測量工作，進(jìn)一步查明了F1、F2斷層的產(chǎn)狀，大致推測了其規(guī)模。F1斷層在0號、2號剖面上南傾，在8號剖面上北傾，傾角58°～75°，走向上比較連續(xù)，但其深部延伸不大，具有一定的找礦前景。F1斷層在0號、2號剖面上北傾，8號剖面上無明顯響應(yīng)，傾角約70°～75°，深部延伸較大，具有較好的成礦條件。此外，在8號剖面中還推測3條，即Fa、Fb、Fc，均傾向南，規(guī)模較小，深部延伸不大，呈雁行展布。