淺析影響機織紡織品起毛起球的主要因素

王萌　田月　喬文華　單晶晶

摘 要 企業生產過程中和消費者使用過程中，都會經常遇到紡織品起毛起球現象。本文就機織紡織品起毛起球測試原理、評級方法，以及機織紡織品起毛起球的物理、結構、原料等諸多因素進行了詳細的解析。

關鍵詞 機織物 起毛起球 主要因素

中圖分類號：TS131.9 文獻標識碼：A

0前言

紡織品起毛起球是一種常見且普遍的現象。起毛起球后的紡織品不僅影響紡織品自身的外觀，降低紡織品使用過程中的舒適以及其自身的耐久性;批量生產后還會給生產企業造成一定的經濟損失。鑒于紡織品起毛起球常常給生產企業和使用者帶來的這些麻煩與困擾，今天就帶大家一起來看一看這樣幾點內容：國家現行標準對機織物紡織品起毛起球的測試原理、級別評定辦法;以及機織物紡織品起毛起球的主要因素分析。

1國家標準對起毛起球的考核方法

要想了解紡織品起毛起球的原因，首先我們要清楚國家現行標準是怎樣對紡織品起毛起球進行考核的？什么程度的起毛起球合格，什么程度的起毛起球不合格？

我國現行對機織紡織品起毛起球進行測試的標準引用的是2008年制定的4802.1《圓軌跡法織物起球測試方法》，改方法的原理是：采用尼龍刷和織物磨料，或者僅采用織物磨料，對被測試樣進行圓形軌跡摩擦，然后在光照條件下，對被測試樣的起毛起球等級進行視覺描述評定。

起毛起球的等級評定主要采用視覺描述的評定方法。具體的等級分為以下五種：

2機織物起毛起球的主要影響因素

基于以上的測試原理和評判標準，我們帶大家來具體看一看引起機織物起毛起球的幾項主要因素。

2.1原材料的選用

（1）纖維長度越短的原料織造成的面料越容易起毛起球。這不僅是因為短纖維制造成的紗線接頭較多，而且和纖維之間的摩擦力和抱和力也決定著織物的起毛起球性能。長纖維之間的摩擦力和抱和力較大，使纖維難以散落并滑移至織物表面，因此也就難以糾結成球。

（2）纖維卷曲度越高的原料織造成的面料越容易起毛起球。這是因為纖維的卷曲波形愈多，加捻時纖維不容易伸展，在摩擦過程中纖維容易松動滑移，在紗線表面形成毛茸。為此，纖維卷曲性愈好，愈易起球。

（3）纖維強伸度越低的原材料越容易起毛起球。纖維強度決定了的織物在有外力作用時不容易斷裂出現斷頭，也就不容易產生散纖維游離和漂移的情況，從而越不容易起球。

2.2機織物的組織結構

（1）織物的緊密性：組織結構疏松的織物比結構緊密的織物易起毛起球，結構緊密的織物與外界物體摩擦時，不易產生毛絨，已經產生的毛絨又由于纖維之間的摩擦阻力較大，而不易滑到織物表面上來，故可減輕起毛起球現象。針織物比機織物容易起球，而低機號織物又比高機號織物易起毛起球。基于此因素，機織物面料中易起毛起球的程度：緞紋面料>斜紋面料>平紋面料。

（2）織物表面的平整性：另一方面，織物表面的平整性也決定了紡織品起毛起球的程度。表面約不平整的組織結構，凸起點承受到來自外界摩擦的強度越高，就越容易起毛起球。

2.3紗線的加工工藝

（1）捻度：在紡紗的工藝中有一道工序叫做加捻，既是把一根原料絲的一段握持住，然后再另一端進行回轉運動，經過回轉的原料絲便有了捻度成了線。捻度越大的線，抱和力越強，對每一根單絲的束縛力也就越強。因此我們得知，紗線捻度越大的面料，越不容易起球。

（2）毛羽指數：毛羽是指那些伸出紗線基體表面的纖維，其數量、長度、分布區域越多則代表著紗線的毛羽指數越大。而毛羽指數越大的紗線制造成的面料可想而知，面料表面游離的散纖維就越多。那么起毛起球的程度就越重。

（3）混紡比：相比之下，混紡纖維比其他纖維容易起球。比如一樣化纖、羊毛、棉纖維混紡的衣服，就比一件純羊毛的衣服容易起球。這是因為：化纖強度高、抗曲性能高，導致了纖維不容易脫落，在紡織品表面纏結成球。例如一件滌棉產品，由于滌綸纖維的強力較大，與棉纖維毛羽纏結在一起且很難脫落，這就形成了我們所見到的起球現象。

2.4來自染整工序的影響

除以上所提及因素外，紡織品染色及后整理對其抗起毛起球性能也產生較大影響。這與染料、助劑、染整工藝條件有關，絞紗染色的紗線比用散毛染色或毛條染色的紗線易起球;成衣染色的織物比紗線染色所織的織物易起球。然而織物經過定型，特別是經樹脂整理等處理后，其抗起毛起球性反而會大大增強;短纖紗織物經過燒毛、長絲合纖織物經過熱定型都可減輕起毛起球，前者是由于自由纖維端減少，后者是由于纖維剛性增加以及纖維間位置固定。

3結束語

起毛起球現象是一種結果，其成因就是上述：原料、紡紗、織造以及染整等幾道工序中對纖維的加工以及其自身的一些屬性所致。

發現問題是為了更好的解決問題和防御問題的發生，針對這些環節的提出，企業可以針對性的查找和分析原因，在今后的生產過程中有效的緩解和避免面料起毛起球現象的發生。

參考文獻

[1] GB/T4802.1—2008，紡織品、織物起毛起球性能的測定（第一部分：圓軌跡法[S].