黃振永 王利利 裴雪丹 薛竣文 蘇秉華
北京理工大學(xué)珠海學(xué)院 廣東珠海 519088
《光電綜合實(shí)驗(yàn)》我院開設(shè)超過(guò)十年的課程之一。用線陣CCD測(cè)量物體的尺寸是該課程重要的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目之一。該實(shí)驗(yàn)使用的是天津市耀輝光電技術(shù)有限公司的產(chǎn)品——線陣CCD應(yīng)用開發(fā)實(shí)驗(yàn)儀(LCCDAD-Ⅱ型),選用的實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書是王慶友教授編寫的配套書。因?yàn)槔迷搶?shí)驗(yàn)儀做的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目都與線陣CCD的數(shù)據(jù)采集和處理有關(guān),且它屬于儀器內(nèi)部的東西,好似“暗箱處理”,學(xué)生做實(shí)驗(yàn)時(shí)并不明白線陣CCD的數(shù)據(jù)采集和處理方案,所以本文旨在闡述一種用LCCDAD-Ⅱ型線陣CCD測(cè)量物體尺寸的數(shù)據(jù)處理算法,并提供一套用C語(yǔ)言編寫的數(shù)據(jù)處理程序。
線陣CCD的輸出信號(hào)包含了CCD各個(gè)像元所接收光強(qiáng)度的分布和像元位置的信息,使它在物體尺寸和位置檢測(cè)中有重要的應(yīng)用價(jià)值。如圖1所示為測(cè)量物體外形尺寸(如棒材的直徑D)的原理圖。

圖1 測(cè)量原理圖
將被測(cè)物體A 置于成像物鏡的物方視場(chǎng)中,將線陣CCD的像敏面恰好調(diào)節(jié)在成像物鏡的最佳像面位置上。用平行光照亮被測(cè)物體A時(shí),其像黑白分明的光強(qiáng)分布使得相應(yīng)像敏單元上存儲(chǔ)載荷了被測(cè)物尺寸信息的電荷包,通過(guò) CCD及其驅(qū)動(dòng)器將載有尺寸信息的電荷包轉(zhuǎn)換為如圖1右側(cè)所示的時(shí)序電壓信號(hào)(理想化時(shí)輸出矩形波)[1]。根據(jù)輸出波形可以測(cè)得物體 A 在像方的尺寸再根據(jù)成像物鏡的物像關(guān)系,可找出光學(xué)成像系統(tǒng)的放大倍率,便可以用下面公式計(jì)算出物體 A 的實(shí)際尺寸
參考物A的尺寸標(biāo)定:
把A放在物空間,把CCD的像敏面調(diào)節(jié)到清晰像的位置,此時(shí)鏡頭的物距和像距是確定的數(shù),即鏡頭的放大倍率β(=像距/物距)是確定值。在做實(shí)驗(yàn)前,用游標(biāo)卡尺或螺旋測(cè)微器測(cè)量出A
被測(cè)物B的尺寸測(cè)量:
把參考物A拿走,換上待測(cè)物體B。在做實(shí)驗(yàn)前,用游標(biāo)卡尺或螺旋測(cè)微器測(cè)量出B的實(shí)際值。實(shí)驗(yàn)儀的測(cè)量值為:。這意味著:在測(cè)量待測(cè)物體的外徑尺寸之前,如果我們先測(cè)量出參考物體A的測(cè)量值:,再得到待測(cè)物,就可以得出待測(cè)物體B的測(cè)量值。物體B的測(cè)量誤差是:由上可知,的值直接影響測(cè)量的精度。
實(shí)驗(yàn)得到的測(cè)量圖形通常如圖2所示。在軟件界面中先點(diǎn)擊【單次】再點(diǎn)擊【數(shù)據(jù)】就可以得到瞬時(shí)測(cè)量數(shù)據(jù)。從波形和測(cè)量數(shù)據(jù)可以看出,的值與閾值有關(guān),但只要測(cè)量A和B時(shí)選用相同的閾值則閾值的選取不會(huì)影響外徑的測(cè)量準(zhǔn)確度。實(shí)驗(yàn)儀采用的二值化的方法:高于閾值的電壓取值為 (新的高電平),低于閾值的電壓取值為 (新的低電平),從而得到一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的矩形波。矩形波的下降(上升)沿位置對(duì)于圖2中中央直線與曲線的左(右)交點(diǎn)位置。由于實(shí)驗(yàn)儀的暗箱性,所以學(xué)生看不到二值化的過(guò)程。現(xiàn)在用【數(shù)據(jù)】中的信息求物體外徑的邊界像元序號(hào)N的值。在圖3中,設(shè)A的坐標(biāo)為(a,b)、設(shè)B的坐標(biāo)為(a,c)、設(shè)C的坐標(biāo)為(d,c)、設(shè)D的坐標(biāo)為(e,f),橫坐標(biāo)表示像元序號(hào),縱坐標(biāo)表示輸出電壓值。現(xiàn)在求F坐標(biāo)(e,c)中的e值(即指定電壓閾值對(duì)應(yīng)的像元序號(hào))。

圖2 CCD像敏面上輸出電壓波形圖
用線陣CCD測(cè)量物體尺寸是電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)重要的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目之一,實(shí)驗(yàn)儀的暗箱性不利于學(xué)生理解實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理方案。本文采用的方法避免了高低電壓的取值不確定性帶來(lái)的測(cè)量誤差,結(jié)合MATLAB或C語(yǔ)言編程可以快速地處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。