常用統(tǒng)計學方法

常用統(tǒng)計學方法：分類（名義分類或等級分類）資料用χ2檢驗、Ridit分析，區(qū)間變量均數組間比較用t檢查、F檢驗、秩和檢驗（適用于呈偏態(tài)分布的區(qū)間變量）。χ2檢驗的適應范圍：當總體樣本含量（n）＞40，理論頻數（T）＞5時，用χ2檢驗的基本公式；若n＞40.1＜T＜5時，用校正χ2檢驗；若n＜40或T＜1時，用χ2檢驗的確切概率法。t檢驗、F檢驗均適用于呈正態(tài)分布的區(qū)間變量，t檢驗常用于配對設計的差值均數與總體均數0的比較（如治療前后比較）、成組設計的兩小樣本均數的比較，成組設計的兩大樣本均數的比較用U檢驗；F檢驗是一攬子比較（只能發(fā)現兩組以上區(qū)間變量均數的差異是否存在統(tǒng)計學意義，而不能發(fā)現是哪兩組差異存在統(tǒng)計學意義），多個樣本均數間的兩兩比較可用事后檢驗（Post Hoc），常用用LSD法、SNK法、Dunnett't法、Dunnett's T3（方差不齊）、Tammhane's T2（方差不齊）等。顯著性水準只取P＜0.05和P＜0.01，若用SPSS、SAS軟件等進行統(tǒng)計學處理，也可給出具體的P值。