顱骨鉆孔硬腦膜下電極置入視頻腦電監(jiān)測在致灶定位中的應(yīng)用

張保中，張 挺，王 飛，廖毓芝，王兆偉，張一鳴，袁 磊

1 對象與方法

1.2 電極置入方法 顱骨鉆孔位置的選擇，原則上由電極擬接觸的大腦區(qū)域決定。最常用顱骨鉆孔中心位置是耳廓尖上、后各2.0 cm。此處相當(dāng)于外側(cè)裂后支末端，這樣電極可較準(zhǔn)確地分別放置于額、顳、頂和枕葉的表面。具體操作是：取頭皮縱向直線切口3.0～5.0 cm，依次切開頭皮各層組織，剝開顱骨骨膜；顱骨鉆孔，必要時可用咬骨鉗適當(dāng)擴(kuò)大骨孔；“十”字打開硬腦膜和蛛網(wǎng)膜，可見腦脊液流出；按需要向不同方向分別置入不同規(guī)格的條狀電極；自深及淺依次分層縫合頭皮組織。電極導(dǎo)線從頭皮另戳切口引出、固定，連接腦電圖儀進(jìn)行VEEG監(jiān)測。

2 結(jié) 果

2.2 并發(fā)癥 65例中，發(fā)生并發(fā)癥1例，并發(fā)癥率1.54%。該例并發(fā)癥為局部腦組織挫裂傷，原因是放置電極時將電極插入了附近的腦組織。該組患者無永久性神經(jīng)功能障礙并發(fā)癥。

3 討 論

3.2 顱骨鉆孔硬腦膜下電極置入VEEG監(jiān)測的安全性 顱內(nèi)電極VEEG作為一種有創(chuàng)檢查具有一定的風(fēng)險，可以出現(xiàn)感染、出血、永久性神經(jīng)功能障礙等嚴(yán)重并發(fā)癥，甚至可導(dǎo)致死亡。文獻(xiàn)[8]顯示，顱內(nèi)電極置入出現(xiàn)永久性神經(jīng)功能障礙的概率比切除性手術(shù)低得多，只有0.5%，導(dǎo)致死亡的更是極為罕見。Ravindra等[9]研究發(fā)現(xiàn)，截至2013年，文獻(xiàn)報道的顱內(nèi)電極置入導(dǎo)致死亡的只有5例。本研究顯示，顱骨鉆孔硬腦膜下電極置入VEEG監(jiān)測的并發(fā)癥率1.54%，未造成永久性神經(jīng)功能障礙。打開硬腦膜和蛛網(wǎng)膜時盡量保持軟腦膜的完整、置入電極時勿用暴力可避免將電極誤插入腦組織造成局部腦挫裂傷。

盡管本研究出現(xiàn)1例極為罕見的死亡病例。我們?nèi)匀煌獯蠖鄶?shù)研究者的結(jié)論：顱內(nèi)電極置入是一種非常安全的檢查方法，并發(fā)癥率極低，死亡極為罕見，是完全能為醫(yī)師和患者所接受的一種有創(chuàng)檢查。