自動翻轉回墨類印章真偽鑒定方法初探

張大勇　全志臣

摘要：自動翻轉回墨印章是由載有印文的膠皮、銅板與能夠使印文面蓋印時朝向紙面備用時翻轉至儲墨盒內的印章架子組成的一種半自動的蓋印裝置。在蓋印裝置作用下其蓋印印文清晰、印章不易變形，因使用時不用外置印臺不臟手、當印跡不清晰時易更換印文面、利于攜帶等優點給使用者帶來諸多方便，而被廣為使用。不法分子在偽造印章類案件中不可避免會出現偽造自動翻轉回墨印章蓋印情況。筆者組織檢察院及公安同行對自動翻轉回墨印章蓋印特征進行研究，分析總結出相關規律特點及檢驗鑒定此類案件四步程序方法，供同行工作中借鑒使用。

關鍵詞：自動翻轉回墨印章；鑒定方法

受理此類案件第一步，要分析檢材印文形成方法，排除轉印、復印、打印、印刷等偽造情況，綜合利用人工、儀器檢驗方法確認檢材是否系印章系蓋印成。方法如下：

1. 人工光學檢驗法。通過觀察印文是否有壓痕、線條色澤濃淡、印文規格、字體是否統一、圖文真實度等特征，一般較為容易認定或排除是否印章蓋印情況，非蓋印形成自然就是仿造無疑。

2. 專用設備下檢驗法。除檢驗形成印文墨跡成分類需化學方法外，多數情況可采用放大印文方式進行檢驗。通過顯微鏡或數碼相機及專用圖像處理軟件將印文放大，觀察圖文是否由彩色墨點構成，圖文是否有洇散、印文種類、尺寸等情況來輔助確認檢材印文是否為印章蓋印。

第二步，尋找檢材印文周圍是否具有自動翻轉回墨印章中輔助蓋印裝置在形成印文時留下的多余墨跡特征，用以認定或排除檢材是否為自動翻轉回墨印章蓋印形成，從而達到對檢材印文種屬類的認定或否定。

市場上回墨印章多是圓筒狀、方塊狀，外側是工程塑料外殼，中心是可以在外力作用下翻轉的印文面。蓋印時先把印章平放在文件上，這時印章裝置下邊沿的塑料邊框與文件接觸，由上向下施加力量使印文面下降至文件表面過程中，蓋印力量集中作用在塑料邊框及文件上，這就有可能將塑料邊框壓力痕跡遺留在文件上；蓋印裝置下邊框長期裸露，與文件表面接觸，擦蹭印文不可避免，在下邊框上粘附的污跡痕跡有可能粘附在印文周圍文件上。這些壓力、污跡痕可以用于鑒定，方法如下：

1. 蓋印裝置邊框污跡痕的利用。自動翻轉回墨印章下邊框與支撐的上半部裝置為一體設計，下邊框底沿在制造中左右兩側會出現模具拼接痕跡，在邊框前后兩側弧形、長邊會出現鑄模時參考線標志痕跡等，一般標志痕跡為圓形圖案內十字坐標或方形圖案。這些痕跡受邊框粘附墨跡多少，蓋印壓力大小影響表現會有不同，印文周圍發現此特征能夠反映出印章的邊框特征情況。觀察邊框污跡痕時可針對印文顏色進行有效的光源激發，選用合適的濾光鏡檢驗，以加強污跡與文件的反差。

2. 蓋印裝置邊框壓力痕跡的利用。當印文周邊反映邊框的污跡太少或不易觀察時，要對印文周圍紙張的壓痕變化進行檢驗，通過文件正反面的側光觀察，必要時利用多波段光源進行檢驗。壓力痕跡不明顯，需要加強時可采用靜電壓痕儀進行處理，對于顯現出的邊框壓痕要與帶有印章邊框墨跡痕的實驗樣本進行比對檢驗。

第三步，通過自動翻轉回墨印章蓋印與徒手蓋印傳統印章對印文形成的影響來對檢驗檢材是否為自動翻轉回墨印章蓋印，從而達到對檢材印文種屬類的認定或否定。

1. 輔助蓋印裝置能有效對蓋印壓力進行約束，導致蓋印印文出現穩定特征。

傳統印章由印柄和印文兩部分組成，蓋印時需手持印柄，向文件面上施加壓力從而在文件上留下印跡。手握持印柄手勢的不同，作用到印柄力的方向會有區別，傳導至印文面與紙面時會影響印文形狀，造成筆畫虛實、印章邊局部重壓等情況。而自動翻轉回墨印章受輔助蓋印裝置的影響，蓋印力量首先集中在上下聯動翻轉架上，當印面順沿架子兩側軌道由上而下加蓋到紙面上時，無論持印章手勢如何，印文面受力都被輔助裝置約束成自上而下，從而使印文墨跡相對均勻，邊框虛實相對統一，給認定是否為翻圍回墨印章提供了依據。以圓形章為例，自動翻轉回墨印章固定印面的背板下方由3點鐘至9點鐘位置安裝直徑3毫米的金屬軸，蓋印壓力下印面以此軸在兩側立壁軌道內滑行至翻轉凸起點后繼續向下，以軸中心承受下壓力，向下壓力向周圍傳導至整個印面。傳導中軸兩端印面受壓力大而持久，遠離軸心的12點鐘方向、6點鐘方向印面受壓力小而短暫，從而導致整個印面上下兩端印跡相對左右兩側墨跡輕、顏色淡。以百例膠皮類自動翻轉回墨印章蓋印分析印文特點為，11點至1點鐘、5點鐘至7點鐘印文較輕，顏色淡特點突出；1點鐘至5點鐘、7點鐘至11點鐘印文清晰，顏色濃。

2. 自動翻轉回墨印章中穿過印文背板兩端的金屬軸與軸孔之間的活動量導致印面接觸紙張時上下兩端出現抖動，筆畫出現虛描現象。

蓋印力量作用在金屬軸圓形表面，平行軸的兩個側面會因軸輕微顫動導致遠端印文多次受力，此受力頻率與金屬軸顫動頻率一致，體現在印文筆畫上出現重影現象。

第四步，確認檢材印文與樣本印文均屬于自動翻轉回墨印章蓋印后需要選用細節特征進行同一鑒定。

1. 觀察比對印文規格特征。對表述印文的內容（字體、邊框）、印文布局形態、印文大小等特征進行比對，規格不符印章不同一，規格特征相符進入細節特征比對程序。

2. 觀察比對印文印文細節特征。分析印文字間位置、距離，筆畫線條交接和搭配關系，筆畫形態，國徽、星徽具體結構形態，印面結構的疵點、缺損等。細節特征不符，否定同一，規格和細節特征均相符，認定印文同一。

參考文獻：

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[2]周云玲.印章印文檢驗[M].

[3]張書杰.工具痕跡學，工具痕跡鑒定[M].中國人民公安大學出版社，2002.

作者簡介：

張大勇，河北省唐山市，河北省遷安人民檢察院；

全志臣，河北省唐山市，河北省唐山市公安局刑警支隊。