電子元器件產品質量自動檢測技術的研究與應用

吳永樂

【摘要】 對于電子元器件來說，它是電子產品基本構成部分，也是電子產品實現自身功能的根本，要保證電子元器件產品質量，就要應用一定的自動檢測技術。因此，本文將從電子元器件基本情況入手，結合影響電子元器件產常見故障，研究怎樣做好電子元器件產品質量自動檢測系統設計。

【關鍵詞】 電子元器件 產品質量 自動檢測技術

前言：眾所周知，質量越好的電子元器件功能就越完善，電子生產商經濟效益也就更好，為保證電子產品生產，就需要找出電子元器件產品常見故障，做好電子元器件質量自動檢測設計，因此，有必要對電子元器件產品質量自動檢測技術進行研究。

一、電子元器件概述

對于電子元器件來說，其構成部分有兩種，一種是元件，它是電子元器件加工中化學成分不需要該改變的部分，也不會影響電子元器件電壓與電流[1]。另一種是器件，它在電子元器件加工中需要改變化學成分，進而產生電子，也對電氣元器件電流與電壓有一定影響。對于元件與器件設計來說，需要以設計結構為基礎，重視技術的應用，同時做好相互協調工作，只有這樣才能強化電子元器件功能，發揮其應有作用。

二、電子元器件產品常見故障

在應用電子元器件產品的過程中，經常會發生以下故障，它們也是影響產品質量的關鍵：第一，電路就接點開路故障。這是電子元器件最容易發生的故障，通過研究發現導致故障發生主要原因在于電子元器件在生產中就存在問題，有些電子元器件在出廠前就存在接觸不良、線路焊接差的情況[2]。第二，元器件損壞。很多電子元器件在發生使用中經常會因保險電阻出現過流的而發生熔斷，進而誘發元器件被損壞。第三，軟件故障。這也是電子元器件容易出現的質量問題之一主要是電解電容器在使用中出現了漏電等不良情況，但由于該故障較為隱蔽，不易被發現，檢測難度也很大，它也是電子元器件產品質量檢測難點。

三、電子元器件產品質量自動檢測系統設計

1、諧振頻率檢測。在電子元器件產品質量自動檢測技術中，可以將諧振頻率檢測作為主要技術之一，如在檢測電子元器件產品諧振頻率的過程中，可以將51單片機作為檢測設備，之所以選用這種檢測設備主要是由于其具有計數作用，如果晶振頻率較低，就要在既定時間內計算好振蕩波形，進而獲得晶振諧振頻率。在利用該檢測設備檢測的過程中，要先開啟單片機控制模式功能，然后將需要檢測的晶振引腳與測量電路連接在一起，在保證晶振振蕩波形穩定以后再檢測，同時，還要利用單片機做好振蕩波形計數，再確定好檢測時間，在檢測完成以后，就可以讀取檢測數值，并獲得晶振諧振頻率[3]。

2、電子元器件引腳可焊性檢測。電子元器件引腳可焊性檢測在特定溫度與助焊劑的作用下可以讓母線表面與軟焊材料很好的結合在一起。電子元器件引腳可焊性檢測也是產品質量檢測的重要組成部分，因此，可以采用以下幾種檢測方法：第一，焊槽法，在這種檢測方法中，應先將檢測產品浸泡含有助焊劑的液體中，時間為一分鐘，取出后將元器件引腳以每秒25mm左右的速度垂直放置在焊槽中，時間為20秒左右。然后再用10倍左右的放大鏡檢測引腳，當其90%的表面被覆蓋且保證均勻、平滑以后則意味著達到可焊性要求。第二，焊球法，這種檢測方法的大致過程與焊槽法基本相同，先將焊料放置在特定加熱設備上，讓焊料融化成液滴，然后再將其防止在焊球中，觀察引腳潤濕時間，潤濕時間越多則意味著可焊性越好。

3、氣密性檢測。對于電器元件氣密性檢測來說，應采用先細檢后粗檢的方式，在細檢中多采用氦質譜背壓檢測方法，也就是將元件防放置在含有一定氦氣的封閉罐中，在一段時間以后觀察元件是否出現泄漏，如果出現泄漏則意味著氦氣已經進入到元件中，然后將元件取出，將表面氦氣去除后再放到氦質譜儀測試箱中。在氦氣脫離元件以后再用質譜儀獲得離子流，這樣也可以從中獲取電量，了解元件的泄漏情況，進而了解電子元器件氣密性。

4、電子元器件引腳外形檢測。盡管電氣元器件設計中允許存在合理誤差，但有些電子元器件引腳外形誤差卻超出了既定要求，因此，應重視電子元器件引腳外形檢測，防止產品質量問題擴大化。在檢測電氣元器件引腳外形中，可以將CCD圖像傳感器作為主要檢測技術，在該技術中不僅含有測試技術，還具有一定的文字識別能力，所以，要將該技術作為電子元器件引腳外形檢測重點。

結束語：通過研究發現，電子元器件是電子產品重要組成部分，缺少了電子元器件電子產品也就不具有應有作用，但受多種因素影響，電子元器件產品質量容易出現問題，針對這種情況就需要相關工作人員聯系實際情況，采用合理的檢測技術。本文有針對性的提出了一些做好電子元器件產品檢測的技術，希望能為相關人士帶來參考。

參 考 文 獻

[1]臧建蓮. 電子元器件產品數據庫的技術特點分析[J]. 電子元件與材料，2014，03：93-94.

[2]印曉紅. 軍工產品中電子元器件的質量控制研究[J]. 中國高新技術企業，2015，13：22-23.

[3]關本霞. 電子元器件的檢測方法探討[J]. 科技創業家，2013，21：34.