脈沖中子氧活化測井技術在低滲透油田的應用

2016-10-26 09:14:33譚文秀大慶油田測試技術服務分公司評價中心黑龍江大慶163000

化工管理 2016年28期

譚文秀（大慶油田測試技術服務分公司評價中心，黑龍江大慶 163000）

譚文秀（大慶油田測試技術服務分公司評價中心，黑龍江大慶 163000）

本文介紹了脈沖中子氧活化測井技術的原理，以及在XX低滲透油田上的應用情況和存在的一些問題。

脈沖中子氧活化測井技術；低滲透油田；應用

XX油田是非均質多油層注水開發油田，了解注水井各油層的吸水狀況，對于油田開發和生產具有極其重要的作用。油田測量吸水剖面最常用的方法是放射性同位素示蹤測井技術。但隨著時間的推移和油田開發的不斷深入，在近幾年的同位素注入剖面測井中的放射性示蹤劑沾污、漏失和竄槽現象比較多，因此在放射性同位素示蹤測井曲線上產生了不能正確反映注水量的假異常，影響了注入剖面測井的準確性，降低了資料利用率。而應用脈沖中子氧活化測井技術，彌補了這些弊端，主要應用在注凝膠、注聚合物、低注入量、沾污嚴重及竄漏等類水井中，地質分析效果良好。

1　現場應用

（1）對于同位素示蹤劑“沾污”的井，如XX井為分層井，在進行同位素示蹤測井中，由于層位II正對著配水器，使得同位素的反應很難確定該層位的吸水量，不好確定扣除沾污的比例。而脈沖中子氧活化技術就可以確定出該層的實際吸入量。

某井日配注20m3，用同位素示蹤和氧活化測井得到的解釋結果如表1。

表1　

從表l看出，脈沖中子氧活化測量II層相對吸水量為70.14% ，III 層相對吸水量為29.86% 。測量的總流量為20.26m3/d。II 層絕對吸水量為14.21m3/d，III層絕對吸水量為6.05m3/d。氧活化法測量同時還測出了該層的絕對吸水量。而同位素由于存在沾污的影響，測得II層相對吸水量為46.2%，誤差很大，影響了注入剖面的準確性。

（2）在存在大孔道地層的情況下，可避免或消除地層大孔道對放射性同位素注水剖面測井的影響，如XX井該井為分層配注，從井溫曲線可以看出，該層井溫有變化，說明該層有水量變化。但同位素示蹤測井技術由于同位素載體進入層位的內部，超出伽瑪儀器探測范圍，不能真實的說明該層位的吸水情況。

接下來對該井進行氧活化測井項目，在層上、下分別加測點進行測量，該層位的絕對吸入量為9.14方。同位素示蹤測井技術由于同位素載體進入層位的內部，超出伽瑪儀器探測范圍，不能真實的說明該層位的吸水情況。氧活化測井技術，可避免或消除地層大孔道對放射性同位素注水剖面測井的影響，為油田開發提供可靠的注水井注水剖面資料，是油田在注水開發后期測量注水井注水剖面的行之有效的測井方法。

（3）脈沖中子氧活化測井技術還可以判斷封隔器密封性，在分層配注井中，如果各層段封隔器都正常工作，且套管外水泥環中沒有竄流，則在封隔器上下，即在一個配注段中最上面射開層位之上和最下面射開層位之下，不應該測到水流，并且油管內水嘴上下流量差應該等于該配注段各層注入量之和。可是實際資料顯示，封隔器不密封的情況經常出現，有時甚至會出現幾個封隔器同時失效的情況，因此測井施工和資料解釋中要首先檢驗封隔器是否密封。

（4）對于喇叭口在射孔段底部，當同位素微球密度大時，微球滑脫、下沉，下部同位素多，上部到位少，污染多。即使同位素微球密度不大，也常因為井段長，沿途沾污損失后，上部主吸水層同位素到位少或不到位，影響資料解釋質量。如XX井為籠統注水，并且喇叭口在射孔層的底部。另外兩個小層距IV層的層距在為25米，從注入剖面對比成果表中可以看出，IV層為主力吸水層。又對該井進行了氧活化測井項目進行對比，結果顯示，III層的絕對吸水量占全井的百分之五十二，為主力吸水層。