林漫亞

摘 要:本文針對某廠釉面磚在素燒、釉燒過程中產生周邊小裂紋,導致燒成合格率偏低的現象,從原料配方、釉料配方、成型方法、燒成幾方面進行了研究分析。實驗證明:導致周邊小裂紋產生的原因是該廠的窯爐溫度、氣氛及壓力未得到控制,溫度梯度過大,經過調整控制后問題得到解決。
關鍵詞:釉面磚;合格率;裂紋;溫度梯度
1 引言
隨著人們住房條件的改善,釉面磚的需求量越來越大,質量要求也越來越高。釉面磚的生產,燒成是一關鍵環節。某廠釉面磚燒成合格率偏低,素坯合格率僅70%,釉坯合格率在80%左右,且產品規格越大,合格率越低。針對此問題,本文從原料配方、釉料配方、成型方法以及燒成幾方面進行了分析探索,以期提高該廠產品的合
格率。
2 實驗原料
頁巖屬于沉積巖,該工廠附近蘊藏著大量的紫紅色和淺黃色兩種頁巖,即黃桷頁巖和大坡頁巖,且易于開采和加工。黃桷頁巖和大坡頁巖的原料化學組成如表1所示。
本實驗所用的坯料配方(wt%)為:黃桷頁巖80;大坡頁巖11;廢素坯9。其中廢素坯是該廠在生產過程中產生的不合格素坯。本實驗配方的化學成分如表2所示。
3 實驗工藝
3.1 實驗工藝流程
本實驗采用干法制粉,其工藝流程為:
粗碎(顎式破碎機)→細碎(反擊式粉碎機)→配料(稱量混合)→噴水造粒(輪碾機)→過篩→陳腐→成型→素燒→檢驗→上釉→釉燒→檢驗→包裝入庫。
3.2 實驗工藝參數
本實驗工藝參數為:反擊式粉碎機細碎粒度過80目篩;輪碾機造粒過14目篩;陳腐24~36 h;成型料水分7%±l%;素坯吸水率10%~12%;素燒溫度1080 ℃,釉燒溫度950 ℃。其中素燒在60 m輥道窯中進行,燒成周期50 min;釉燒在40 m輥道窯中進行,燒成周期30 min。
4 釉料配方及參數
4.1 釉料配方
本實驗釉料配方(wt%) 為:T4熔塊95;敘永土5。
4.2 工藝參數
本實驗所用釉料的工藝參數如下:
1) 釉料細度:萬孔篩余0.05%~0.1%;
2) 釉漿容重:1.5~1.6 g/cm3;
3) 施釉量:25~26 g/200 mm×200 mm方盤;
4) 施釉方式:淋釉。
5 實驗結果及分析
該廠利用上述坯、釉料配方和工藝參數,生產200 mm×200 mm規格釉面磚,結果燒成合格率偏低,素坯合格率70%左右,釉坯合格率為80%左右。而且產品規格越大,合格率更低。經統計分析,造成燒成合格率降低的原因,主要是磚面周邊產生小裂紋。為解決此問題,本文從坯、釉料配方、成型方法以及燒成幾方面著手,在原料和設備方面與其他廠家進行了對比實驗。研究分析步驟
如下:
(1)對原料配方進行研究,把制得的粉料運送到對比廠家進行成型、素燒。素燒合格率達到92%,說明可排除原料配方的問題;
(2)要求操作人員嚴格按照成型操作規則進行成型,生坯強度達到19.6 Pa以上,也可排除成型過程中設備和人為因素的影響;
(3)將對比廠家的同類粉料運送到該廠進行成型素燒,素燒合格率與本廠粉料生產的素坯相差無幾,據此,可認為窯爐是導致燒成合格率偏低的重要原因;
(4)將對比廠家的同類釉料按同樣的方式施在該廠素坯上,燒成合格率無明顯變化,也可排除由于該廠配方的坯釉料適應性不佳導致的釉裂。
經過上述對比實驗可得出如下結論:
素燒、釉燒后磚面周邊裂紋的產生,主要是燒成過程造成的。對窯爐進行分析研究后發現,該廠窯爐沒有對氣氛、壓力制度進行嚴格控制,只是依據以往生產152 mm×152 mm內墻磚時的經驗,而且溫度控制方面也只控制了最高燒成溫度,因此整條窯的溫度、氣氛、壓力制度幾乎處于失控狀態。經測試,窯內溫度沿縱向分布極不合理,在距燒成帶前4 m處的預熱帶溫度為500 ℃左右,而燒成帶溫度高達1080 ℃,從而造成窯內縱向的溫度梯度過大。坯體本應在預熱帶完成排除水分、氧化分解等過程,但這些反應在生坯運行到燒成帶才得以進行,高溫下坯體中的水分急劇汽化,導致水分排出不均勻,造成坯體中部與邊部產生應力而導致磚邊出現裂紋。
鑒于上述原因,為減小窯內的縱向溫度梯度,對窯爐進行如下調整:
1)將排煙風管彎頭部分由90°垂直連接改為弧線連接,減小阻力損失,使窯的零壓面前移,讓更多的熱量由燒成帶進入預熱帶,減小部分溫度梯度;
2) 增加燒成帶長度,使更多的熱量進入預熱帶;
3) 改變燒成帶和預熱帶底部的連接形式,使其由垂直過渡變為平緩過渡,讓燒成帶的溫度在比較小的阻力損失情形下進入預熱帶,減小溫度梯度。
6 結語
通過對窯爐內的溫度、氣氛與壓力制度進行調整優化,產品的素燒、釉燒合格率均得到大幅度提高,磚面周邊裂紋明顯減少,大大節約了生產成本,提高了該廠的生產效益。